一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，先建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数i0；然后根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿坯的左齿面的错位齿数i0；最后将齿坯翻转180°同时逆时针方向转过i0齿，再进行左齿面的精加工。本发明专利技术在被加工齿轮存在较大的齿距累积总偏差的情况下，通过确定并选择合适的错位齿数i0，使左右齿面的齿距累积误差曲线具有相同的变化趋势，仍可获得较小的齿圈径向跳动偏差。方法简便，效果明显，具有重要的工程应用价值。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于齿轮及齿轮刀具精密制造
，涉及一种在单面展成磨齿设备上提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺。
技术介绍
齿圈的径向跳动偏差^是齿轮非必检项目中最重要的精度指标之一。齿轮的磨削加工方法根据同时加工的齿面数可分为单面磨齿法和双面磨齿法。大平面砂轮磨齿机(Y7125、SRS405等)的工作原理属于单面展成磨齿法，先加工出齿轮的一侧同名齿面，然后将齿轮翻转180°，重新装夹后加工另一侧齿面。锥砂轮磨齿机和蜗杆砂轮磨齿机的工作原理属于双面展成磨齿法，一次装夹即可同时完成某一齿槽左右齿面的加工。采用单面展成磨齿法可以获得较高的磨齿精度，因此，高精度的标准齿轮和齿轮刀具的加工大多采用此方法。由齿轮国家标准GB/T 10095. 2-2008和齿轮国际标准IS01328-1:1997中关于齿圈 径向跳动偏差&的推荐公式(匕=O. 8 Fp)可知，同等级的齿圈径跳偏差Fr比齿轮齿距累积总偏差Fp的允许值要小20%。采用双面展成磨齿法加工的齿轮现齿圈的径跳偏差^ 一般小于齿距累积总偏差Fp。然而，采用单面展成磨齿法经常会出现齿圈的径跳偏差Fr大于齿距累积总偏差Fp的情况，致使齿轮的齿距累积总偏差Fp达到加工要求，而齿圈径向跳动Fr却超差，从而降低了齿轮的加工精度等级。在单面展成磨齿设备上提高齿圈径向跳动加工精度的磨齿工艺方面，未见有相关文献报道。
技术实现思路
为提高单面展成磨齿中被磨齿轮或齿轮刀具的齿圈径跳加工精度，本专利技术提供了一种错位磨齿工艺。本专利技术的技术方案如下齿圈的径向跳动偏差与齿轮的齿距累积总偏差有密切的关系。两者都是在齿高中截面分度圆附近测量。对于标准齿轮来说，可根据齿轮左右齿面的齿距累积总偏差公式计 _ /·,"(/)-/·；' (/ + I)算出某个齿槽的齿圈径向跳动公式，即:~…。90。、，式中，FpK(i)表示右齿面 2tan(20°+ )i齿的齿距累积总偏差齿；FpL(i+l)表不左齿面i+Ι齿的齿距累积总偏差；z表不齿数。齿圈的径向跳动F1 可表不为=F1=F1Xi)Uiax-F1^ (i)min。可见，齿圈径向跳动偏差是由齿轮左右齿面的齿距累积总偏差共同决定的。当齿轮左右齿面的齿距累积总偏差具有相同的趋势时，可以得到较小的齿圈径向跳动偏差；当齿轮左右齿面的齿距累积总偏差具有相反的趋势时，得到的齿圈径向跳动较大。因此，要提高齿圈径向跳动的加工精度，不仅要提高左右齿面各自的齿距累积加工精度，更重要的是选择合适的错位齿数，使两次加工后左右齿面的齿距累积总偏差具有相同的变化趋势。单面展成磨齿机的分度系统多为分度盘式分度系统。被磨齿轮或齿轮刀具的齿距累积总偏差主要来自分度盘的安装偏心误差％ (运动偏心)和齿坯的安装偏心误差er (几何偏心)。这两类偏心误差对齿距累积总偏差的影响均成一次谐波变化趋势。根据同频率的谐波曲线叠加频率不变的原则可知，由运动偏心和几何偏心引起的齿距累积总偏差可表示为—%)，式中，E表示叠加后正弦波的幅值，_表示叠加后正弦波的初始相位角。磨右齿面时,分度盘的齿槽跟齿还的齿序方向相同，分度盘与齿还的位置关系如图I所示。在对应于磨I齿右齿面的分度盘齿槽上打好标记Λ。将上式写成齿序的函数为权利要求1.一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，其特征包括以下步骤， (1)建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动 偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数id ； (2)根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿还的左齿面的错位齿数io ； (3)将齿坯翻转180°的同时，逆时针方向转过L齿，再进行左齿面的精加工。全文摘要一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，先建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数i0；然后根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿坯的左齿面的错位齿数i0；最后将齿坯翻转180°同时逆时针方向转过i0齿，再进行左齿面的精加工。本专利技术在被加工齿轮存在较大的齿距累积总偏差的情况下，通过确定并选择合适的错位齿数i0，使左右齿面的齿距累积误差曲线具有相同的变化趋势，仍可获得较小的齿圈径向跳动偏差。方法简便，效果明显，具有重要的工程应用价值。文档编号B23F5/02GK102896378SQ20121042222公开日2013年1月30日 申请日期2012年10月29日 优先权日2012年10月29日专利技术者凌四营, 王立鼎, 娄志峰, 马勇, 王晓东 申请人:大连理工大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，其特征包括以下步骤，(1)建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数i0；(2)根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿坯的左齿面的错位齿数i0；(3)将齿坯翻转180°的同时，逆时针方向转过i0齿，再进行左齿面的精加工。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：凌四营，王立鼎，娄志峰，马勇，王晓东，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：
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