对多传感器检测器的增益特性进行拼接的方法技术

本发明专利技术提供一种对多传感器检测器的增益特性进行拼接的方法，涉及X射线技术领域，即X射线图像的数字检测器，用于对多传感器检测器中各传感器的增益特性进行拼接和线性化。该方法基于对用于转换检测器传感器的输出信号强度的LUT函数的计算。作为应用上述转换LUT函数的结果，获得在测量精度范围内相同且线性的传感器增益特性。计算拼接用LUT函数的主要思想是，当X射线场沿检测器区域缓慢变化时，具有相同增益特性的任意两个相邻传感器的响应在这些传感器的连接处附近应该具有相似的值。本发明专利技术实现了在不均匀光照的条件下，即，在无需使用具有平面X射线场的辐射源的条件下，对多传感器检测器的增益特性进行拼接和线性化的方法。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种对多传感器检测器的增益特性进行拼接的方法，该方法包括：以渐增的辐射强度值获得沿检测器视野辐射强度均匀分布的N个校准图像；通过描述输出信号对输入信号值的相关关系的LUT来测量传感器响应；以及将测得的传感器响应线性化且拼接到从线性化后的响应中任意选择的一个响应，其特征在于，通过移动平均值计算，在所获得的检测器校准图像中沿相邻传感器的连接处累积传感器响应的M个值，为每对相邻传感器获得M×N个转换用LUT函数的集合，用于直接转换相邻传感器信号在边界处的值；对于检测器输出信号强度的整个动态范围，内插所获得的LUT转换函数，得到对相邻传感器进行拼接的M个LUT函数的集合；对于针对每个传感器获得的用于将其响应拼接到相邻传感器响应的LUT函数，进一步平均化；选择任意传感器的响应作为参照传感器响应，连续修正将传感器响应拼接到参照传感器响应的LUT函数，获得将传感器响应拼接到参照传感器响应的LUT函数，考虑前一传感器的拼接LUT函数地建立当前传感器的每一拼接LUT函数；算出对参照传感器响应进行线性化的线性化用LUT函数，通过使用所算出的线性化用LUT函数，连续修正拼接LUT函数，获得将检测器的传感器响应拼接到所选择的参照传感器线性化后的响应的最终 LUT函数。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：S·莫科里夫，
申请(专利权)人：伊姆普斯封闭式股份有限公司，
类型：发明
国别省市：