放射线检测装置和包括该放射线检测装置的检测系统制造方法及图纸

技术编号:8236726 阅读:166 留言:0更新日期:2013-01-24 11:41
本发明专利技术涉及放射线检测装置和包括该放射线检测装置的检测系统。该检测装置包括:驱动电路单元,在所述驱动电路单元中,为多个对应的驱动线提供了多个单元电路,每个单元电路包括第一电路和第二电路,所述第一电路根据启动信号将像素的开关元件的基于时钟信号中所包括的电压的导通电压供给驱动线,所述第二电路根据终止信号将所述开关元件的非导通电压供给驱动线;和控制单元,所述控制单元将所述时钟信号供给所述驱动电路单元。所述控制单元将控制电压供给所述多个单元电路,所述多个单元电路中的每个还包括第三电路,所述第三电路根据所述控制电压继续将非导通电压供给对应的驱动线。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种应用于医学图像诊断装置、非破坏性检查装置、使用放射线的分析装置等的放射线检测装置和检测系统。
技术介绍
在包括像素的阵列(像素阵列)的检测装置的制造中利用用于制造薄膜半导体的技术。特别是,在放射线检测装置中,诸如薄膜晶体管(TFT)的开关元件和诸如光电转换元件的转换元件组合在一起。在相关技术中,已知的是,例如,其上以150至200 μ m的间距按阵列布置像素的大小为43X43cm的基板用于制造放射线检测装置。在常规的放射线检测装置中,驱动电路通过驱动线以行为单位驱动像素阵列,读取电路通过信号线将来自被以行为单位驱动的像素阵列的彼此并行的信号输出作为串行信号。驱动电路和读取电路通常在由单晶娃构成的集成电路中被制备,并且随后使用玻璃上芯片(chip-on-glass)(CoG)技术被安装到基板上,以构造检测装置。在这样的检测装置中,目前,期望在相关技术中的基板的大小保持相同的同时像素的间距较小。更具体地讲,期待具有50至80μπι的间距的像素阵列。因此,将难以使用玻璃上芯片技术将在由单晶硅构成的集成电路中制备的驱动电路安装在其上设置有像素阵列的基板上。除了减小像素间距本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置,包括:像素阵列,在所述像素阵列中,多个像素按行和列的矩阵形式布置,每个像素包括转换元件和开关元件,所述转换元件将放射线或光转换为电荷,所述开关元件输出根据所述电荷的电信号;多个驱动线,每个驱动线与按行方向布置的多个开关元件连接;驱动电路单元,所述驱动电路单元被构造为包括对于多个对应的驱动线而设置的多个单元电路,所述多个单元电路被构造为将所述开关元件的导通电压和非导通电压供给所述多个对应的驱动线;和控制单元,所述控制单元被构造为将时钟信号供给所述驱动电路单元,所述时钟信号用于定义所述驱动电路单元将所述导通电压供给驱动线的定时,其中,所述导通电压是基于所述时钟信号的电压,其中,所述控...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:大藤将人望月千织渡边实横山启吾川锅润藤吉健太郎和山弘
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:

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