用于使用结构化照明经由单元件检测来分析浑浊介质的方法和设备技术

用于通过下述来获得一个或多个波长下的组织或浑浊介质的光学性质或结构的定性和定量分析的方法和设备：1）两个或更多结构化光条件下的浑浊介质（诸如组织）的表面上的单个空间位置处的检测或2）单个结构化光条件下的表面上的两个或更多空间位置处的检测。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：DJ库恰，
申请(专利权)人：调节成像公司，
类型：
国别省市：