密封装置内部多余物检测过程中基于摄像技术的多余物运动轨迹获取方法制造方法及图纸

密封装置内部多余物检测过程中基于摄像技术的多余物运动轨迹获取方法，本发明专利技术涉及图像处理的运动过程分析法领域。针对现有密封装置内部多余物检测技术领域中，没有对多余物微粒在检测过程中的运动轨迹进行检测的技术手段的问题，本方法结合现有多余物检测试验平台，通过高速摄像机对振动过程中透明密封腔体内的多余物进行拍摄，使用合适的图像增强算法对图像进行预处理，通过图像边缘检测技术提取多余物和腔体内壁的位置，基于运动学原理提取多余物的运动参数，并绘制多余物运动参数变化曲线，获得多余物运动轨迹。该方法适用于密封装置内部多余物运动轨迹的检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及运动过程分析领域，特别涉及图像处理的运动过程分析法。
技术介绍
多余物是影响军用电子元器件可靠性的主要因素之一。在航天继电器生产制造过程中，可能把一些金属屑、焊锡渣、松香、密封剂等多余物微粒封装在内。这些微粒极可能导致继电器触点间的短路(误导通)或断路(误开断)，也有可能导致继电器的电磁系统出现机构卡死等误动作，造成严重失效。由于继电器内部可移动多余物微粒造成运载火箭、卫 星、导弹、航天飞机的发射运行事故已多次发生，造成了无法估量的损失。目前国内外常用的多余物检测方法包括显微镜观察法、X光照相法、马特拉检测法及微粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection, PI ND)法等。其中，PIND法因其检测效率高、成本低廉的特点在国内外得到广泛应用，是很多国家规定的密封电子元器件出厂前的必做检测。大量生产应用实践都表明现行PIND试验方法存在一些不足之处。PIND试验条件是影响PIND检测效果的关键因素，不合适的试验条件可能无法有效激活继电器内部的多余物微粒造成漏判，也可能在继电器的结构部件上产生过大的应力，对继电器造成很大的潜在危害。目前本文档来自技高网...

【技术保护点】
密封装置内部多余物检测过程中基于摄像技术的多余物运动轨迹获取方法，其特征是，它包括以下步骤：步骤A1：将待测多余物试件放入密封腔体内部，该密封腔体采用透明材质，将该密封腔体固定在多余物测试系统的振动台上；步骤A2：调整摄像机，保证密封腔体在多余物测试系统的振动过程中始终在摄像机的视野内，保持摄像机的位置和姿态不变；步骤A3：启动多余物测试系统使振动台振动，设定振动时间，进行多余物检测实验；在多余物检测实验过程中，采用摄像机进行拍摄获得图像序列，所述图像序列中的图像均为RGB三色模式；步骤A4：将获得的图像序列中的每一幅图像进行Gamma校正和灰度处理，转换为2维模式的灰度图像序列；步骤A5：用...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王淑娟，王国涛，牛鹏飞，翟国富，刘贵栋，徐乐，陈金豹，邢通，戚乐，赵国强，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：