【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,属于光学检测领域。
技术介绍
高精度面形干涉检测一直是光学检测测试领域的热点和难点问题。为达到纳米级超高精度的面形检测,必须要对影响干涉仪检测精度的各种微小误差因素进行控制,其中检测结果中由环境随机噪声、CCD探测器电子噪声引入的随机噪声可通过滤波的方法滤除。常用的滤波方法有均值滤波、低通滤波、高通滤波和带通滤波等。均值滤波方法是以数据相邻点的算术平均值作为该点滤波后的值,这种方法原理简单可行,滤波速度快,但会丢失原始数据信息,不能保留原始数据细节;低通滤波、高通滤波、带通滤波等滤波方法都是基于傅里叶变换,保留或滤除特定空间频率的数据信息,这种滤波方法对分析数据中 不同频率的分布十分有效,但并不适用于滤除面形检测数据中的随机噪声。为了满足高精度面形检测中,对各种随机噪声的滤除,本专利技术提出了一种准确滤除随机噪声的滤波方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于为了解决高精度面形过程中,各种随机噪声对检测精度的影响,本专利技术提出了。本专利技术为了实现上述的目的采用的技术方案为,其包含以下步骤步骤I)、对于数据点(iQ,jQ),选取滤波窗口大小为(2n+l)X(2m+l),以数据点(i0, J0)为原点,并确定多次拟合函数阶数N,其中N < (2n+l) X (2m+l),对滤波窗口内的数据为对象,构建目标函数 n m 『-ψF —[/: . 1 ; , — ifl, + · I + u.2 * J ++ Q4 * I * J ++ …)j i n j m其中Pi,j为相对像素坐标为(i,j)的值,坐标原点为选取的数据点及._;;, ...
【技术保护点】
一种滤除干涉检测数据中随机噪声的滤波方法,其特征在于包含以下步骤:步骤1)、对于数据点(i0,j0),选取滤波窗口大小为(2n+1)×(2m+1),以数据点(i0,j0)为原点,并确定多次拟合函数阶数N,其中N<(2n+1)×(2m+1),对滤波窗口内的数据为对象,构建目标函数:F=Σi=-nnΣj=-mm[Pi0+i,j0+j-(a0+a1·i+a2·j+a3·i2+a4·i·j+a5·j2+···)]2;其中Pi,j为相对像素坐标为(i,j)的值,坐标原点为选取的数据点(a0,a1,a2,…,aN?1)为多项式系数;步骤2)、采用最小二乘法对滤波窗口内的数据进行多项式拟合,使目标函数最小,即i=0,1,2,…,N?1,得到超定方程组AX=B,其中,A=[A1?A2?A3?…?A(2n+1)(2m+1)]T,Ak=1iji·ii·jj&Cent ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:宋伟红,李世芳,侯溪,赵文川,吴高峰,徐燕,毛洁,吴永前,万勇建,
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所,
类型:发明
国别省市:
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