使用参考的体积分析传感器的物体检查制造技术

技术编号:8165504 阅读:167 留言:0更新日期:2013-01-08 12:21
该方法包括:提供至少一个具有多个传感器参考目标的体积分析传感器;提供这些传感器参考目标中的至少一些的一个图的一个传感器模型;在该物体和该物体的环境中的至少一者上提供多个物体参考目标;提供这些物体参考目标中的至少一些的一个图的一个物体模型;提供一个摄影测量系统,该摄影测量系统包括至少一个照相机,并且在一个视场中捕获至少一个图像,在该图像上这些传感器参考目标和这些物体参考目标的至少一部分是清晰的;确定一个传感器空间关系;确定一个物体空间关系;使用该物体空间关系和该传感器空间关系来确定该至少一个体积分析传感器相对于该物体的一个传感器-物体空间关系;重复这些步骤并且使用该传感器-物体空间关系来跟踪该体积分析传感器和该物体中的至少一者的位移。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体上涉及用体积分析传感器检查物体的定量非破坏性评估和试验的领域。·
技术介绍
非破坏性试验(NDT)和定量非破坏性评估(NDE)在过去20年间取得了巨大的发展,尤其是在新的感应系统和专门为物体检查而研发的程序中。防御与核能工业在NDT和NDE的出现中扮演了主要角色。在汽车制造业中看到的产品发展的不断增加的全球竞争也扮演了重要角色。同时,老化的基础设施,例如道路、桥梁、铁路或电厂,提出了新一轮的测量和监测挑战。测量系统已经改善并且研发了新的系统来进行表面下的测量或更普遍的体积测量。这些系统具有各种传感器形式,例如X射线、红外热成象法、涡电流和超声,这些是特性或裂缝的内体积测量形式的实例。此外,在过去数十年间,还研发了三维的非接触范围扫描器。那种类型的范围扫描器使检查物体外表面以评估其与参考模型的符合度或描绘一些裂缝成为可能。在更近的发展中,研发能够在物体截面上同时收集一组几个测量的紧凑传感器是非常重要的。为了在共同的坐标系中自动地配准测量的全部组,这些传感器安装在自动的机械臂或自动化系统上,以提供系统的位置和方向。即使在解决了准确性问题之后,仍然必须在固定的产业或实验室环本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:E·圣皮埃尔P·赫伯特C·莫尼
申请(专利权)人:形创有限公司
类型:
国别省市:

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