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该方法包括：提供至少一个具有多个传感器参考目标的体积分析传感器；提供这些传感器参考目标中的至少一些的一个图的一个传感器模型；在该物体和该物体的环境中的至少一者上提供多个物体参考目标；提供这些物体参考目标中的至少一些的一个图的一个物体模型；提...
该专利属于形创有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过形创有限公司授权不得商用。

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