基于无接触旋转磁码盘的直线位移测量装置及测量方法制造方法及图纸

技术编号:8189767 阅读:313 留言:0更新日期:2013-01-10 01:00
本发明专利技术涉及用于计量长度的测量装置,公开一种基于无接触旋转磁码盘的直线位移测量装置,包括:支撑座,设置在支撑座上的直线往复运动部分和角度测量部分;所述的直线往复运动部分包括:固定在支撑座一侧上的驱动电机,固定在支撑座端部的回转座,连接驱动电机同步带轮和回转座的驱动同步带,以及与驱动同步带固结的滑块;所述角度测量部分包括:固定在支撑座另一侧上的无接触旋转磁码装置,与驱动电机转轴固定的随动小带轮,连接无接触旋转磁码装置和随动小带轮的随动同步带。采用本发明专利技术的有益效果是:将直线传动部分和位移测量部分独立分开,减小了安装尺寸,保证了系统的紧凑性。本发明专利技术还提供一种上述直线位移测量装置的测量方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于计量长度的測量装置,尤其涉及ー种基于无接触旋转磁码盘的直线位移測量装置及測量方法。
技术介绍
目前,现有的直线位移测量大多是采用基于光敏和磁敏信号的光栅来完成,或者是基于差分变压器或者滑线变阻器的原理来实现。而在ー些人机交互用机械装置中,往往需要进行ー些机械位移測量,尤其是ー些具有特殊功能的模拟教学培训设备中,对设备的整体的集成度要求比较高,这类设备的尺寸往往被限制在ー个狭小的空间,留给位移传感器的安装和接线的位置基本没有,而上述类型的直线位移传感器往往尺寸较大、对安装及几何尺寸要求要搞,因此大多满足不了要求。比如现有机床导轨位移的測量往往采用光栅尺,半导体行业的微距的测量会采用差分变压器式直线位移传感器。 一篇为“回转式直线位移传感器”(申请号201020689634. X)的中国专利也采用了上述类似的将直线位移的測量转换为回转角度测量的方式,其測量位移在500mm左右,若是测量的绝对位移较大时,则对带轮的直径要求很大,占用空间多。
技术实现思路
针对现有技术的缺陷,本专利技术的目的在于提供ー种结构紧凑、安装尺寸小、測量精度高的基于无接触旋转磁码盘的直线位移測量装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于无接触旋转磁码盘的直线位移测量装置,包括:支撑座,设置在支撑座上的直线往复运动部分和角度测量部分;其特征在于,所述直线往复运动部分包括:固定在支撑座上的驱动电机,固定在支撑座端部的回转座,连接驱动电机同步带轮和回转座的驱动同步带,以及通过压紧块、连接件与驱动同步带固结的滑块;所述角度测量部分包括:固定在支撑座上的无接触旋转磁码装置,与驱动电机转轴固定的随动小带轮,连接无接触旋转磁码装置和随动小带轮的随动同步带。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:秦磊王书付杨振九
申请(专利权)人:佛山市金天皓科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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