ZnS纳米晶半导体前驱薄膜或半导体薄膜的电化学制备方法技术

技术编号:8188437 阅读:221 留言:0更新日期:2013-01-10 00:05
本发明专利技术涉及ZnS纳米晶半导体前驱体薄膜或半导体薄膜的电化学制备方法,电解液含有摩尔比为(15-20):(15-25):(0.2-0.8):(0.3+0.1)的Zn2+,S2O32-,表面活性剂、SO32-,并含有氯化锂,电解液的pH值介于2.5-4.5之间;然后利用恒电流法或恒电位法,实现Zn、S二元素的共析结晶,生成纯净的六方相或立方相结构的ZnS前驱体薄膜。而后将所得前躯体薄膜在惰性气氛保护条件下于250-500℃下恒温一段时间,均得到纯净的高取向性的结晶性更好的立方相ZnS纳米晶半导体薄膜。本发明专利技术所提供的方法可控性强,重复性好,所制备的ZnS纳米晶半导体薄膜无杂质,适用于薄膜太阳能电池的窗口层材料。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
ZnS纳米晶半导体前躯体薄膜的电化学制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)配制电解液:所述的电解液含有摩尔比为(15?20):(15?25):(0.2?0.8):(0.3+0.1)的Zn2+,S2O32?,表面活性剂、SO32?,并含有氯化锂(LiCl),电解液的pH值介于2.5?4.5之间;(2)在步骤(1)配制好的溶液中利用恒电流或者恒电位沉积技术电沉积制备ZnS前驱体薄膜,恒电流的电流密度在8?12?mA·cm?2之间,电沉积的温度控制在20?50℃之间;恒电位的电位控制在相对于饱和甘汞电极?1.0?+?0.1V之间,电沉积的温度控制在20?50℃之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王峰徐新花李志林刘景军吉静
申请(专利权)人:北京化工大学
类型:发明
国别省市:

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