【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种测试装置，特别涉及一种电子产品通电测试用的探针测试装置。
技术介绍
随着电子产品微型化程度不断提高，电子产品的结构尺寸越来越小，且表面形状不规则，给生产，组装，测试带来极大的困难和不便。现有ー电子产品，要求在短时间内对该电子产品的16个点位进行通电测试，电子产品测试点位不碰面，其中14个点位处于垂直面上，2个点位处于斜面上，测试采用测试 探针插接测试点位的方式来实现电子产品测试点位与控制器之间的连接，由于电子产品本身体积小，测试点位多且不平面、不共面，测试点位周围其他电子元器件密集，为防止测试探针与其他电子元器件发生干渉，测试探针需垂直插接于测试点位中，同时，需确保短时间内，每个测试点位均有电流通过，在没有辅助设备的情况下很难完成此项测试作业，因此，现有技术中广泛使用探针测试装置来连接产品测试点位以实现快速测试，然而现有技术中的探针测试装置只能实现单方向面上的测试点位的快速插接，对于与该方向面相邻的且成一定夹角的斜面上的2个测试点位无法完成插接，测试操作时，垂直面上的14个测试点位可由探针测试装置来进行插接，斜面上的2个测试点位需由操作人员手动插接...
【技术保护点】
一种探针测试装置，其特征在于，包括基座、固设于所述基座一端的产品载具，及固设于所述基座另一端的水平气缸，所述水平气缸的缸体上连接有第一探针组，所述第一探针组通过一倾斜垫块连接有一倾斜气缸，所述倾斜气缸的缸体上连接有第二探针组，所述第一探针组包括水平探针，所述第二探针组包括倾斜探针。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙丰，
申请(专利权)人：苏州赛腾精密电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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