一种新型漏光测试架制造技术

技术编号:8147675 阅读:302 留言:0更新日期:2012-12-28 16:30
本实用新型专利技术公开了一种新型漏光测试架,包括测试架底座和可旋转载物平台,所述可旋转载物平台设置于测试架底座上;所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座,所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接,所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。本实用新型专利技术结构简单,安装方便,可方便实现CCD对待测物的多角度测量,有效提高了工作效率及测量准度。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种新型漏光测试架
技术介绍
现有的漏光测试架无法通过本装置对被测物进行多角度的测试,需要借助外部装置进行角度调整,这样不仅是检测时间变长,影响工作效率,且对检测数据的精确度有影响。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单且方便测试的新型漏光测试架。为实现上述技术目的,本技术采用了如下技术方案ー种新型漏光测试架,包括测试架底座和可旋转载物平台,所述可旋转载物平台设置于测试架底座上;所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座,所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接,所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。优选的,所述连接块下端两侧均设有复数个卡台,该复数个卡台与所述旋转支撑柱上端设置的卡槽配合。优选的,所述载物台底座下表面设置有导滑块,该导滑块与所述测试架底座设置的导滑槽配合。其中,卡台与卡槽配合,可实现载物板在垂直方向上15°的转动。与现有技术相比,本技术的有益效果在于结构简单,安装方便,可方便实现CCD对待测物的多角度测量,有效提高了工作效率及测量准度。附图说明图I是本技术一较佳实施例新型漏光测试架的结构示意图。具体实施方式參阅图1,该新型漏光测试架包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型漏光测试架,包括测试架底座,其特征在于,它还包括可旋转载物平台,所述可旋转载物平台设置于测试架底座上;所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座,所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接,所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:许照林
申请(专利权)人:苏州富鑫林光电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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