一种新型漏光测试架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种新型漏光测试架，包括测试架底座和可旋转载物平台，所述可旋转载物平台设置于测试架底座上；所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座，所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接，所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。本实用新型专利技术结构简单，安装方便，可方便实现CCD对待测物的多角度测量，有效提高了工作效率及测量准度。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种新型漏光测试架。
技术介绍
现有的漏光测试架无法通过本装置对被测物进行多角度的测试，需要借助外部装置进行角度调整，这样不仅是检测时间变长，影响工作效率，且对检测数据的精确度有影响。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单且方便测试的新型漏光测试架。为实现上述技术目的，本技术采用了如下技术方案ー种新型漏光测试架，包括测试架底座和可旋转载物平台，所述可旋转载物平台设置于测试架底座上；所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座，所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接，所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。优选的，所述连接块下端两侧均设有复数个卡台，该复数个卡台与所述旋转支撑柱上端设置的卡槽配合。优选的，所述载物台底座下表面设置有导滑块，该导滑块与所述测试架底座设置的导滑槽配合。其中，卡台与卡槽配合，可实现载物板在垂直方向上15°的转动。与现有技术相比，本技术的有益效果在于结构简单，安装方便，可方便实现CCD对待测物的多角度测量，有效提高了工作效率及测量准度。附图说明图I是本技术一较佳实施例新型漏光测试架的结构示意图。具体实施方式參阅图1，该新型漏光测试架包括载物板1，连接块2，旋转支撑柱3，载物台底座4，测试架底座5 ;载物板I经连接块2与旋转支撑柱3上端连接，旋转支撑柱3下端与载物台底座4连接，载物台底座4与测试架底座5，其中连接块2下端两侧均设有复数个卡台，该复数个卡台与旋转支撑柱3上端设置的卡槽配合，使载物板I在垂直方向有15°的转动角度；优选的载物台底座4下表面设置有导滑块6，导滑块6与测试架底座5设置的导滑槽7配合，这种设置可有效调节装置的位置，从而到达最佳的检测角度。以上仅是本技术的具体应用范例，对本技术的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本技术权利保护范围之内。权利要求1.ー种新型漏光测试架，包括测试架底座，其特征在于，它还包括可旋转载物平台，所述可旋转载物平台设置于测试架底座上；所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座，所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接，所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。2.根据权利要求I所述的新型漏光测试架，其特征在于，所述连接块下端两侧均设有复数个卡台，该复数个卡台与所述旋转支撑柱上端设置的卡槽配合。3.根据权利要求I所述的新型漏光测试架，其特征在于，所述载物台底座下表面设置有导滑块，该导滑块与所述测试架底座设置的导滑槽配合。专利摘要本技术公开了一种新型漏光测试架，包括测试架底座和可旋转载物平台，所述可旋转载物平台设置于测试架底座上；所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座，所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接，所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。本技术结构简单，安装方便，可方便实现CCD对待测物的多角度测量，有效提高了工作效率及测量准度。文档编号G01D11/00GK202630989SQ20122025125公开日2012年12月26日 申请日期2012年5月31日 优先权日2012年5月31日专利技术者许照林 申请人:苏州富鑫林光电科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型漏光测试架，包括测试架底座，其特征在于，它还包括可旋转载物平台，所述可旋转载物平台设置于测试架底座上；所述可旋转载物平台包括载物板、连接块、旋转支撑柱和载物台底座，所述载物板经连接块与旋转支撑柱上端连接，所述旋转支撑柱下端与载物台底座连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：许照林，
申请(专利权)人：苏州富鑫林光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：