【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片角度测试器
，具体涉及一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器。技术背景在中国电信“光网城市，宽带中国”带动下，根据“十二五”规划中的宽带建设规划，光通信投资成为“十二五”期间的主题之一。光通信行业将会明显受益于运营商资本性支出结构性倾斜，光通信产业在“十二五”期间将有爆发性的增长。今年以来，国内三大运营商都加大了在接入网方面的建设投入，尤其是在FTTx的大规模建设浪潮下，进行了大规模光分配系统设备的集采。光分路器作为光分配系统设备中的核心组件，三家运营商的总采购量在这几年一直保持着快速的增长。据悉中国联通今年集采了 22万件的光分路器设备， 总计I亿多人民币，而中国移动今年的光分路器集采公告也已发布。随着运营商集采力度的增强及采购量的增加，光分路器的价格势必会逐渐降低。那么在保证这种电信级产品品质的前提下，如何降低成本是光分路器生产厂家所需要考虑的重要环节。作为电信级的器件，国家标准对光分路器的测试项目进行了详细的规范和定义，这些测试项目中最为重要的项目有插入损耗(IL)指标的测试；回波损耗(RL)指标的测试；偏振相关损耗(TOL)指标的测试。而芯片角度的检测对于插入损耗和回波损耗的指标有着非常重要的影响。传统的检测方法是将磨好角度的条状芯片切割成单颗芯片后进行角度检测，不仅耗费检测的时间，而且对于出现不良情况，返修效率极低，更可能出现因切割导致角度不良而无法检测的情况
技术实现思路
本技术的目的是提供一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器，它减少每颗芯片角度的检测时间和返工时间，从而起到降低成本提高质量的作用。为了解决
技术介绍
所存在...
【技术保护点】
一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器，其特征在于它包含检测探头底座(1)、滑轨(2)、产品设置底座(3)、探头装配箱(4)、红光探头(5)和产品手动平台(6)；检测探头底座(1)中部与产品设置底座(3)垂直连接，且检测探头底座(1)与产品设置底座(3)上均设置有滑轨(2)，且检测探头底座(1)和产品设置底座(3)上通过滑轨(2)分别设置有探头装配箱(4)和产品手动平台(6)，探头装配箱(4)与产品手动平台(6)相对的一侧设置有红光探头(5)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄望隆，
申请(专利权)人：武汉驿路通光讯有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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