一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器制造技术

一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器，它涉及芯片角度测试器技术领域，具体涉及一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器。检测探头底座(1)中部与产品设置底座(3)垂直连接，且检测探头底座(1)与产品设置底座(3)上均设置有滑轨(2)，且检测探头底座(1)和产品设置底座(3)上通过滑轨(2)分别设置有探头装配箱(4)和产品手动平台(6)，探头装配箱(4)与产品手动平台(6)相对的一侧设置有红光探头(5)。它减少每颗芯片角度的检测时间和返工时间，从而起到降低成本提高质量的作用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片角度测试器
，具体涉及一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器。技术背景在中国电信“光网城市，宽带中国”带动下，根据“十二五”规划中的宽带建设规划，光通信投资成为“十二五”期间的主题之一。光通信行业将会明显受益于运营商资本性支出结构性倾斜，光通信产业在“十二五”期间将有爆发性的增长。今年以来，国内三大运营商都加大了在接入网方面的建设投入，尤其是在FTTx的大规模建设浪潮下，进行了大规模光分配系统设备的集采。光分路器作为光分配系统设备中的核心组件，三家运营商的总采购量在这几年一直保持着快速的增长。据悉中国联通今年集采了 22万件的光分路器设备， 总计I亿多人民币，而中国移动今年的光分路器集采公告也已发布。随着运营商集采力度的增强及采购量的增加，光分路器的价格势必会逐渐降低。那么在保证这种电信级产品品质的前提下，如何降低成本是光分路器生产厂家所需要考虑的重要环节。作为电信级的器件，国家标准对光分路器的测试项目进行了详细的规范和定义，这些测试项目中最为重要的项目有插入损耗(IL)指标的测试；回波损耗(RL)指标的测试；偏振相关损耗(TOL)指标的测试。而芯片角度的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高效率平面波导光分路器芯片角度测试器，其特征在于它包含检测探头底座(1)、滑轨(2)、产品设置底座(3)、探头装配箱(4)、红光探头(5)和产品手动平台(6)；检测探头底座(1)中部与产品设置底座(3)垂直连接，且检测探头底座(1)与产品设置底座(3)上均设置有滑轨(2)，且检测探头底座(1)和产品设置底座(3)上通过滑轨(2)分别设置有探头装配箱(4)和产品手动平台(6)，探头装配箱(4)与产品手动平台(6)相对的一侧设置有红光探头(5)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄望隆，
申请(专利权)人：武汉驿路通光讯有限公司，
类型：实用新型
国别省市：