一种新型的光分路器测试装置制造方法及图纸

一种新型的光分路器测试装置，它涉及光分路器测试技术领域，具体涉及一种新型的光分路器测试装置。光源(1)与第一光开关(2)连接，第一光开关(2)与第二光开关(3)连接，第二光开关(3)分别连接PDL控制器(4)和PLC控制器(12)连接，PDL控制器(4)与第三光开关(5)连接，第三光开关(5)与左侧耦合器(7)连接，左侧耦合器(7)同时连接双通道功率计(6)和被测件(8)的一端，被测件(8)另一端与耦合器组(9)连接，耦合器组(9)同时连接八通道功率计(10)和PLC控制器(12)。它将多种测试项目合并进行测试，减少单支器件产品的测试时间，从而起到大幅度降低成本的作用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种新型的光分路器测试装置，其特征在于它包含光源(1)、第一光开关(2)、第二光开关(3)、PDL控制器(4)、第三光开关(5)、双通道功率计(6)、左侧耦合器(7)、被测件(8)、耦合器组(9)、八通道功率计(10)和PLC控制器(12)；光源(1)与第一光开关(2)连接，第一光开关(2)与第二光开关(3)连接，第二光开关(3)分别连接PDL控制器(4)和PLC控制器(12)连接，PDL控制器(4)与第三光开关(5)连接，第三光开关(5)与左侧耦合器(7)连接，左侧耦合器(7)同时连接双通道功率计(6)和被测件(8)的一端，被测件(8)另一端与耦合器组(9)连接，耦合器组(9)同时连接八通道功率计(10)和PLC控制器(12)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丹，黄望隆，
申请(专利权)人：武汉驿路通光讯有限公司，
类型：实用新型
国别省市：