深孔垂直度激光测量系统及测量方法技术方案

一种深孔垂直度激光测量系统，包含手持垂直支座；激光发射器，其设置在手持垂直支座的内部，且其前端发射头露出在手持垂直支座外；激光发射器的前端发射头插入被测深孔的一端内，使手持垂直支座与被测基准面相接触；过渡套，其设置在被测深孔的另一端内；激光位置检测装置，其设置在过渡套内；该激光位置检测装置包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源，激光接收器接收由激光发射器发射出的准直激光，并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。本发明专利技术还提供一种深孔垂直度激光测量方法。本发明专利技术能便捷高效精准地测量被测深孔相对于基准面的垂直度，且被测深孔的深度将不受测量系统尺寸的限制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种深孔垂直度的测量系统和测量方法，尤其是指利用激光对深孔垂直度进行测量的系统和方法；属于测量

技术介绍
核电蒸汽发生器的管板直径为Φ3000 Φ5000mm，厚度为600 900mm，需以核电蒸汽发生器管板一侧平面为基准，测量该核电蒸汽发生器管板上的各深孔相对于基准面的垂直度。深孔垂直度的偏差将直接影响之后支撑板的安装，及在近万个矩形排列的管孔内能否顺利、准确地穿过长达十几米的U型管束。 传统的深孔垂直度测量方法采用芯棒模拟中心轴线，需要先测量被测孔的孔径，然后按孔径尺寸加工与之配合的芯棒，再将芯棒插入被测孔中，通过测量芯棒可得到被测孔中心轴线。若被测孔尺寸较小或孔深很深时，制作芯棒的难度就会非常大，造成成本大量提闻。另外，现有技术中也有利用三坐标进行测量的方法，该方法需要购置大型三坐标，成本很高，而且受场地等条件的限制较大。综合上述，现有技术中对深孔垂直度的测量具有以下限制和缺陷。I、人为读取测量数据，误差较大，导致测量精度和测量效率均较低。2、现有技术采用芯棒模拟基准中心轴线和被测孔中心轴线，导致被测孔的测量长度受到芯棒长度的限制，无法方便快捷的实现对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，包含：手持垂直支座（1）；激光发射器（2），其发射准直激光，该准直激光的轴线与激光发射器（2）的外圆同轴；所述激光发射器（2）设置在所述手持垂直支座（1）的内部，且该激光发射器（2）的前端发射头（21）露出在手持垂直支座（1）外；所述激光发射器（2）的前端发射头（21）插入被测深孔（6）的一端内，使所述手持垂直支座（1）与被测基准面（7）相接触；过渡套（4），其设置在被测深孔（6）的另一端内；激光位置检测装置（3），其设置在所述过渡套（4）内；该激光位置检测装置（3）包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源，所述激光接收器接收由激光发射器（2）发射出的...

【技术特征摘要】
1.一种深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，包含 手持垂直支座(I); 激光发射器(2)，其发射准直激光，该准直激光的轴线与激光发射器(2)的外圆同轴；所述激光发射器(2 )设置在所述手持垂直支座(I)的内部，且该激光发射器(2 )的前端发射头(21)露出在手持垂直支座(I)外；所述激光发射器(2 )的前端发射头(21)插入被测深孔(6)的一端内，使所述手持垂直支座(I)与被测基准面(7)相接触； 过渡套(4)，其设置在被测深孔(6)的另一端内； 激光位置检测装置(3)，其设置在所述过渡套(4)内；该激光位置检测装置(3)包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源，所述激光接收器接收由激光发射器(2)发射出的准直激光，并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。2.如权利要求I所述的深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，所述激光发射器(2)的前端发射头(21)呈锥体状。3.如权利要求I所述的深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，所述激光发射器(2)的底端设置有两侧凸出的卡扣板(22 )。4.如权利要求3所述的深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，所述手持垂直支座(I)呈T字形，包含相互垂直设置的支座座身(11)和支座基准板(12)。5.如权利要求4所述的深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，所述支座座身(11)的底端设置有限位板(15)、弹簧后盖(14)以及一端固定连接在所述弹簧后盖(14)上的限位弹簧(13);所述激光发射器(2)设置在手持垂直支座(I)的支座座身(11)内，所述卡扣板(22)与限位板(15)相互卡扣以固定激光发射器(2)的设置位置，旋紧所述弹簧后盖(14)，将限位弹簧(13)顶住激光发射器(2)的底端卡扣板(22)。6.如权利要求4所述的深孔垂直度激光测量系统，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘来魁，谈文龙，王飞，王威，
申请(专利权)人：上海电气核电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：