一种基于荧光共振能量转移的超分辨成像方法技术

本发明专利技术公开了一种基于荧光共振能量转移的超分辨成像方法，所述超分辨成像方法包括以下步骤：1)用高FRET效率的荧光探针标记待检样品，所述的高FRET效率的荧光探针标记有FRET分子对，所述的FRET分子对包括第一荧光基团(供体)和第二荧光基团(受体)，第一荧光基团能够向第二荧光基团发生荧光共振能量转移(FRET)；2)采用激发光强度能够使步骤1)所述的FRET分子对发生荧光共振能量转移的激发光阈值，进行激光扫描共聚焦显微镜成像。本发明专利技术所述基于饱和荧光共振能量转移的超分辨技术能够在一台普通的激光共聚焦显微镜上实现对生物样品的超分辨成像，该方法分辨率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于超分辨成像
，特别涉及一种基于荧光共振能量转移(FRET，Fluorescence Resonance Energy Transfer)的超分辨成像方法。
技术介绍
现代生命科学中的许多重大研究成果都依赖于显微成像技术的进步，然而很长时间以来人们一直认为光学显微镜能达到的极限分辨率大约为光波长的一半200纳米左右。直到20世纪90年代初，随着光学领域中一系列新技术的出现才打破光学衍射极限，将光学显微镜的分辨率提高到数十纳米。超分辨成像技术的基础主要借助于各种非线性光学效应。1991年康乃尔大学的一个研究组实现了多光子荧光成像技术，成为利用非线性光学效应进行显微成像的一个先驱 性的工作，多光子荧光显微镜实现了光学衍射极限的超越，但是由于多光子荧光激发过程必须采取更长的激发光波长，因此最后所能达到的实际分辨率与单光子激发技术相比反而有所下降。在原理上彻底突破光学衍射极限的远场光学成像技术是1994年由Stefan Hell提出的 STED(stimulated emission depletion microscopy)受激发射损耗显微术。超分辨成像技术的三维分辨率本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于荧光共振能量转移的超分辨成像方法，其特征在于，包括以下步骤：1)用高FRET效率的荧光探针标记待检样品，所述的高FRET效率的荧光探针标记有FRET分子对，所述的FRET分子对包括第一荧光基团(供体)和第二荧光基团(受体)，第一荧光基团能够向第二荧光基团发生荧光共振能量转移(FRET)；2)采用激发光强度能够使步骤1)所述的FRET分子对发生荧光共振能量转移的激发光阈值，进行激光扫描共聚焦显微镜成像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：樊春海，黄庆，程亚，陈建芳，邓素辉，梁乐，
申请(专利权)人：中国科学院上海应用物理研究所，
类型：发明
国别省市：