X荧光测量杯卡环取出器及其配套使用的X荧光测量杯制造技术

本实用新型专利技术涉及X荧光测量仪的一种配套装置，具体来说是涉及X荧光测量杯卡环取出器及其配套使用的X荧光测量杯。针对目前X荧光测量杯卡环取出中操作复杂，对测量杯及卡环易造成损坏的问题，提供了一种X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述的X荧光测量杯卡环取出器主要包括支架和撬棒，所述支架包括圆形底座及位于底座两侧的支撑杆，所述支撑杆上设置有转轴，转轴穿过撬棒，将撬棒可旋转固定于支架上，所述撬棒包括转动杆和受力杆，所述转动杆与受力杆之间呈一钝角，所述转动杆上设置有用于转轴穿过的插入孔。在保证测量准确性和精确性的前提下，极大的方便了卡环的取出，同时由于减少了硬物对卡环和测量杯的接触，所以一定程度上起到保护卡环和测量杯的作用。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及X荧光测量仪的一种配套装置，具体来说是涉及X荧光测量杯卡环取出器。
技术介绍
X荧光光谱仪的测量杯是用来测定熔片各组分含量的。测量杯内部的塑料卡环是用来固定熔片位置的，使得测定过程中，熔片受到塑料卡环的限定，不能随意晃动，从而保证测量结果的准确性。测完之后，必须首先松动卡环，然后取出测定过的熔片，再依次放入其他带测定熔片进行测定。因此，需要不断的重复卡环的拿出和安装程序。然而由于目前人工取出卡环没有专门的工具，往往都是借助于坚硬的物件，从测量杯的上部插入测量杯与卡环之间的缝隙，强行将卡环撬起，由于测量杯与卡环之间的缝隙比较小，物体的插入和施力都比较困难，所以造成卡环的拿取安装过程不仅即费时而且费力。同时由于卡环的材 质比较软，所以容易受到坚硬物体的损坏，同时测量杯的内表面在操作中也极容易损坏，由于测量杯在测量过程中非常重要，其完整度也直接影响测量结果的精确性，所以找到一种简单、方便，更重要是对测量杯和卡环本身无损伤的卡环取出器成为测量技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术针对目前X荧光测量杯卡环取出中操作复杂，对测量杯及卡环易造成损坏的问题，提供了一种X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述的X荧光测量杯卡环取出器主要包括支架和撬棒，所述支架包括圆形底座及位于底座两侧的支撑杆，所述支撑杆上设置有转轴，转轴穿过撬棒，将撬棒可旋转固定于支架上，所述撬棒包括转动杆和受力杆，所述转动杆与受力杆之间呈一钝角，所述转动杆上设置有用于转轴穿过的插入孔。将安装有卡环的X荧光测量杯竖直放入支架的圆形底座上，这个过程当中由于测量杯本身的作用，将可旋转固定于支架上的撬棒挤开，撬棒由于受到自身固定位置的限制，有回复到自身初始位置的趋势，由于在测量杯的底部设置了通孔，所以撬棒卡入通孔，并且进一步向上弹起，进而将卡环顶出测量杯。作为本技术的改进，所述转轴上还设置有阻尼件。由于引入了阻尼件这一弹性构件，所以当撬棒被挤开后，其回复力增大，更加有利于卡环的顶出。作为本技术的所述受力杆顶端为扁平状。将受力杆的顶端设置成扁平状，从而当受力杆和卡环接触时，其接触面积增大，由点施力变成了面施力，对卡环的作用强度增大，更容易将卡环取出。作为本技术更进一步的改进，所述转动杆与受力杆之间呈100° 150°由于转动杆与受力杆之间的角度直接影响着整个撬棒对卡环的作用力大小，不论角度过小还是过大，都会使得撬棒对卡环的作用力减小，增加操作难度。作为本技术的更进一步的改进，所述转动杆与受力杆之间呈120°。经过大量的实验操作，本申请专利技术人发现当转动杆与受力杆之间的角度为120°时撬棒的作用效果最为优选。作为本技术的另一改进，所述圆形底座上表面还设置有凹槽，所述凹槽与X荧光测量杯的地面相适配。由于在圆形底座上增设了凹槽这一结构，所以X荧光测量杯可以很方便的放置在圆形底座内，保证了撬棒操作时，X荧光测量杯的稳定性。作为配套使用的测量杯，本技术还公开了一种区别于现有技术的X荧光测量杯，所述X荧光测量杯的底部设置有通孔，所述通孔与受力杆的顶端相互适配。从而可以允许撬棒穿过测量杯，作用于卡环。同时这一通孔并不会影响X荧光色谱仪对熔片的测量结果，保证了测量的精确性和准确性。综上所述，采用本技术所公开的技术方案后，在保证测量准确性和精确性的前提下，极大的方便了卡环的取出，同时由于减少了硬物对卡环和测量杯的接触，所以一定程度上起到保护卡环和测量杯的作用。·附图说明图I为X荧光测量杯卡环取出器使用状态图；图2为X荧光测量杯卡环取出器侧视图；图3为X荧光测量杯卡环取出器中撬棒局部放大图；其中0_测量杯、I-支架、1-1-支撑杆、1-2-转轴、1-3-圆形底座、1-4-凹槽、2-撬棒、2_1_转动杆、2_2_受:力杆、2_3_插入孔、4、阻尼件、5_卡环。具体实施方式实施例I如图I所示，将测量杯O放置在圆形底座1-3上面，由于撬棒2借助转轴1-2可旋转的固定于支架I的支撑杆1-1上，撬棒2上的插入孔2-3使得转轴1-2可以穿过，如图2和图3所示，所以在测量杯O放置的过程中，撬棒2旋转，偏离原来的初始位置，当测量杯O完全放置好后，撬棒2本身的回复力，促使其向上抬起，当其向上抬起到测量杯O底部的通孔(图中未示出)时，受力杆2-2从通孔进入测量杯O内部，并接触固定于其内部的卡环5，此时，转动杆2-1继续向上抬起，由于受力杆2-2与卡环5已经卡紧了，所以在受力杆2-2的作用下，卡环5被顶起，从而完成了卡环5的取出。在这个过程当中，由于转动杆2-1与受力杆2-2之间存在有钝角，特别是100° 150°，更优选的为120°夹角，如图3所示，所以受力杆2-2可以很方便的插入到测量杯O底部的通孔内，而不影响转动杆2-1的正常作用。当然，在本实施例中还特别引入了阻尼件4，也就是缠绕于转轴2上面的螺旋簧，从而在撬棒2的回复过程中，回复力更大，对卡环的顶出效果更好。同时，在本实施例中还可以看到，在支架I的圆形底座1-3上还设置了凹槽1-4，从而当测量杯O放入时，可以卡入凹槽1-4内，凹槽起到对测量杯O的固定作用，防止其在撬棒2作用时发生偏移，更加有利于卡环的取出。权利要求1.X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述的X荧光测量杯卡环取出器主要包括支架和撬棒，所述支架包括圆形底座及位于底座两侧的支撑杆，所述支撑杆上设置有转轴，转轴穿过撬棒，将撬棒可旋转固定于支架上，所述撬棒包括转动杆和受力杆，所述转动杆与受力杆之间呈一钝角，所述转动杆上设置有用于转轴穿过的插入孔。2.如权利要求I所述的X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述转轴上还设置有阻尼件。3.如权利要求I所述的X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述受力杆顶端为扁平状。4.如权利要求I所述的X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述转动杆与受力杆之间呈 100° 150°。5.如权利要求4所述的X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述转动杆与受力杆之间呈 120。。6.如权利要求I所述的X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述圆形底座上表面还设置有凹槽，所述凹槽与X荧光测量杯的地面相适配。7.与权利要求I至6中任意一项所述的X荧光测量杯卡环取出器配套使用的X荧光测量杯，其特征在于所述X荧光测量杯的底部设置有通孔，所述通孔与受力杆的顶端相互适配。专利摘要本技术涉及X荧光测量仪的一种配套装置，具体来说是涉及X荧光测量杯卡环取出器及其配套使用的X荧光测量杯。针对目前X荧光测量杯卡环取出中操作复杂，对测量杯及卡环易造成损坏的问题，提供了一种X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述的X荧光测量杯卡环取出器主要包括支架和撬棒，所述支架包括圆形底座及位于底座两侧的支撑杆，所述支撑杆上设置有转轴，转轴穿过撬棒，将撬棒可旋转固定于支架上，所述撬棒包括转动杆和受力杆，所述转动杆与受力杆之间呈一钝角，所述转动杆上设置有用于转轴穿过的插入孔。在保证测量准确性和精确性的前提下，极大的方便了卡环的取出，同时由于减少了硬物对卡环和测量杯的接触，所以一定程度上起到保护卡环和测量杯的作用。文档编号G01N23/223GK202599875SQ201120432448公开日2012年12月12日 申请日期2011年11月4日 优先权日2011本文档来自技高网...

【技术保护点】
X荧光测量杯卡环取出器，其特征是所述的X荧光测量杯卡环取出器主要包括支架和撬棒，所述支架包括圆形底座及位于底座两侧的支撑杆，所述支撑杆上设置有转轴，转轴穿过撬棒，将撬棒可旋转固定于支架上，所述撬棒包括转动杆和受力杆，所述转动杆与受力杆之间呈一钝角，所述转动杆上设置有用于转轴穿过的插入孔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱安云，
申请(专利权)人：南京梅山冶金发展有限公司，宝钢集团上海梅山有限公司，上海梅山科技发展有限公司，上海梅山钢铁股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：