用于荧光XAFS测试的数据采集系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种用于荧光XAFS测试的数据采集系统，包括依次设置的单色器和气体电离室，样品位于气体电离室之后用于接收依次经过单色器和气体电离室后的X射线以产生荧光信号；所述单色器带有马达，马达与马达驱动器电连接，而马达驱动器与控制计算机电连接；所述气体电离室与电流放大器、模拟数字转换卡和数据采集计算机依次电连接，该数据采集计算机与控制计算机信号连通；所述数据采集计算机还与一用于接收荧光信号的固体探测器电连接。本实用新型专利技术的数据采集系统，可以有效消除本底信号中的散射信号和其他元素的荧光信号，提高荧光XAFS谱的质量，从而实现极低浓度样品的精确测量。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于荧光XAFS(X射线吸收精细结构)测试的数据采集系统。
技术介绍
上海光源是国内自主创新建造的第一台第三代同步辐射光源，BL14W1光束线XAFS实验站是首批七条线站之一。BL14W1光束线站是一个基于多极Wiggler (扭摆器)光源(MPW)的通用、高性能X射线吸收谱实验装备，主要用于高能量分辨、高光谱纯度和高信噪比的X射线吸收精细结构谱学研究。XAFS测量方法主要有透射法和荧光法两种。透射法主要用于高浓度样品和标准样品的XAFS谱测量。荧光法主要用于极低浓度样品的XAFS谱测量，它的探测浓度极限比透射法低几个数量级。对于荧光法，在探测器接收到的光子信号中，包含待测元素的荧光信号与本底信号。其中，本底信号包括各种散射信号和其他元素的荧光信号，本底信号的存在使 得荧光法的探测浓度极限上升，信噪比下降，严重地影响了荧光XAFS谱的质量。目前荧光XAFS方法中使用的探测器主要为普通荧光电离室(又称Lytle电离室)。在采用Lytle电离室的数据采集系统中，X射线打在样品上之后是通过Lytle电离室接收光束数据，Lytle电离室的优点是具有较大的接收立体角、设备简单、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于荧光XAFS测试的数据采集系统，包括依次设置的单色器和气体电离室，样品位于气体电离室之后用于接收依次经过单色器和气体电离室后的X射线以产生荧光信号；所述单色器带有马达，马达与马达驱动器电连接，而马达驱动器与控制计算机电连接；所述气体电离室与电流放大器、模拟数字转换卡和数据采集计算机依次电连接，该数据采集计算机与控制计算机信号连通；其特征在于，所述数据采集计算机还与一用于接收荧光信号的固体探测器电连接。2.如权利要求I所述的用于荧光XAFS测试的数据采集系统，其特征在于，所述固体探测器为硅漂移固体探测器。3.如权利要求I或2所述的用于荧光XAFS测试的数据采集系统，其特征在于，所述固体探测器包括用于接收荧光...

【专利技术属性】
技术研发人员：高倩，姜政，魏向军，李丽娜，李炯，顾颂琦，张硕，黄宇营，
申请(专利权)人：中国科学院上海应用物理研究所，
类型：实用新型
国别省市：