本实用新型专利技术提供了一种样品架,包括:一侧镶嵌有第一磁铁和至少两个凹槽的定位板;用于粘附样品并与所述定位板的顶端嵌接的样品框;一侧镶嵌有第二磁铁和至少两个钢球的载板,该第二磁铁的数目和位置分布均与定位板上的第一磁铁相同,该钢球的数目和位置分布均与定位板上的凹槽相同,且所述凹槽与所述钢球相配合。定位板分别与七轴样品台载板、纳米样品台载板或显微镜载物台载板相配合,完成样品在七轴样品台、纳米样品台或荧光显微镜载物台上的高精度重复移动。用该样品架粘附不同大小的样品进行同步辐射X射线荧光实验,安全可靠、方便快捷,重复精度为5微米。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及荧光分析领域,特别是涉及ー种样品架。
技术介绍
荧光分析就是利用物质的分子或原子受外来光源辐照后,分子或原子受激发,当它们退激后发出荧光,荧光的波长与分子或原子的能级结构有关,因此测量荧光的波长和強度就可用来确定发出该荧光的元素种类及含量,确定样品组成,是ー种常见的分析方法。处于外层轨道中的电子受原子核束缚比较松,产生的荧光波长比较长,用紫外和软X射线就可激发。原子内层电子受原子核束缚比较紧,退激后发射的荧光波长短,处于X 射线波长范围。X射线荧光分析具有灵敏度高、非破坏性、快速、设备简单等优点,已经广泛应用于生命科学、材料科学、地矿学、环境科学、法学以及エ农业生产等各个领域。由于同步辐射的高亮度、高偏振、高准直,可以得到连续可调的単色光,并可将X射线束引入大气中进行分析等优点,同步辐射光源激发X荧光分析将X射线荧光分析手段提高到崭新的水平。现有条件下,进行同步辐射X射线荧光实验时,需要频繁更换实验样品,现有样品架非常笨拙,毎次更换样品都要旋动螺母将整个样品架从七轴样品台上取下,不仅非常不方便,还极易损害七轴样品台上的螺孔,影响七轴样品台的精度。实验时,样品只能依靠实验台上的显微镜观测,放大倍数很低,当样品尺寸处于微米级时,不能清晰地观测样品形貌,需要在高倍荧光显微镜下进行离线观测,要想高倍显微镜下的观测图像与X射线荧光实验的扫描图像相吻合,需要有高精度的样品架使样品能在显微镜和七轴样品台之间平行移动。另外,亚微米光斑分析方法的建立,也需要有新的样品架与纳米台相配合。现在,亟需ー种能够适用于七轴样品台、显微镜载物台、纳米台的通用型高精度样品架。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术中无法方便地更换实验样品,并在保证精度的情况下,方便地将样品在七轴样品台、纳米台、荧光显微镜之间转换的问题。基于上述目的,本技术采用以下技术方案—种样品架,包括一侧镶嵌有第一磁铁和至少两个凹槽的定位板;用于粘附样品并与所述定位板的顶端嵌接的样品框;一侧镶嵌有第二磁铁和至少两个钢球的载板,该第二磁铁的数目和位置分布均与定位板上的第一磁铁相同,该钢球的数目和位置分布均与定位板上的凹槽相同,且所述凹槽与所述钢球相配合。优选地,所述载板上设有空框。优选地,所述载板上设有螺孔。优选地,所述样品框下端具有矩形突出部,与所述定位板顶端的插槽配合相嵌。优选地,所述载板上设有三个钢球,呈倒置三角形分布。优选地,所述载板上设有四个钢球,呈矩形分布。所述磁铁为矩形,或圆柱体,以及任意形状,优选为圆形。本技术所提供的样品架的有益效果是通过定位板和载板之间磁铁的相互吸引以及凹槽与钢球的精确配合,可方便准确地实现样品在七轴样品台,或者纳米台,抑或是荧光显微镜载物台上的移动,重复性高,精确度高;通过样品框与定位板之间的嵌接设计,无需旋动螺母就能频繁更换实验样品,有效地提闻样品更换的效率,适用于同步福射X射线突光实验,提闻样品检测的精准度;实现载板与纳米样品台之间的连接配合,使得该样品架同样适用于新建立的亚微米光斑分析方法。附图说明附图I为本技术的磁性吸附钢球定位的样品架的结构示意图。具体实施方式以下结合附图给出本技术较佳实施例,以详细说明本技术的技术方案。根据本技术的一个实施例,如图I所示,该样品架包括一侧镶嵌有磁铁32和至少两个凹槽31的定位板3 ;用于粘附样品并与所述定位板3的顶端嵌接的样品框4 ;ー侧镶嵌有磁铁22和至少两个钢球21的七轴样品台载板2,该磁铁22与钢球21的数目和位置分布分别与定位板3上的磁铁32和凹槽31相同,且所述凹槽31与所述钢球21相配合。优选地,七轴样品台载板2底端有三个螺孔23,底座I上含有两个用来与七轴样品台载板2相连接的螺孔11,还有四个用于将底座I固定在七轴样品台上的螺孔12。所述七轴样品台载板22的底端设有螺孔23,与固定在七轴样品台上的底座通过螺栓连接,从而通过定位板3与七轴样品台载板2之间的磁性吸附以及钢球定位将样品固定在七轴样品台上。定位板3与七轴样品台载板2相配合,完成样品在七轴样品台上的高精度重复性移动。根据本技术的另ー优选实施例,该样品架包括一侧镶嵌有磁铁32和至少两个凹槽31的定位板3 ;用于粘附样品并与所述定位板3的顶端嵌接的样品框4 ;一侧镶嵌有磁铁52和至少两个钢球51的纳米样品台载板5,该磁铁52与钢球51的数目和位置分布分别与定位板3上的磁铁32和凹槽31相同,且所述凹槽31与所述钢球51相配合。所述载板与纳米样品台连接,从而通过定位板3与纳米样品台载板5之间的磁性吸附以及钢球定位将样品固定在纳米样品台上。定位板3与纳米样品台载板5相配合,完成样品在纳米样品台上的高精度重复性移动。优选地,纳米样品台载板5上四周设有四个螺孔53,通过该螺孔可将纳米样品台载板5固定在纳米样品台上。根据本技术的又一优选实施例,该样品架包括一侧镶嵌有磁铁32和至少两个凹槽31的定位板3 ;用于粘附样品并与所述定位板3的顶端嵌接的样品框4 ;一侧镶嵌有磁铁62和至少两个钢球61的显微镜载物台载板6,该磁铁62与钢球61的数目和位置分布分别与定位板3上的磁铁32和凹槽31相同,且所述凹槽31与所述钢球61相配合。所述显微镜载物台载板6上设有空框63,并与显微镜载物台连接,从而通过定位板3与显微镜载物台载板6之间的磁性吸附以及钢球定位将样品固定在显微镜载物台上,并可通过空框63观察样品。定位板3与显微镜载板6相配合,完成样品在荧光显微镜载物台上的高精度重复性移动。优选地,显微镜载物台载板6侧边上具有卡槽64,通过该卡槽可将载板卡在突光显微镜的载物台上。优选地,所述样品框4下端具有矩形突出部,与所述定位板3顶端的插槽33配合相嵌,使得样品可以非常方便地更换。优选地,所述七轴样品台载板2、纳米样品台载板5以及显微镜载物台载板6上设有三个钢球,呈倒置三角形分布,磁铁位于三个钢球的中心位置。优选地,所述七轴样品台载板2、纳米样品台载板5以及显微镜载物台载板6上设有四个钢球,呈矩形分布,磁铁位于四个钢球的中心位置。所述显微镜优选为高倍荧光显微镜。本技术的样品架可采用不同规格的样品框4,从而测量不同大小的实验样品,更换样品方便快捷,极大地提闻了实验效率。所述底座I和七轴样品台载板2、纳米样品台载板5以及显微镜载物台载板6均优选由铝合金材料制得。所述样品框4优选由铝合金材料、有机玻璃材料或聚四氟こ烯材料中的ー种制得。使用本技术所提供的样品架粘附不同大小的样品进行同步辐射X射线荧光实验,安全可靠、方便快捷,重复精度为5微米。下面对采用本技术优选实施例的磁性吸附钢球定位的样品架对样品进行同步辐射X射线荧光测量的方法做进ー步说明。步骤a、用两个螺丝和ー个弹簧垫片连接底座I和七轴样品台载板2。步骤b、用四个螺丝将底座I固定在实验台中的七轴样品台上。步骤C、用四个螺丝将纳米样品台载板5固定在纳米台上。步骤d、将显微镜载板6通过卡槽64卡在荧光显微镜的载物台上。步骤e、用胶带将实验样品粘附在样品框4上。步骤f、将样品框4插入定位板3中,用侧边的螺丝34固定。步骤g、通过磁铁吸引,钢球定位,定位板3与显微镜载物台载板6相配合,可以在荧光显微镜下观察样品的形态。优本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种样品架,其特征在于,包括:一侧镶嵌有第一磁铁和至少两个凹槽的定位板;用于粘附样品并与所述定位板的顶端嵌接的样品框;一侧镶嵌有第二磁铁和至少两个钢球的载板,该第二磁铁的数目和位置分布均与定位板上的第一磁铁相同,该钢球的数目和位置分布均与定位板上的凹槽相同,且所述凹槽与所述钢球相配合。
【技术特征摘要】
1.一种样品架,其特征在于,包括 一侧镶嵌有第一磁铁和至少两个凹槽的定位板; 用于粘附样品并与所述定位板的顶端嵌接的样品框; 一侧镶嵌有第二磁铁和至少两个钢球的载板,该第二磁铁的数目和位置分布均与定位板上的第一磁铁相同,该钢球的数目和位置分布均与定位板上的凹槽相同,且所述凹槽与所述钢球相配合。2.如权利要求I所述的样品架,其特征在于,所述载板上设有空框。3.如权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:张继超,李爱国,余笑寒,
申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所,
类型:实用新型
国别省市:
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