【技术实现步骤摘要】
本技术属于分析仪器领域，涉及一种新式X射线荧光光谱仪，具体涉及多探测器及多光管设计的针对大体积样品进行检测的X射线荧光光谱仪。技术背景X射线荧光光谱分析方法作为物质组成分析的必备方法之一，已经广泛应用于地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业、医药卫生、环境保护等领域的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。随着技术水平的不断提高，X射线荧光光谱仪正在向自动化、智能化、专业化等方向发展。现有的X射线荧光光谱仪，通常设计一个样品台，将待检样品置于台上进行检测， 只能针对体积较小的样品如电子元件、土壤、矿样、小型金属样品等进行检测，很难应用于体积较大且结构复杂的物品中低含量元素的测定分析，例如包裹、行李等
技术实现思路
针对上述问题，本技术的主要目的在于提供一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，能够对体积较大且结构复杂的物品中某些特定元素进行定性及定量分析。为达到上述目的，本技术所提供的一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其中所述样品仓组件，组装...
【技术保护点】
一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其特征在于：所述样品仓组件，组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；所述X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；所述探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨李锋，张峰，刘铎，
申请(专利权)人：纳优科技北京有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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