记忆体IC检测分类机制造技术

本发明专利技术是一种记忆体ＩＣ检测分类机，包含设在机台前端的供料匣与至少一个收料匣，设在机台后端的至少一个测试装置、定位装置与顶压装置，以及设在供、收料匣与测试装置间的移料装置；所述的供、收料匣是分别用来承置待／完成检测的记忆体ＩＣ，各测试装置则设有具数个测试套座的测试电路板，移料装置是可在供料匣移载数个记忆体ＩＣ至定位装置进行定位，并在完成定位后将记忆体ＩＣ移载至测试装置的各测试套座上方，在顶压装置下压开启测试套座时，移料装置即可将记忆体ＩＣ置入在的各测试套座内，在顶压装置上升关闭测试套座时，记忆体ＩＣ即可固定在测试套座内以进行测试作业。如此，即可同时移载与测试数个记忆体ＩＣ，以有效缩短待机时间，而大幅增加记忆体ＩＣ的检测产能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种ic检测分类机，特别是指一种记忆体IC检测分类机。
技术介绍
在现今，半导体元件的IC概分为逻辑IC、记忆体IC、类比IC与微元件IC 等不同类型，以逻辑IC为例，是应用于主机板上的中央处理器，以负责中央处理器与其他周边元件的讯号转换或传递，以及运算作业，其功能性较为复杂，而记忆体IC则单纯用来储存资料，并装设在模组电路板，所述的模组电路板再装配在 主机板上，其功能性较为单纯，然不论任何类型的IC，在制作完成后，均须经过一检测作业，以淘汰出不良品，而确保产品品质。然由于逻辑ic搭配的中央处理器是直接装设在主机板，且功能性较为复杂与 多样化，业者为使逻辑ic可在实际环境下进行检测，以提升检测作业的准确性，遂以日后逻辑IC实际装配使用的实体板(即主机板)作为测试电路板，使逻辑IC 在实体板上进行检测作业，基于逻辑IC的检测作业较为复杂与多样化，故所述的 实体板常仅设有一测试套座供执行单一逻辑IC检测作业，请参阅图l、图2，是 坊间应用于检测逻辑IC的IC检测分类机，包含在机台的前端设有供料匣11、数 个收料匣12与第一移料装置13，所述的供料匣11是可承置待测的逻辑I本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种记忆体ＩＣ检测分类机，其特征在于，其是包含有：供料匣：是设在机台上，用来承置待测的记忆体ＩＣ；收料匣：是设在机台上，用来承置完成检测的记忆体ＩＣ；测试装置：是设在机台上，其并设有具数个测试套座的测试电路板；顶压装置：是对应设置在测试装置的上方，以下压开启测试套座；移料装置：是设在机台上，用来一次移载数个待／完成检测的记忆体ＩＣ在供料匣、测试装置与收料匣间；中央处理器：是用来控制与整合各装置作动，以执行自动化作业。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林正龙，
申请(专利权)人：鸿劲科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]