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本发明是一种记忆体ＩＣ检测分类机，包含设在机台前端的供料匣与至少一个收料匣，设在机台后端的至少一个测试装置、定位装置与顶压装置，以及设在供、收料匣与测试装置间的移料装置；所述的供、收料匣是分别用来承置待／完成检测的记忆体ＩＣ，各测试装置则设...
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