眼科设备及其控制方法技术

技术编号:7777100 阅读:166 留言:0更新日期:2012-09-19 23:44
本发明专利技术提供一种眼科设备及其控制方法,该眼科设备基于利用测量光照明的被检眼的返回光,拍摄被检眼的角膜的断层图像,根据所拍摄的眼的角膜断层图像测量角膜厚度,并且基于角膜断层图像在摄像面上的位置来校正角膜厚度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种具有用于测量被检眼的角膜厚度的功能的。
技术介绍
通常,设计用于测量被检眼的角膜厚度和眼压的眼科设备在针对被检眼的上下方向、左右方向和操作距离方向(前后方向,即靠 近眼或离开眼的方向)上进行被检眼和设备之间的对准。日本3597274号专利所公开的角膜厚度测量设备通过使用第一投影/光接收系统和第二投影/光接收系统进行对准,其中,第一投影/光接收系统在上下方向和左右方向上进行对准,第二投影/光接收系统在操作距离方向上进行对准,并且还用于角膜厚度測量。该设备通过使用从对着被检眼的光轴外部投影至角膜的对准指标的反射光来进行操作距离方向上的对准。在通过使用这类系统进行操作距离方向上的对准时,对于对准和角膜厚度測量需要两个投影/光接收系统。这使得不可能简化该设备的光学系统,并且因此导致该设备的大小和成本増大。在这种情况下,根据日本特开2006-334441号公报所述的非接触眼压计的对准方案,设备包括ー个投影系统(对准和角膜厚度測量共用)和两个光接收系统(其中ー个是用于测量角膜厚度的光接收系统,其配置在对着被检眼的光轴外部的位置处)。该设备在上下方向、左右方向和操作距离方向上进行对准。在这种情况下,角膜亮点图像是在利用对准指标照明被检眼的角膜、并且通过棱镜从对着被检眼的光轴接收到反射光时时所形成的图像。在这种情况下,在通过使用角膜亮点图像进行对准吋,操作距离(被检眼和设备之间在前后方向上的距离)不仅根据对准误差而改变,而且还根据角膜表面之间的曲率的差而改变。为此,在測量角膜厚度时,接收来自角膜的散射光的光接收系统的光轴的角度和到光接收元件的光路长度变化。结果,在光接收元件上成像的来自角膜的散射光发生模糊,从而导致不能进行正确的角膜厚度測量。
技术实现思路
考虑到上述问题做出本专利技术,并且本专利技术使得具有用于测量被检眼的角膜厚度的功能的眼科设备利用具有简单结构的光学系统精确地測量角膜厚度。根据本专利技术的ー个方面,提供ー种眼科设备,包括摄像部件,用于基于来自利用測量光照明的被检眼的返回光,拍摄所述被检眼的角膜断层图像;测量部件,用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来測量角膜厚度;以及校正部件,用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。另外,根据本专利技术的另一方面,提供ー种眼科设备的控制方法,所述控制方法包括以下步骤摄像步骤,用于利用摄像部件基于来自利用測量光照明的被检眼的返回光,拍摄所述被检眼的角膜断层图像;测量步骤,用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来測量角膜厚度;以及校正步骤,用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。此外,根据本专利技术的另一方面,提供ー种眼科设备,包括对准指标投影系统,用于将对准指标投影至被检眼的角膜;多个开ロ光圈,其以相互间隔预定距离的方式被配置在相对于对着所述被检眼的光轴的对称位置处,以使得使用所述对准指标的角膜反射图像的光束穿过;偏转部件,其被配置在所述多个开ロ光圈之前或之后,用于在不同方向上偏转光束;摄像透镜,用于使偏转后的光束在摄像部件的摄像面上成像;以及光学构件,其被配置在穿过所述多个开ロ光圈的光束的光路上,并且改变与所述多个开ロ光圈之间的所述预定距离相对应的光束之间的距离。通过以下參考附图对典型实施例的说明,本专利技术的其它特征将显而易见。 附图说明图I是示出根据实施例的眼科设备的测量单元的结构的例子的框图;图2A是示出棱镜光圈11的图;图2B是示出裂隙板24的图;图2C是示出开ロ光圈之间的距离D的图;图3是示出在角膜亮点对准时角膜Ec的角膜顶点和喷嘴的远端部之间的距离D的图;图4是示出来自具有平均角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图;图5是示出来自具有大于平均值的角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图;图6是示出来自具有小于平均值的角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图;图7A和7B是示出角膜厚度測量光学系统中的摄像元件上的图像的宽度和摄像元件上的图像的位置之间的关系的图;图8A 8D是用于说明在角膜亮点对准时的操作距离和所拍摄的两个角膜亮点图像之间的关系的图;图9是示出根据实施例的眼科设备的操作的流程图;图IOA是示出基于WD的差的成像关系的图;图IOB是用于说明基于开ロ光圈之间的距离的差的对准精度的图;图IOC是示出在保持对准精度的同时如何使用光学构件应对大小减小的图;图IlA和IlB是示出基于WD的差的角膜亮点之间的位置关系的图;图12A是不出开ロ光圈、光学构件和棱镜的不同结构的图;以及图12B是示出通过一体化开ロ光圈所获得的结构的图。具体实施例方式下面将參考附图说明本专利技术的优选实施例。第一实施例图I是示出根据本实施例的眼科设备中的测量单元的结构的例子的框图。本实施例的眼科设备同时具有測量被检眼的角膜厚度的角膜厚度测量设备和测量眼压的非接触眼压计的功能。将平行平板玻璃I和物镜3配置在对着被检眼E的角膜Ec的光轴LI上。将喷嘴2设置在光轴LI的中心轴上。将空气室4、观察窗5、ニ向色镜10、棱镜光圈11、摄像透镜12和摄像元件13顺次配置在喷嘴2后面。这些组件构成用于眼E的观察系统和对准检测系统。物镜筒9支持平行平板玻璃I和 物镜3。将用于照明眼E的眼外照明光源6a和6b配置在物镜筒9外部。将眼外照明光源6a和6b配置在相对于光轴LI的对称位置处。ニ向色镜10使具有从眼外照明光源6a和6b发射的波长的光透过,并且反射具有从对于眼压測量和对准两者所使用的LED光源(后面说明)发射的波长的光的一部分。如图2A所示,棱镜光圈11具有三个开ロ。上开口和下开ロ分别设置有用于在不同左右方向上偏振光束的棱镜Ila和lib。实际上,左右配置这些开ロ,并且棱镜Ila和Ilb使光束在上下方向上偏转。然而,假定在下面的说明中,上下配置这些开ロ。另外,棱镜光圈11的上开口和下开ロ设置有具有下面的谱特性的滤波器吸收来自眼外照明光源6a和6b的波长光,并且使来自对于眼压测量和对准两者所使用的LED光源的波长光透过。注意,开ロ的数量不局限于两个,并且可以是三个以上。另ー方面,棱镜光圈11的中央的开ロ设置有下面的滤波器,该滤波器吸收来自对于眼压测量和对准两者所使用的LED光源的波长光,并且使来自眼外照明光源6a和6b的波长光透过。将中继透镜14、半镜15、ニ向色镜16、开ロ 17和光接收元件18配置在反射方向上的ニ向色镜10的光轴L2上。它们构成检测角膜反射光的量的变化的角膜变形检测系统。ニ向色镜16具有用于透过近红外波长并且反射可见光波长的特性。将半镜19、投影透镜20以及上述对于眼压测量和对准两者所使用的LED光源21配置在反射方向上的半镜15的光轴L3上。它们构成眼压测量光投影系统和对准指标投影系统。将表现为用于眼E的固视的固视灯的固视用光源22置于反射方向上的半镜19的光轴L4上。将投影透镜23、裂隙板24和对于角膜厚度的測量所使用的LED光源25配置在反射方向上的ニ向色镜16的光轴L5上。如图2B所示,裂隙板24用作在与图面垂直的方向上较长的矩形光圏。将使从LED光源25发射的角膜散射光波长范围中的光透过的滤波器26、摄像透镜27和摄像元件28配本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
2011.02.25 JP 2011-040844;2012.02.02 JP 2012-021341.ー种眼科设备,包括 摄像部件,用于基于来自利用測量光照明的被检眼的返回光,拍摄所述被检眼的角膜断层图像; 測量部件,用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来測量角膜厚度;以及 校正部件,用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。2.根据权利要求I所述的眼科设备,其特征在于,还包括校正值表,其中,在所述校正值表中,相互对应地保持角膜断层图像在所述摄像面上的位置和用于校正角膜厚度的校正值; 其中,所述校正部件基于通过參考所述校正值表所获得的校正值,校正角膜厚度。3.根据权利要求I或2所述的眼科设备,其特征在于,所述摄像部件包括 对准光学系统,用于将对准指标投影至所述被检眼的角膜,并且被用来进行所述被检眼和所述眼科设备的主体之间的定位; 投影光学系统,用于向所述被检眼的角膜投影用于测量角膜厚度的角膜厚度測量光,并且共用所述对准光学系统的一部分;以及 光接收光学系统,用于通过形成作为返回光的散射光的图像,拍摄与所述角膜的角膜厚度相对应的图像,其中,所述返回光是由所述投影光学系统投影至所述角膜的所述角膜厚度測量光的、从所述角膜返回的返回光。4.根据权利要求I或2所述的眼科设备,其特征在于,所述校正部件中的所述角膜断层图像的位置是如下的位置在该位置处,在所述摄像部件所拍摄的图像中,来自所述角膜的顶点的返回光在所述摄像部件的摄像面上成像。5.根据权利要求I或2所述的眼科设备,其特征在于,所述校正部件所校正后的角膜厚度不大于所述测量部件所測量出的角膜厚度。6.根据权利要求3所述的眼科设备,其特征在于,还包括定位部件,所述定位部件用于基于对由所述对准光学系统投影的对准指标的检测,移动所述眼科设备的主体,并且进行所述被检眼和所述眼科设备的主体之间的定位。7...

【专利技术属性】
技术研发人员:和田学
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:

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