【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于测量射频(RF)、微波以及毫米波信号中的相位噪声的技术及设备。
技术介绍
RF、微波信号或者毫米波信号可以由在各自的频谱范围内操作的振荡器产生。振荡器的输出可以应用于通信及其他应用中。振荡器的振荡频率可以被用作频率参考，因此希望振荡器的噪声很低并可以被正确地测量。描述振荡器特征的测量装置应该具有低噪声。
技术实现思路
本文档描述了用于基于光子延迟测量RF、微波或毫米波信号中的相位噪声的技术和设备。一方面，提供了一种用于测量信号中的相位噪声的设备，包括输入端口，从待测振荡器接收振荡信号；第一光子信号处理分支电路，处理该振荡信号以产生第一分支输出信号；第二光子信号处理分支电路，处理该振荡信号以产生第二分支输出信号。第一和第二光子信号处理分支电路共享光学模块，该光学模块包括产生第一和第二波长的连续波激光的共享的激光器、调制第一和第二波长的激光以产生载有振荡信号的调制激光的共享的光调制器、从该共享的光调制器接收调制激光的共享的光学延迟器以及波长选择光学设备，该波长选择光学设备将通过该共享的光学延迟器输出的调制激光分路为第一波长的第一调制激光束和第二波长...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：丹尼·埃利亚胡，鲁特·马利基，大卫·塞德尔，
申请(专利权)人：光电波公司，
类型：发明
国别省市：
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