板材的平坦度测量方法以及使用该方法的钢板的制造方法技术

技术编号:7763218 阅读:661 留言:0更新日期:2012-09-14 21:42
提供一种当在能够接收投影在正反射性强的板材的表面上的明暗图案的正反射光的位置处配置摄像单元的情况下也能够高精度地测量板材的表面形状/平坦度的方法。本发明专利技术所涉及的方法使用亮部在纵方向以及横方向上分别以规定的设定间距配置为交错状而得到的交错状图案作为投影在板材的表面上的明暗图案。对由摄像单元获取的图案图像设定沿着交错状图案的纵方向延伸的形状测量线,将经过形状测量线上的像素而在交错状图案的横方向上延伸且长度为亮部的横方向设定间距的两倍以上的直线上的像素浓度进行平均化,来计算平均像素浓度。根据沿着形状测量线的平均像素浓度分布来计算出板材的表面形状,根据计算出的该表面形状来运算板材的平坦度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种高精度地测量沿长边方向移动的钢板等的板材的平坦度的方法以及使用该方法的钢板的制造方法。
技术介绍
关于板材,为了确保其品质而且为了进行稳定的制造要求良好的平坦度。为此,在板材的制造过程中恰当地管理平坦度是以往以来的课题。一般作为表示平坦度的指标而使用延伸率差、陡度这样的值。 延伸率差Λ ε是板材的长边方向的固定区间中的、板材的宽边方向中央部的延伸率4_与板材的宽边方向中央部以外(一般为边缘附近)的延伸率^edce之差,由以下的式⑵来表不。Δ ε - ε CENT — ε EDGE …(2)另外,陡度λ使用板波的高度δ及其间距P来定义为λ = δ /P。通过将该板波的形状近似为正弦波,在延伸率差Λ ε与陡度λ (%)之间存在由以下的式(3)来表示的公知的关系。[数式I]

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.10.19 JP 2009-2405741.一种板材的平坦度测量方法,对在长边方向上行进的板材的表面投影由亮部以及暗部构成的明暗图案,通过由具有比上述板材的宽度大的摄像视场的摄像单元拍摄上述明暗图案来获取图案图像,通过分析获取到的该图案图像来测量上述板材的平坦度,该方法的特征在于,包括 第一步骤,使用交错状图案作为投影在上述板材的表面上的明暗图案,该交错状图案是将亮部在纵方向以及横方向上分别以规定的设定间距配置为交错状而得到的,以该交错状图案的纵方向沿着上述板材的长边方向且该交错状图案的横方向沿着上述板材的宽边方向的方式,将该交错状图案投影在上述板材的表面上; 第二步骤,在能够接收上述交错状图案在上述板材的表面上的正反射光的位置处配置上述摄像单元,通过由该摄像单元拍摄上述交错状图案来获取图案图像; 第三步骤,在获取到的上述图案图像内的规定的位置处设定沿着上述交错状图案的纵方向延伸的形状测量线; 第四步骤,将经过上述形状测量线上的像素而在上述交错状图案的横方向上延伸且长度为上述亮部的横方向设定间距两倍以上的直线上的像素浓度进行平均化,来计算平均像素浓度; 第五步骤,计算沿着上述形状测量线的平均像素浓度分布;以及第六步骤,根据计算出的上述平均像素浓度分布来计算沿着上述形状测量线的上述板材的表面形状,根据计算出的该表面形状来计算上述板材的平坦度。2.根据权利要求I所述的板材的平坦度测量方法,其特征在于,还包括如下步骤 通过对基准构件执行上述第一步骤至上述第五步骤,来计算针对上述基准构件所获取的上述图案图像中沿着上述形状测量线的平均像素浓度分布,根据该平均像素浓度分布来预先计算针对上述基准构件所获取的上述图案图像中沿着上述形状测量线的上述交错状图案的亮部的纵方向间距的分布Ps (X),其中,该基准构件与作为测量平坦度的对象的板材的行进方向平行地设置且具有平坦的表面形状, 其中,上述第六步骤包括如下步骤 根据针对上述板材所计算出的上述平均像素浓度分布来计算针对上述板材所获取的上述图案图像中沿着上述形状测量线的上述交错状图案的亮部的纵方向间距的分布Pm(X);以及 根据下述的式(I)来计算沿着上述形状测量线的上述板材的表面的倾斜角度的分布Θ (X),根据该板材的表面的倾斜角度的分布θ (χ)来计算上述板材的表面形状, [式I]3.根据权利要求I或2所述的板材的平坦度测量方法,其特征在于, 上述第三步骤包括如下步骤在获取到的上述图案图像内的规定的位置处设定沿着上述交错状图案的横方向延伸的边缘检测线; 沿着上述边缘检测线,对经过上述边缘检测线上的像素而沿着上述交错状图案的纵方向延伸且长度为上述亮部的纵方向设定间距两倍以上的直线上的像素浓度的标准偏差依次进行计算; 根据计算出的上述像素浓度的标准偏差的大小来检...

【专利技术属性】
技术研发人员:伊势居良仁加藤朋也大杉正洋
申请(专利权)人:住友金属工业株式会社
类型:发明
国别省市:

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