本实用新型专利技术涉及一种平面镜反射面平整度的检测装置，属于光学技术领域；装置包括激光器、扩束镜、针孔、准值透镜、分束镜、待测平面镜、屏幕；从左到右依次按直线放置，顺序为激光器、扩束镜、针孔、准值透镜和分光镜，激光器和扩束镜两者共轴，扩束镜到针孔的距离为扩束镜的焦距，针孔到准值透镜的距离为准值透镜的焦距；本实用新型专利技术可以通过简单的装置测出反射镜反射面的粗糙程度，同时测量精度高，使用方便，结构简单。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种光学检测装置，特别是ー种平面镜反射面平整度的检测装置，属于光学
技术介绍
平面镜在日常生活中就有广泛的使用，目前，在检测各种平面反射镜时，采用的方法是在被检测的平面上放ー个透明样板，在透明样板的一端垫ー个薄片使样板的标准平面和被测平面之间形成ー个楔形空气薄层；利用単色光从上面照射，空气层的上下两个表面反射的两列光波发生干渉，根据干涉条纹判断平面反射镜反射面质量。这种方法測量精度受到透明样板的制作精度制约，同时透明样板的反复使用，也可能导致本身的測量精度下降，导致测量误差的叠加。 在实际生产中还有一种测量方法为线扫描的方式，利用灵敏的探头扫描平面反射镜反射面，根据平面反射镜反射面的高低可以获得镜面的平整度，但由于测量时间的关系，此方法一般只測量一条直线，只能測量対称的镜面，在镜子加工过程中如果出现非対称的凹凸，有可能仍被认为是合格产品，误差极大。
技术实现思路
本技术的目的是提供ー种平面镜反射面平整度的检测装置，可以测出平面反射镜反射面的光滑程度，精确的判断平面镜质量的好坏。本技术的采用的技术方案平面镜反射面平整度的检测装置包括激光器I、扩束镜2、针孔3、准值透镜4、分束镜5、待测平面镜6、屏幕7 ;从左到右依次按直线放置，顺序为激光器I、扩束镜2、针孔3、准值透镜4和分光镜5，激光器I和扩束镜2两者共轴，扩束镜2到针孔3的距离为扩束镜2的焦距，针孔3到准值透镜4的距离为准值透镜4的焦距。所述的分光镜5的固定角度以及待测平面镜6和屏幕7的固定位置，应保证经过平面镜6反射的光路的光程是分光镜5分开的另外一路光路光程的两倍，同时减小两路光的夹角。所述的激光器I、扩束镜2、针孔3、准值透镜4、分束镜5、待测平面镜6、屏幕7都是市售的普通元件。本技术的有益效果可以通过简单的装置测出反射镜反射面的粗糙程度，同时测量精度高，使用方便，结构简単。附图说明图I为本技术的结构示意图；图2为本专利技术屏幕上的标准干涉条纹示意图。图中1_激光器、2-扩束镜、3-针孔、4-透镜、5-分光器、6-待测平面镜、7-带标准条纹的屏幕。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术进ー步说明。如图I所示平面镜反射面平整度的检测装置包括激光器I、扩束镜2、针孔3、准值透镜4、分束镜5、待测平面镜6、屏幕7 ;从左到右依次按直线放置，顺序为激光器I、扩束镜2、针孔3、准值透镜4和分光镜5，激光器I和扩束镜2两者共轴，扩束镜2到针孔3的距离为扩束镜2的焦距，针孔3到准值透镜4的距离为准值透镜4的焦距。所述的分光镜5的固定角度以及待测平面镜6和屏幕7的固定位置，应保证经过平面镜6反射的光路的光程是分光镜5分开的另外一路光路光程的两倍，同时减小两路光的夹角。平面镜反射面平整度的检测装置完成以后按照如下所述的方法进行I、调整准值透镜4的位置；将检测平行光的平晶放置于准值透镜4的右方光轴上，沿光轴移动准值透镜4的位置，使得平晶的反射光斑只有一条干涉条纹，此时可得到平行光;2、利用分束镜5将所得的平行光分成a和P两束光线；3、将其中a光线经过待测平面镜6反射到达屏幕7，^光线直接到达屏幕7，调整分束镜5的角度以及待测平面镜6的位置，使得a光线的光程为P光线的两倍，此时在屏幕7上两束光会发生干渉，形成干涉条纹；4、根据光的波长以及a与0两束光的夹角，用理想绝对光滑的平面镜，利用计算机MATLAB程序在屏幕7上模拟生成如图2所示的标准干涉条纹；5、将干涉条纹与接收屏幕7上计算机模拟的干涉条纹进行对比，两者相似程度越高，说明待测平面镜越平整。本技术是通过具体实施过程进行说明的，在不脱离本技术范围的情况 下，还可以对技术进行各种变换及等同代替，因此，本技术不局限于所公开的具体实施过程，而应当包括落入本技术权利要求范围内的全部实施方案。权利要求1.ー种平面镜反射面平整度的检测装置，其特征在于检测装置包括激光器(I)，扩束镜(2)，针孔(3)，准值透镜(4)，分束镜(5)，待测平面镜(6)，屏幕(7);从左到右依次按直线放置，顺序为激光器(1)，扩束镜(2)，针孔(3)，准值透镜(4)和分光镜(5)，激光器(I)和扩束镜(2)两者共轴，扩束镜(2)到针孔(3)的距离为扩束镜(2)的焦距，针孔(3)到准值透镜(4)的距离为准值透镜(4)的焦距。2.根据权利要求I所述的ー种平面镜反射面平整度的检测装置，其特征在于分光镜(5)的固定角度以及待测平面镜(6)和屏幕(7)的固定位置，应保证经过平面镜(6)反射的光路的光程是分光镜(5)分开的另外一路光路光 程的两倍，同时减小两路光的夹角。专利摘要本技术涉及一种平面镜反射面平整度的检测装置，属于光学
；装置包括激光器、扩束镜、针孔、准值透镜、分束镜、待测平面镜、屏幕；从左到右依次按直线放置，顺序为激光器、扩束镜、针孔、准值透镜和分光镜，激光器和扩束镜两者共轴，扩束镜到针孔的距离为扩束镜的焦距，针孔到准值透镜的距离为准值透镜的焦距；本技术可以通过简单的装置测出反射镜反射面的粗糙程度，同时测量精度高，使用方便，结构简单。文档编号G01B11/30GK202403679SQ20112053544公开日2012年8月29日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日专利技术者张永安, 蒋鑫巍 申请人:昆明理工大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋鑫巍，张永安，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：实用新型
国别省市：
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