测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统技术方案

本发明专利技术关于一种测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统。该键盘模块的测试系统包括一电脑主机、一测试座、一编码模块以及一测试主模块。编码模块与测试主模块皆安装于电脑主机中。测试座连接于键盘模块以及电脑主机，且产生多个按键码，而编码模块分配多个按键码给键盘模块的多个按键，使测试主模块可根据多个按键码而得以辨识被测试的按键为哪一按键。本发明专利技术可提升测试速度并避免触压按键错误而造成测试失误。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种测试方法以及测试系统，尤其是关于测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统。
技术介绍
科技与信息的时代已经到来，无论是工作或是休闲娱乐，电脑以及其外围设备已是每个人日常生活中的一部分，作为电脑以及使用者间的桥梁的输入装置亦受到相当大的重视，而输入装置包括鼠标、键盘以及轨迹球等。接下来以输入装置中的键盘装置为例来说明，请参阅图1，其为现有键盘装置的外观结构示意图。现有键盘装置I的表面上设有多个按键，该些按键被分类为一般键10、数字键11以及功能键12等，该些按键供使用者以手指触压而产生相对应的信号至电脑，使电脑执行被触压的按键功能一一般键10用以输入英文字母等符号，数字键11用以输入数字，而功能键12则用以提供各种功能，例如Fl F12等。接下来说明现有键盘装置的内部电路。请参阅图2，其为现有键盘装置的内部电路示意图。键盘装置I包括一电路板(未标示于图中)、一微处理器13以及一键盘扫描矩阵14，微处理器13连接于键盘扫描矩阵14，而微处理器13其余部分则为本领域普通技术人员所广知，故不赘述。至于键盘扫描矩阵14则由多条扫描输入线XO X7以及多条扫描输出线YO Y17互相交错而组成，其中多条扫描输入线XO X7的一端连接于微处理器13，且多条扫描输入线XO X7的另一端连接于电路板的多个输入接脚(未标示于图中)，而多条扫描输出线YO Y17的一端连接于微处理器13，且多条扫描输出线YO Y17的另一端连接于电路板的多个输出接脚(未标不于图中)。由于扫描输入线的数量为8条(亦即XO X7)，且扫描输出线的数量为18条(亦即YO Y17)，亦即键盘扫描矩阵14的扫描矩阵格式为8X18，其中每一扫描输入线与任一扫描输出线可形成一接点，故键盘扫描矩阵14共可产生144个接点，且该些接点可对应于键盘装置I表面上的多个按键，也就是说，若键盘装置I上有144个按键时，键盘装置I内部则至少必须设置8条扫描输入线以及18条扫描输出线。根据上述可知，当现有键盘装置I中的任一按键被触压时，键盘装置I可藉由键盘扫描矩阵1而判断是哪一按键被触压。一般而言，现有键盘模块装设于笔记型电脑(Notebook Computer)上而用以输入文字及符号至笔记型电脑中。请参阅图3，其为现有键盘模块的外观结构示意图。现有键盘模块2与现有键盘装置I的外观十分类似，现有键盘模块2的表面上具有多个按键20，该些按键20被分类为一般键21、数字键22以及功能键23等。由于现有键盘模块2碍于笔记型电脑的尺寸限制，故一般键21、数字键22以及功能键23的位置配置与现有键盘装置I稍有不同，但该些按键的功能与现有键盘装置I大致上相同而不再赘述。需特别说明的是，现有键盘模块2内部并不具有键盘扫描矩阵，使得现有键盘模块2上的多个按键20仅具有一般启动或关闭的开关功能。也就是说，当现有键盘模块2上的A按键被触压时，笔记型电脑仅得知有某一按键20被触压，但无法辨识被触压的按键20为哪一按键。接下来说明键盘模块2的现有测试方法。请参阅图4，其为现有键盘模块连接于多个发光元件的电路示意图。图4中，键盘模块2的排线23 (请参照图3)连接于26个发光元件 25，而排线 23 具有 26 个接脚，其依序为 A0、Al、A2、A3、A4、A5、A6、A7、B0、BI、B2、B3、B4、B5、B6、B7、B8、B9、B10、BH、B12、B13、B14、B15、B16 以及 B17，其中每一接脚分别连接于相对应的发光元件25而形成一键盘扫描矩阵。 当现有键盘模块2与发光元件组25连接完成后，测试人员实际依序触压现有键盘模块2上的每一按键20，并观察相对应的二发光元件25是否发光而判断该按键20是否可运行。当该按键20被触压时，对应于该按键20的二发光元件25皆发光时，测试人员判断该按键20通过测试。而当该按键20被触压，但对应于该按键20的二发光元件25中的任一发光元件25或该二发光元件25未发光时，测试人员则判断该按键20未通过测试。然而，以人力进行键盘模块的测试不但耗费人力、测试速度缓慢，更包含有因人为疏失而造成触压按键错误，但测试人员并未发现触压错误的问题。因此需要一种可提升测试速度并避免触压按键错误的测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种可提升测试速度并避免触压按键错误的测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统。本专利技术另一要解决的技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种利用统一按键码格式进行测试的测试键盘模块的方法以及键盘模块的测试系统。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种键盘模块的测试系统，用以测试一键盘模块，该键盘模块具有多个按键，该键盘模块的测试系统包括电脑主机、测试座、编码模块以及测试主模块,其中，该测试座连接该键盘模块以及该电脑主机,用以产生多个按键码；该编码模块安装于该电脑主机中，用以依序分配多个按键码中的每一按键码给每一该按键，使每一该按键被触发时产生相对应的该按键码；其中该多个按键码具有相同的格式；该测试主模块安装于该电脑主机中，用以测试该键盘模块并根据该多个按键码而判断该多个按键是否通过测试。可选地，当该编码模块被启动而依序分配每一该按键码给每一该按键时，该编码模块依序分配多个按键序号中的每一该按键序号给每一该按键，并根据该多个按键序号以及该多个按键码而产生对应于该多个按键的多个按键判断式，且该多个按键判断式形成一测试子模块。可选地，该测试主模块根据该测试子模块而依序接收对应于该多个按键的该多个按键码，且该测试主模块于接收到每一该按键码时判断该键盘模块通过测试；或该测试主模块于一预设时间内未接收到每一该按键码时判断该键盘模块未通过测试。可选地，该多个按键码包括有相对应的多个人机接口装置用途辨识码(HumanInterface Device Usage ID, HID Usage ID),且该多个按键码的格式皆为键盘类页。可选地，该多个按键码皆为8字节(bytes)，而每一该按键序号是一正整数，且该多个按键序号是以由小至大的顺序排列。可选地，所述键盘模块的测试系统还包括屏幕，该屏幕连接于该电脑主机，用以显示该编码模块的一编码接口以及该测试模块的一测试接口 ；其中该编码接口显示起始按键序号设定栏、目前按键序号显示栏、按键码显示栏、编码开始选项、编码停止选项、产生判断式选项以及离开编码选项，而该测试接口显示被测试按键栏、测试按键数量栏以及离开测试选项。本专利技术还提供一种测试键盘模块的方法，用以测试一键盘模块，该键盘模块具有多个按键，该方法包括依序接收多个按键序号以及 多个按键码，并分配该多个按键序号中的每一该按键序号以及该多个按键码中的每一该按键码给该多个按键中的每一该按键；根据该多个按键序号以及该多个按键码而产生对应于该多个按键的按键判断式；以及根据该多个按键判断式依序接收对应于每一该按键的每一该按键码，并根据每一该按键码而判断对应于每一该按键码是否通过测试；其中该多个按键码的格式相同。可选地，当接收到每一该按键码时，判断该键盘模块通过测试；而当于一预设时间内未接收到每一该按键码时，判断该键盘模块未通过测试。可选地，该多个按键码本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张倍铭，
申请(专利权)人：致伸科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：