一种硬度测试仪，包括：监视器，其能够显示主画面和辅助画面；第一测试位置设置器，用于设置压痕形成位置的坐标点，并且存储所设置的坐标点的设置条件和第一个试样的表面图像；第二测试位置设置器，用于在将第二个试样的表面图像显示在所述主画面上时，将所述第一个试样的表面图像显示在所述辅助画面中，并且当对所述第二个试样的表面图像设置了基准坐标时，基于所设置的基准坐标和所述第一测试位置设置器所设置的坐标点的设置条件来确定压痕形成位置的坐标点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及硬度测试仪。
技术介绍
传统上，已知有如下的硬度测试仪(例如，参见日本特开2003-166923)在该硬度测试仪中，使加载有预定载荷的压头压抵试样的表面以形成压痕，并且基于该压痕的对角线长度和所加载的载荷来评价该试样的硬度。在这种硬度测试仪中，在对多个试样进行相同的测试的情况下，首先，在针对第一个试样的测试期间，在该试样的预定位置处设置坐标系，并且存储用于在该坐标系中的预定点处进行测试的测试过程。然后，对于随后的试样， 当设置了坐标系时，使用所存储的测试过程来重复与对第一个试样进行的测试相同的测试ο然而，在硬度测试仪中，通常在照相机中安装相对高倍率的镜头，从而提高读取压痕的精度。这使得难以识别在照相机图像中拍摄了哪个试样的什么位置，因而难以对随后的试样设置已对第一个试样设置的坐标系。因此，存在以下问题当对多个试样进行相同的测试时，可操作性差并且有可能进行了不正确的测试。
技术实现思路
本专利技术的特征在于提高硬度测试仪在对多个试样进行相同的测试的情况下的可操作性。为了实现以上特征，本专利技术的一个方面是一种硬度测试仪，用于通过使加载有预定载荷的压头顺次压抵安装在试样台上的多个试样的表面来形成压痕。所述硬度测试仪包括显示器、第一测试位置设置器和第二测试位置设置器。所述显示器能够显示主画面和辅助画面。所述主画面显示所述多个试样中的、将通过使用所述压头形成压痕的试样的表面图像。所述辅助画面显示辅助图像以辅助用户。所述第一测试位置设置器设置所述多个试样中的第一个试样的测试位置。所述第二测试位置设置器设置所述多个试样中的第二个或随后的试样的测试位置。所述第一测试位置设置器包括第一坐标设置器、压痕形成位置设置器、设置条件存储器和图像存储器。在将所述第一个试样的表面图像显示在所述主画面上的情况下，所述第一坐标设置器响应于用户对所述第一个试样的表面图像进行的坐标设置操作而对所述第一个试样的表面图像设置基准坐标。在所述第一坐标设置器设置了所述基准坐标之后，所述压痕形成位置设置器响应于用户对所述第一个试样的表面图像进行的压痕形成位置设置操作而设置压痕形成位置的坐标点。所述设置条件存储器存储所述压痕形成位置设置器所设置的坐标点的设置条件。所述图像存储器存储显示在所述主画面中的所述第一个试样的表面图像。所述第二测试位置设置器包括辅助图像显示控制器、第二坐标设置器和压痕形成位置确定器。在将所述第二个或随后的试样的表面图像显示在所述主画面上的情况下，所述辅助图像显示控制器将所述第一个试样的表面图像显示在所述辅助画面中作为辅助图像。所述第二坐标设置器响应于用户对显示在所述主画面上的所述第二4个或随后的试样的表面图像进行的坐标设置操作而对所述第二个或随后的试样的表面图像设置基准坐标。所述压痕形成位置确定器基于所述第二坐标设置器所设置的基准坐标和存储在所述设置条件存储器中的坐标点的设置条件来确定压痕形成位置的坐标点。根据本专利技术的另一方面，上述硬度测试仪还包括主图像显示控制器，所述主图像显示控制器用于将通过所述坐标设置操作所指定的位置和通过所述第一坐标设置器所设置的基准坐标叠加显示在所述主画面显示的所述第一个试样的表面图像上。根据本专利技术的另一方面，在上述硬度测试仪中，所述图像存储器还存储如下的图像该图像将通过所述坐标设置操作所指定的位置和通过所述第一坐标设置器所设置的基准坐标叠加显示在所述第一个试样的表面图像上；以及所述辅助图像显示控制器将如下的图像显示在所述辅助画面上该图像将通过所述坐标设置操作所指定的位置和通过所述第一坐标设置器所设置的基准坐标叠加显示在所述第一个试样的表面图像上。根据本专利技术的另一方面，在上述硬度测试仪中，所述图像存储器存储形成有压痕的所述第二个或随后的试样的表面图像。根据本专利技术，当在第二个或随后的试样上形成压痕时，可以显示当在第一个试样上形成压痕时所存储的表面图像。因此，用于对第二个或随后的试样设置已对第一个试样设置的基准坐标的操作变得容易理解，并且即使在对多个试样进行相同的测试的情况下， 也可以高效正确地进行该测试。此外，可以使用已对第一个试样设置的压痕形成位置的坐标点的设置条件来设置第二个或随后的试样的压痕形成位置的坐标点。因此，即使在对多个试样进行相同的测试的情况下，也可以高效正确地进行该测试。附图说明在下文中，参考多个附图，利用关于本专利技术的典型实施方式的非限制性示例来进一步详细说明本专利技术，其中，在这些附图中，相同的附图标记表示相同的部分，并且图1是示出安装在试样台上的试样的示意图；图2是示出根据本专利技术的硬度测试仪的整体结构的示意图；图3是示出图1所示的硬度测试仪的测试仪本体的示意图；图4是示出图1所示的硬度测试仪的关键部分的结构的示意图；图5是示出图1所示的硬度测试仪的硬度测量器的示意图；图6是示出图1所示的硬度测试仪的控制结构的框图；图7是对第一个试样进行测试时显示在监视器上的显示画面的示例；图8是对第二个或随后的试样进行测试时显示在监视器上的显示画面的示例；图9 (a) 9(d)示出用于说明主图像的转变的图；图10(a) 10(c)示出用于说明主图像和辅助图像的转变的图；图11是用于说明使用图1所示的硬度测试仪进行的测量处理的流程图；图12是示出图11的第一测试位置设置处理的流程图；图13是示出图11的第二测试位置设置处理的流程图；以及图14是示出试样的变形例的图。具体实施方式这里所说明的具体示例是举例，仅用于说明性地论述本专利技术的实施例，并且提供这些具体示例是为了提供有助于容易地理解本专利技术的原理和概念方面的描述。在这方面， 没有更详细地示出理解本专利技术所需的基本结构细节以外的结构细节，其中，参考附图来进行说明以使本领域的技术人员清楚本专利技术可实际实施的方式。以下参考附图来详细说明根据本实施例的硬度测试仪。以下分别选择硬度测试仪的左右方向、前后方向和高度方向作为X方向、Y方向和ζ方向。如图1所示，根据本实施例的硬度测试仪100例如是能够对安装在试样台2上的相同形状的多个试样S(S1 S4)顺次形成压痕的硬度测试仪。在硬度测试仪100中，执行 “第一测试位置设置处理”和“第二测试位置设置处理”，其中，该第一测试位置设置处理用于对第一个试样设置测试位置，该第二测试位置设置处理用于对第二个或随后的试样设置测试位置。在第一测试位置设置处理中，对第一个试样设置测试位置，并且存储此时进行的设置过程。此外，在第二测试位置设置处理中，通过使用在第一测试位置设置处理期间所存储的设置过程重复相同的测试，来对第二个或随后的试样设置测试位置。这使得硬度测试仪100可以对相同形状的多个试样S顺次进行相同的测试。具体地，硬度测试仪100例如是显微维氏硬度测试仪，并且如图2 6所示，包括测试仪本体10、控制器6、操作器7和监视器8等。如图3和4所示，测试仪本体10例如包括硬度测量器1，用于对试样S进行硬度测量；安装有试样S的试样台2 ；XY台3，用于使试样台2移动；AF(Z)台4，用于聚焦于试样 S的表面；以及升降机构5，用于使试样台2 (XY台3和AF(Z)台4)上下移动；等等。如图5所示，硬度测量器1例如包括照明装置11，用于对试样S的表面进行照明； CCD (电荷耦合器件)照相机12，用于拍摄试样S的表面的图像；以及本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2010.10.06 JP 2010-2262921.一种硬度测试仪，用于通过使加载有预定载荷的压头顺次压抵安装在试样台上的多个试样的表面来形成压痕，所述硬度测试仪包括显示器，用于显示主画面和辅助画面，其中，所述主画面用于显示所述多个试样中的、将通过所述压头形成压痕的试样的表面图像，并且所述辅助画面用于显示辅助图像以辅助用户；第一测试位置设置器，用于设置所述多个试样中的第一个试样的测试位置；以及第二测试位置设置器，用于设置所述多个试样中的第二个或随后的试样的测试位置，其中，所述第一测试位置设置器包括第一坐标设置器，用于当将所述第一个试样的表面图像显示在所述主画面上时，响应于用户对所述第一个试样的表面图像进行的坐标设置操作，对所述第一个试样的表面图像设置基准坐标；压痕形成位置设置器，用于在所述第一坐标设置器设置了所述基准坐标之后，响应于用户对所述第一个试样的表面图像进行的压痕形成位置设置操作，设置压痕形成位置的坐标点；设置条件存储器，用于存储所述压痕形成位置设置器所设置的坐标点的设置条件；以及图像存储器，用于存储显示在所述主画面上的所述第一个试样的表面图像，所述第二测试位置设置器包括辅助图像显示控制器，用于当将所述第二个或随后的试样的表面图像显示在所述主画面上时，将所述第一个试样的表面图像显示在所述辅助画面中作为所述辅助图像；第二坐标设置器，用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：竹村文宏，有我幸三，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：
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