微分头示值误差的检定测试用工装制造技术

本实用新型专利技术属于检定测试技术，涉及一种用于检定微分头示值误差的检定测试用工装。所述微分头示值误差的检定测试用工装，包括安装在工装基座上的作为装夹机构的滑动装置和作为测试基准机构的固定装置，所述固定装置上设有末端具有调零旋扭的固定套筒，该固定套筒内具有直进式微调测砧，所述直进式微调测砧前端设置有球形测帽；所述滑动装置包括依次相连的微分头固定套筒、活动套筒和测力棘轮，其中，微分头测杆装在微分头固定套筒内，且测试时，所述球形测帽之间和微分头测杆之间放置标准样块。本实用新型专利技术能在检定测试过程方便地对微分头示值误差进行检定，保证了测试精度，大大提高了测试效率。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

、本技术属于检定测试技术，涉及用一种装置检定微分头示值误差的检定测试用工装O
技术介绍
在微分头示值误差的检定时，由于微分头刚度大，精度要求高，其检定过程无便捷、可靠的检测方法，导致检测效率很低。目前一种现有的微分头示值误差的检定，以5等专用量块作标，用千分尺弓架作夹具。检定时，首先要选择相应规格的千分尺，拆卸其弓架与微分头相配。因千分尺弓架测砧和微分头工作面不平行，导致检定结果不可靠。
技术实现思路
技术的目的是提出一种检定精度高、检定方便的微分头示值误差的检定测 1 式用工^^ ο技术的技术方案是一种微分头示值误差的检定测试用工装，包括安装在工装基座上的作为装夹机构的滑动装置和作为测试基准机构的固定装置，所述固定装置上设有末端具有调零旋扭的固定套筒，该固定套筒内具有直进式微调测砧，所述直进式微调测砧前端设置有球形测帽；所述滑动装置包括依次相连的微分头固定套筒、活动套筒和测力棘轮，其中，微分头测杆装在微分头固定套筒内，且测试时，所述球形测帽之间和微分头测杆之间放置标准样块。所述标准样块为5等量块或相应等级的专用量块。所述滑动装置由滑块紧固螺钉固定在工装基座上。所述固定套筒、微分测量杆以及固定装置均由固定螺钉固定。技术的优点是本技术微分头示值误差的检定测试用工装结构设计符合阿贝原则，解决了微分头与千分尺弓架装夹中因配合不当而影响检定结果的难题，能在检定过程方便地对微分头示值误差进行快捷、稳定、有效的检定，避免了不必要的浪费，有效提高了检定过程的稳定性，检定结果的可靠性和检定效率，保证了检定质量。附图说明图1是本技术微分头示值误差的检定测试用工装的结构示意图；其中，1-调零旋扭、2-固定套筒、3-微调测砧、4-球形测帽、5-微分头测杆、6-活动套筒、7-测力棘轮、8-微分头固定套筒、9-滑动装置、10-固定装置、12-紧固螺钉、13-滑块紧固螺钉、15-工装基座、16-专用量块。具体实施方式下面对本技术做进一步详细说明。请参见图1，其是本技术微分头示值误差的检定测试用工装的结构示意图。所述微分头检定测试用工装包括安装在工装基座15上的滑动装置9和固定装置10。其中，所述固定装置10上设有末端具有调零旋扭1的固定套筒2，该固定套筒内具有直进式微调测砧3，所述直进式微调测砧3前端设置有球形测帽4。另外，所述固定装置10上设置有用于紧固直进式微调测砧3的紧固螺钉12。所述装配好的调零旋扭1、固定套筒2、直进式微调测砧3、球形测帽4、固定装置10和紧固螺钉12组成测试基准机构。所述滑动装置9包括依次相连的微分头固定套筒8、活动套筒6和测力棘轮7。其中，微分头测杆5装在微分头固定套筒8内，并由紧固螺钉12固定，而测力棘轮7与活动套筒6相连。整个滑动装置9由滑块紧固螺钉13固定在工装基座15上。所述微分头固定套筒8、活动套筒6和测力棘轮7以及紧固螺钉组成装夹机构。该工装实际工作时把微分头装夹在滑动装置9中，锁紧紧固螺钉，调整微分头处于待检状态。转动测力棘轮7使微分头测杆5的工作面与球形测帽4接触，利用调零旋钮 1调整好零位。然后，分别锁紧紧固螺钉12和滑块紧固螺钉13，即可进行检定测试。将5等量块或相应等级的专用量块16依次放入微分头测杆5的工作面和球形测帽4之间。再利用微分头测力棘轮7使微分头测杆5的工作面、专用量块16的工作而以及球形测帽4相接触，读取微分头固定套筒8上露出的刻线和微分头活动套筒6上刻线显示的示值。该检测点的示值与量块标称尺寸之差即为该点的示值误差。本技术微分头示值误差的检定测试用工装结构设计符合阿贝原则，解决了微分头与千分尺弓架装夹中因配合不当而影响检定结果的难题，能在检定过程方便地对微分头示值误差进行检定，避免了不必要的浪费，有效提高了检定过程的稳定性，检定结果的可靠性，保证了检定质量，提高工作效率5倍。达到了快捷、稳定、有效的目的。权利要求1.一种微分头示值误差的检定测试用工装，包括安装在工装基座上的作为装夹机构的滑动装置和作为测试基准机构的固定装置，其特征在于所述固定装置 上设有末端具有调零旋扭的固定套筒，该固定套筒内具有直进式微调测砧 ，所述直进式微调测砧前端设置有球形测帽；所述滑动装置包括依次相连的微分头固定套筒、活动套筒和测力棘轮，其中，微分头测杆装在微分头固定套筒内，且测试时，所述球形测帽之间和微分头测杆之间放置标准样块。2.根据权利要求1所述的微分头示值误差的检定测试用工装，其特征在于所述标准样块为5等量块或相应等级的专用量块。3.根据权利要求2所述的微分头示值误差的检定测试用工装，其特征在于所述滑动装置由滑块紧固螺钉固定在工装基座上。4.根据权利要求3所述的微分头示值误差的检定测试用工装，其特征在于所述固定套筒、微分测量杆以及固定装置均由固定螺钉固定。专利摘要本技术属于检定测试技术，涉及一种用于检定微分头示值误差的检定测试用工装。所述微分头示值误差的检定测试用工装，包括安装在工装基座上的作为装夹机构的滑动装置和作为测试基准机构的固定装置，所述固定装置上设有末端具有调零旋扭的固定套筒，该固定套筒内具有直进式微调测砧，所述直进式微调测砧前端设置有球形测帽；所述滑动装置包括依次相连的微分头固定套筒、活动套筒和测力棘轮，其中，微分头测杆装在微分头固定套筒内，且测试时，所述球形测帽之间和微分头测杆之间放置标准样块。本技术能在检定测试过程方便地对微分头示值误差进行检定，保证了测试精度，大大提高了测试效率。文档编号G01B21/00GK202304781SQ20112037862公开日2012年7月4日 申请日期2011年9月29日 优先权日2011年9月29日专利技术者杨晓云, 王荣芳, 范学江, 赵晓琴, 韩敏 申请人:中国航空工业第六一八研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓云，韩敏，赵晓琴，王荣芳，范学江，
申请(专利权)人：中国航空工业第六一八研究所，
类型：实用新型
国别省市：