微波加热装置制造方法及图纸

在微波加热装置中，控制部(7)构成为，交替重复进行如下的动作，确定对被加热物进行加热的振荡频率和相位值：固定相位可变部的相位值，改变振荡部的振荡频率，并且由功率检测部检测反射功率，由此检测关于振荡频率的反射功率特性的扫描动作；和固定振荡部的振荡频率，改变相位可变部的相位值，并且由功率检测部检测反射功率，由此检测关于相位值的反射功率特性的扫描动作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及具有使用半导体元件构成的微波产生单元的微波加热装置。
技术介绍
作为具有使用半导体元件构成的微波产生单元的以往的微波加热装置，提出了具有以下部件的微波加热装置由半导体元件构成的振荡部、对振荡部的输出进行放大的多个放大部、用于配置被加热物并进行加热的加热室、向加热室提供微波的供电部和检测供电部的阻抗的阻抗检测部(例如，参照专利文献1)。专利文献1所公开的微波加热装置的目的在于，根据阻抗检测部的检测结果控制振荡部的振荡频率，从而在加热室内进行没有加热不勻的稳定的烹调。此外，在专利文献2中公开了具有以下部件的微波加热装置振荡频率可变的微波加热电源、将微波功率放射到加热室的天线和对来自天线的反射功率进行检波的检波器。在该以往的微波加热装置中，构成为追踪反射功率最小的微波加热电源的频率，以检测到的频率附近的频率对微波加热电源进行驱动，从而以较高的功率效率对微波加热电源进行驱动。并且，在专利文献3中，公开了如下的微波加热装置，其具有由半导体元件构成的振荡部、将振荡部的输出分割为多个的分配部、分别对所分配的各个振荡部的输出进行放大的多个放大部、和对放大部的输出进行合成的合成部，并在分配部与放大部之间设置了相位器。在该专利文献3所公开的微波加热装置中，具有用相位器的相位控制改变两个输出的功率比率的结构、和将两个输出之间的相位控制为同相或反相的结构。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开昭59-165399号公报专利文献2 日本特公昭62-048354号公报专利文献3 日本特开昭56-132793号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，在上述以往的微波加热装置的供电方式中，如以下所说明那样，具有难以始终以期望的状态对收纳在加热室内的具有各种形状、种类和量的不同的被加热物进行加热处理的问题。在以往的微波加热装置中，能够依照加热室的阻抗和反射功率的检测结果，使振荡频率优化来控制加热状态，并且能够以较高的功率效率进行加热动作。但是，对加热室内的被加热物而言，来自一处的微波功率供电不足以分别适当处理具有各种形状、种类和量的不同的被加热物。此外，在使用半导体元件构成振荡部的微波加热装置中，为了形成与市场出售的在振荡部中使用磁控管的现有的微波炉相同的微波输出，设置多个使用了半导体元件的末级放大部，并从多个末级放大部对设置在加热室中的多个供电部分别传播微波的结构是最价廉、且性能稳定的结构。在将前述的现有的微波加热装置的结构应用到多处的供电部的情况下，仅检测加热室的阻抗不能掌握供电部之间的透射功率的影响，因此检测误差变大。此外，在使多处供电部以相同的振荡频率进行动作、并追踪振荡频率的控制中，与从一处进行供电的情况相比没有较大差别，不足以处理具有各种形状、种类和量的不同的被加热物。并且，在将以往的微波加热装置的结构应用到多处的供电部的情况下，在所有的组合条件下进行加热室的反射功率的检测，因此存在对于多处的供电部的振荡频率的控制和相位差的控制需要较多时间的问题。其结果，存在从使用者进行设定到开始起动实际的加热动作为止花费过多时间的问题。本专利技术的目的在于解决前述的以往的微波加热装置中的课题，提供一种微波加热装置，其能够在短时间内检测用于以期望状态对具有各种形状、种类和量的不同的被加热物进行加热的加热条件，在该加热条件下进行加热，并且能够大幅度减少在加热动作中从加热室返回的微波功率(反射功率)，从而对被加热物高效进行加热。用于解决课题的手段本专利技术的第1方式的微波加热装置具有收纳被加热物的加热室；具有半导体元件而构成的振荡部；功率分配部，其将所述振荡部的输出分配为多个；相位可变部，其能够改变所述功率分配部的输出相位；多个放大部，其对所述相位可变部或所述功率分配部的输出进行功率放大；多个供电部，其将所述放大部的输出提供给所述加热室；多个功率检测部，其对从所述加热室经由所述供电部传播到所述放大部的反射功率进行检测；以及控制部，其对所述振荡部的振荡频率和所述相位可变部的输出相位进行控制，所述控制部具有频率扫描部，其进行固定所述相位可变部的输出相位，改变所述振荡部的振荡频率，并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的频率检测动作，检测频率扫描特性；相位扫描部，其进行固定所述振荡部的振荡频率，改变所述相位可变部的相位值，并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的相位检测动作，检测相位扫描特性；以及扫描控制部，其控制成交替重复所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作，并根据检测到的所述频率扫描特性和所述相位扫描特性确定对所述被加热物进行加热的振荡频率和相位值。在如上那样构成的第1方式的微波加热装置中，能够在短时间内检测使得反射功率最小的加热条件即振荡频率和相位值，能够在短时间内起动对于具有各种形状、种类和量的不同的被加热物而言的最佳加热动作。在本专利技术的第2方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1方式的所述扫描控制部在开始所述被加热物的加热前，根据由所述频率扫描部的频率检测动作检测到的频率扫描特性、和由所述相位扫描部的相位检测动作检测到的相位扫描特性，确定对所述被加热物进行加热的振荡频率和相位值。在本专利技术的第3方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1或第2方式的所述扫描控制部最初进行所述频率扫描部中的频率检测动作，检测使得反射功率最小的振荡频率，接着根据检测到的振荡频率固定所述振荡部的振荡频率，进行所述相位扫描部的相位检测动作，检测使得反射功率最小的输出相位，然后交替重复以检测到的相位值固定所述相位可变部的输出相位而进行的所述频率扫描部的频率检测动作、和以检测到的振荡频率固定所述振荡部的振荡频率而进行的所述相位扫描部的相位检测动作。在本专利技术的第4方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1或第2方式的所述扫描控制部在所述频率扫描部执行频率检测动作后，至少存储在紧前的所述频率扫描部的频率检测动作中所述相位可变部的相位值所固定在的相位值、反射功率表现为最小的振荡频率和反射功率的最小值。在本专利技术的第5方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1或第2方式的所述扫描控制部在所述相位扫描部执行相位检测动作后，至少存储在紧前的所述相位扫描部的相位检测动作中所述振荡部的振荡频率所固定在的振荡频率、反射功率表现为最小的相位值和反射功率的最小值。在本专利技术的第6方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1 第3方式的所述扫描控制部交替重复所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作，直到满足预先设定的结束判断条件为止。在本专利技术的第7方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1 第3方式的所述扫描控制部以所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作中检测到的反射功率的最小值小于预先设定的阈值作为第1结束判断条件，在满足该第1结束判断条件时停止所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作的重复动作。在本专利技术的第8方式的微波加热装置中，也可以构成为所述第1 第3方式的所述扫描控制部以在所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作的重复动作中，检测到的振荡频率或相位值相对于在紧前的频率检测动作或相位检测动作中检测到的振荡频率或相位值的变化量小于预先设定的阈值作为第2结束判断条件，在满足本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.09.03 JP 2009-2032631.一种微波加热装置，其具有 收纳被加热物的加热室；具有半导体元件而构成的振荡部；功率分配部，其将所述振荡部的输出分配为多个；相位可变部，其能够改变所述功率分配部的输出相位；多个放大部，其对所述相位可变部或所述功率分配部的输出进行功率放大；多个供电部，其将所述放大部的输出供给到所述加热室；多个功率检测部，其对从所述加热室经由所述供电部传播到所述放大部的反射功率进行检测；以及控制部，其对所述振荡部的振荡频率和所述相位可变部的输出相位进行控制， 所述控制部具有频率扫描部，其进行固定所述相位可变部的输出相位，改变所述振荡部的振荡频率，并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的频率检测动作，检测频率扫描特性；相位扫描部，其进行固定所述振荡部的振荡频率，改变所述相位可变部的相位值，并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的相位检测动作，检测相位扫描特性；以及扫描控制部，其控制为交替重复所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作，并根据检测到的所述频率扫描特性和所述相位扫描特性确定对所述被加热物进行加热的振荡频率和相位值。2.根据权利要求1所述的微波加热装置，其中，所述扫描控制部构成为，在开始所述被加热物的加热前，根据由所述频率扫描部的频率检测动作检测到的频率扫描特性、和由所述相位扫描部的相位检测动作检测到的相位扫描特性，确定对所述被加热物进行加热的振荡频率和相位值。3.根据权利要求1或2所述的微波加热装置，其中，所述扫描控制部构成为，最初进行所述频率扫描部的频率检测动作，检测使得反射功率最小的振荡频率，接着根据检测到的振荡频率固定所述振荡部的振荡频率，进行所述相位扫描部的相位检测动作，检测使得反射功率最小的输出相位，然后交替重复以检测到的相位值固定所述相位可变部的输出相位而进行的所述频率扫描部的频率检测动作、和以检测到的振荡频率固定所述振荡部的振荡频率而进行的所述相位扫描部的相位检测动作。4.根据权利要求1或2所述的微波加热装置，其中，所述扫描控制部构成为在所述频率扫描部执行频率检测动作后，至少存储在紧前的所述频率扫描部的频率检测动作中所述相位可变部的相位值所固定在的相位值、反射功率表现得最小的振荡频率和反射功率的最小值。5.根据权利要求1或2所述的微波加热装置，其中，所述扫描控制部构成为在所述相位扫描部执行相位检测动作后，至少存储在之前的所述相位扫描部的相位检测动作中所述振荡部的振荡频率所固定在的振荡频率、反射功率表现得最小的相位值和反射功率的最小值。6.根据权利要求1 3中任一项所述的微波加热装置，其中，所述扫描控制部构成为交替重复所述频率扫描部的频率检测动作和所述相...

【专利技术属性】
技术研发人员：大森义治，信江等隆，安井健治，三原诚，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：