显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置制造方法及图纸

使构成液晶显示面板(2)的像素的多种着色层每隔1列地点亮，利用具有多个拍摄像素的CCD照相机(3)，一边使CCD照相机(3)每次移动事先设定的距离，一边对像素进行多次拍摄。运算多次拍摄的每一次的拍摄像素的亮度数据，合成亮度数据，取得合成后的亮度数据。根据合成后的亮度数据，取得与构成用CCD照相机(3)拍摄的像素的多个图像元素各自对应的亮度数据，根据与多个图像元素各自对应的亮度数据，检测多个图像元素各自的亮点缺陷的有无。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于检查液晶显示面板的亮点缺陷的有无的缺陷检查方法和缺陷检查装置。
技术介绍
近年来，强烈地要求可以进行更高质量的图像显示的液晶显示面板。但是，根据现在的液晶显示面板的制造技术，防止显示缺陷的发生是困难的。因此，为了提供减少了显示缺陷的高质量的液晶显示面板，在制造工序中，进行显示缺陷检查(画质检查)工序。另外，亮点(由图像元素之间的漏电导致的异常点亮)缺陷、黑点(不点亮)缺陷等显示面板的显示缺陷的有无的检查工序一般是通过检查员的目视来进行的。检查员进行的目视检查工序使用限度样品来进行，所述限度样品是可以看作合格品的最低质量的样品。更具体地说，例如，在亮点缺陷的检查中，检查员比较液晶显示面板和限度样品，由此进行合格与否(亮点缺陷的有无)的判定。但是，在目视检查工序中，存在：各检查员之间的合格与否的判定结果有偏差的问题；即使是同一检查员进行的检查，根据日期时间、检查环境，合格与否的判定结果有偏差的问题；以及因为需>要人力所以液晶显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.06.18 JP 2009-1456861.一种显示面板的缺陷检查方法，其特征在于，
检查具备彩色滤光片的显示面板的像素的亮点缺陷的有无，所
述彩色滤光片具有二维地排列有多个上述像素的显示区域，所述像
素包括多种着色层，
上述显示面板的缺陷检查方法至少包括：
点亮工序，在排列有上述多个着色层的列方向上使该多种着色
层每隔1列地点亮；
拍摄工序，利用具有多个拍摄像素的拍摄装置，一边使该拍摄
装置每次移动事先设定的距离，一边对上述像素进行多次拍摄；
亮度数据运算工序，运算上述多次拍摄的每一次的上述拍摄像
素的亮度数据；
亮度数据合成工序，合成上述亮度数据，取得合成后的亮度数
据；
位置数据取得工序，取得多个图像元素各自的位置数据，所述
多个图像元素构成用上述拍摄装置拍摄的上述像素；
亮度数据取得工序，根据上述合成后的亮度数据和上述多个图
像元素各自的位置数据，取得与多个图像元素各自对应的亮度数
据，所述多个图像元素构成用上述拍摄装置拍摄的上述像素；以及
亮点缺陷检测工序，根据与多个图像元素各自对应的亮度数
据，检测上述多个图像元素各自的亮点缺陷的有无。
2.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检查方法，其特征在
于，
上述点亮工序包括：第1点亮工序，使规定的上述着色层点亮；
和第2点亮工序，熄灭在该第1点亮工序中已点亮的上述着色层，并
且使在上述第1点亮工序中未点亮的上述着色层每隔1列地点亮。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的显示面板的缺陷检查方
法，其特征在于，
在上述亮点缺陷检测工序中，比较与上述多个图像元素各自对
应的亮度数据和事先设定的判定阈值，根据上述比较结果，检测上
述图像元素的亮点缺陷的有无。
4.根据权利要求3所述的显示面板的缺陷检查方法，其特征在
于，
根据与上述多个图像元素各自对应的亮度数据，算出上述多个
图像元...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本直基，吉元直树，上田泰广，植木章太，中西秀信，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：