干涂层厚度测量方法和仪器技术

技术编号:7336827 阅读:237 留言:0更新日期:2012-05-12 05:20
本发明专利技术提供施加到基底的涂层的厚度的测量和/或控制的仪器。实施本发明专利技术的仪器包括:涂层去除装置,去除一些涂层,部分暴露基底表面。该仪器还包括传感器装置,用于发射信号并检测从涂层表面和基底的暴露表面反射的信号,以生成一个或多个数据组,数据组包括表明涂层表面的位置和基底表面的位置的数据。传感器装置设置成远离涂层与基底,适于在基底和传感器装置之间相对运动时检测从基底表面反射的信号。仪器的处理装置处理由传感器装置生成的数据组,以确定在基底上的涂层的干燥厚度。本发明专利技术还提供使用本发明专利技术的仪器测量涂层的干燥厚度的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】干涂层厚度测量方法和仪器本专利技术的背景本专利技术涉及在基底表面上涂层的厚度的测量方法和使用这些方法的仪器。该专利技术特别但不仅仅应用于持续性或间歇性、基本上实时的干涂层厚度的测量,而涂层在涂装生产线上被施加在基底上。本专利技术的领域涂料在种类繁多的货物和产品的制造和加工中施加,这些产品包括金属板材和卷材,木地板,汽车,飞机,栅网,玻璃,包装,等等。在金属板材和卷材领域,基底通常是镀锌钢,铝,不锈钢,或锌合金涂层钢材,包括铝锌涂层钢和镁锌涂层钢。有可用来测量这些产品上的涂层厚度的设备,以避免昂贵的涂层材料的浪费,并确保成品的质量。这些设备包括磁传感器,超声波传感器,和诸如市售的DJH仪表系统(DJH 设计公司,奥克维尔,安大略省,加拿大)的机械-光学设备。该系统涉及机械地钻一个浅的弧坑穿过带涂层的表面进入位于下面的样品基底。样品然后放置在显微镜下,在高分辨率显示器上观看弧坑,以确定涂层厚度。类似地,通过从带涂层的产品切割下来的样品取断面,并在高放大倍率下观看样品来确定涂层厚度。其他方法包括使用千分尺来测量带涂层的物件厚度,剥离涂层,重新测量物件,并计算两个读数之间的差异,从而计算涂层厚本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:乌多·W·布赫
申请(专利权)人:乌多·W·布赫
类型:发明
国别省市:

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