【技术实现步骤摘要】
卷板厚度测量设备和方法本申请要求于2013年11月11日提交的第10-2013-0136325号韩国专利申请的优先权和权益,该韩国专利申请的全部内容通过引用被包含于此。
本专利技术的多个方面涉及一种卷板厚度测量设备及其方法。
技术介绍
伴随着近来对移动装置技术的开发和需求的增加,对作为移动装置的能量源的二次电池的需求正在快速增加。因此,正在对电池进行研究,以应对广泛且多样的需求。具体地说,对具有高的能量密度、放电电压和输出稳定性的锂二次电池的需求高。通常,通过下述步骤制造二次电池:通过在集流体的表面上涂覆活性物质来形成正极板和负极板(在下文中将均被称为电极板)并将隔板插入二者之间来形成电极组件,随后将电极组件置于由铝层叠片形成的圆柱形或棱柱形罐或者袋型壳中。此时,将液体电解质或固体电解质注入或灌输到电极组件中。在二次电池中,在保持电池质量的一致性的同时尽可能多地生产二次电池是重要的因素。因此,很好地管理形成在集流体上的卷板状电极板的厚度非常重要。在制造传统二次电池的电极板时,在绕着辊卷绕的电极板周围安装光学设备,并读取从光学设备获取的卷板状电极板的图像,由此测量电极板的厚度。然而,在传统的卷板厚度测量设备中,辊会由于辊的连续使用而变形,从而导致电极板厚度的测量误差。为了避免出现电极板厚度的测量误差,需要对卷板厚度测量设备进行校正。然而,卷板厚度测量设备的校正效果微乎其微,所以会无法避免突然出现的误差。
技术实现思路
本专利技术的多个方面提供了一种卷板厚度测量设备,该卷板厚度测量设备能够通过利用电极板的每个分量控制电极板的厚度来测量卷板状电极板的厚度而改善测量均 ...
【技术保护点】
一种卷板厚度测量设备,所述卷板厚度测量设备包括:旋转辊;电极板,绕辊卷绕并且沿辊的旋转方向移动;检测器,检测来自辊的外周表面或卷绕在辊上的电极板的外表面的光的量或图像;以及处理器,使用辊的外周表面的光的量或图像检测信号生成辊的外周表面的第一轮廓数据,将第一轮廓数据分成第一分量和第二分量,通过第一分量和第二分量中的每一个来计算参考数据和测量数据之间的差值,通过使用计算出的差值校正包括在第一轮廓数据中的第一分量和第二分量的测量数据来生成第二轮廓数据,使用辊的外周表面的光的量或图像检测信号生成电极板的目标外表面的位移量数据,以及通过将第二轮廓数据与位移量数据进行比较来计算电极板的厚度。
【技术特征摘要】
2013.11.11 KR 10-2013-01363251.一种卷板厚度测量设备,所述卷板厚度测量设备包括:旋转辊;电极板,绕辊卷绕并且沿辊的旋转方向移动;检测器,检测来自辊的外周表面或卷绕在辊上的电极板的外表面的光的量或图像;以及处理器,使用辊的外周表面的光的量或图像检测信号生成辊的外周表面的第一轮廓数据,将第一轮廓数据分成第一分量和第二分量,通过第一分量和第二分量中的每一个来计算参考数据和测量数据之间的差值,通过使用计算出的差值校正包括在第一轮廓数据中的第一分量和第二分量的测量数据来生成第二轮廓数据,使用绕辊卷绕的电极板的目标外表面的光的量或图像检测信号生成电极板的目标外表面的位移量数据,以及通过将第二轮廓数据与位移量数据进行比较来计算电极板的厚度。2.如权利要求1所述的卷板厚度测量设备,其中,处理器包括:数据生成器,使用辊的外周表面和电极板的外表面的光的量或图像检测信号来生成第一轮廓数据和位移量数据;分量分离器,将第一轮廓数据分离为与偏离角相关的第一分量和与高度相关的第二分量;第一函数生成器和第二函数生成器,通过第一轮廓数据中的第一分量和第二分量中的每一个使用参考数据和测量数据之间的差值来生成用于通过第一分量和第二分量中的每一个校正测量数据的第一函数和第二函数;校正数据生成器,使用使生成的第一函数和第二函数彼此叠加的控制函数来生成第二轮廓数据;以及厚度计算单元,使用生成的第二轮廓数据和位移量数据计算电极板的厚度。3.如权利要求2所述的卷板厚度测量设备,其中,第一函数用来校正辊的外周表面上的在参考时间时的第一分量和在测量时间时的第一分量之间的角度差值。4.如权利要求3所述的卷板厚度测量设备,其中,角度差值被定义为基于在参考时间时的辊的外周表面在测量时间时相对于辊的外周表面的中央区域在辊的纵向方向上偏离的左区域和右区域的角度值。5.如权利要求2所述的卷板厚度测量设备,其中,第二函数用来校正辊的外周表面上的在参考时间时的第二分量和在测量时间时的第二分量之间的高度差值。6.如权利要求5所述的卷板厚度测量设备,其中,高度差值被定义为基于在参考时间时的辊的外周表面在测量时间时的辊的外周表面在辊的纵向方向上的高度值。7.如权利要求2所述的卷板厚度测量设备,其中,控制函数是通过将第一函数和第二函数叠加来校正包括在第一轮廓数据中的第一分量和第二分量中的每一个的测量数据的函数。8.如权利要求1所述的卷板厚度测量设备,其中,检测器包括:光源单元,将光照射到辊的外周表面和电极板的外表面;以及光学位移传感器,面对光源单元并且布置为使得辊位于光学位移传感器和光源单元之间,检测器根据从光源单元照射并已穿过辊的外周表面和电极板的目标外表面的光的量的分布来实时检测辊的外周表面的光的量和电极板的目标外表面的光的量。9.如权利要求8所述的卷板厚度测量...
【专利技术属性】
技术研发人员:全笔句,沈永喆,金哲弘,李濬燮,黄元炯,
申请(专利权)人:三星SDI株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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