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一种厚度测量装置制造方法及图纸

技术编号:10971656 阅读:127 留言:0更新日期:2015-01-30 01:48
本实用新型专利技术公开了一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。本实用新型专利技术在使用的时候,只需要将立柱调节到指定高度,然后将顶板与所被测物体的顶面相切,然后再将底板通过伸缩杆推送到与被测物体的底面相切,这样便可以很轻松的测得所测物体的高度,这是一种新的技术方案,便于推广使用。

【技术实现步骤摘要】
一种厚度测量装置
本技术涉及测量工具领域,特别是涉及一种厚度测量装置。
技术介绍
目前人们在测量物体厚度的时候,一般都是人工采用皮尺进行测量的,对于一些较高物品,在测量的过程中需要用梯子,这样测量比较麻烦,而且误差大。 综上所述,针对现有技术的缺陷,特别需要一种厚度测量装置,从而解决以上提到的问题。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术的问题是提供一种厚度测量装置。 为解决上述技术问题,本技术采用的一个技术方案是:提供一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。 在本技术一个较佳实施例中,所述活套上设有一用于观察刻度的放大镜。 在本技术一个较佳实施例中,所述底座的下方设有一耐磨垫,耐磨垫的下方设有一用于移动的导轮。 在本技术一个较佳实施例中,所述立柱是一种可调立柱。 本技术的有益效果是:本技术所述的一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。本技术在使用的时候,只需要将立柱调节到指定高度,然后将顶板与所被测物体的顶面相切,然后再将底板通过伸缩杆推送到与被测物体的底面相切,这样便可以很轻松的测得所测物体的高度,这是一种新的技术方案,便于推广使用。 【附图说明】 图1是本技术的结构示意图; 附图标记为 1、底座; 2、立柱; 3、刻度; 4、横板; 5、底板; 6、活套; 7、伸缩杆; 8、放大镜; 9、耐磨垫; 10、导轮。 【具体实施方式】 为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本技术。 如图1所示,本技术所述的一种厚度测量装置,包括底座I,底座I上设有一立柱2,所述立柱2上设有刻度3,立柱2的顶端设有一横板4,横板4的下方设有一移动的底板5,底板5的末端设有一用于在立柱上2滑动的活套6,底板5的下方设有一与底板5固定连接的伸缩杆7。 由本技术的一种优选方案,所述活套6上设有一用于观察刻度3的放大镜8。 由本技术的一种优选方案,所述底座I的下方设有一耐磨垫9,耐磨垫9的下方设有一用于移动的导轮10。 由本技术的一种优选方案,所述立柱2是一种可调立柱。 以上所述仅为本技术的实施例,并非因此限制本技术的专利范围,凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的
,均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种厚度测量装置,其特征在于,包括底座(1),底座(1)上设有一立柱(2),所述立柱(2)上设有刻度(3),立柱(2)的顶端设有一横板(4),横板(4)的下方设有一移动的底板(5),底板(5)的末端设有一用于在立柱上(2)滑动的活套(6),底板(5)的下方设有一与底板(5)固定连接的伸缩杆(7)。

【技术特征摘要】
1.一种厚度测量装置,其特征在于,包括底座(1),底座(I)上设有一立柱(2),所述立柱(2)上设有刻度(3),立柱(2)的顶端设有一横板(4),横板(4)的下方设有一移动的底板(5),底板(5)的末端设有一用于在立柱上(2)滑动的活套¢),底板(5)的下方设有一与底板(5)固定连接的伸缩杆(7)。2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:鲁明星
申请(专利权)人:唐山学院
类型:新型
国别省市:河北;13

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