光记录方法和光记录装置制造方法及图纸

使用从光记录介质中读取出的记录参数推荐值(WR)、预先求出的矢量信息(PC)和近似系数(Ca、Cb)，求出在记录中应该使用的记录参数(WU)(S24)，使用所求出的记录参数，进行针对光记录介质的写入(S17)。矢量信息(PC)是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值(WO)与记录参数推荐值(WR)之间的各个参数差分值(DF)统计求出的各参数的矢量成分，近似系数(Ca、Cb)是通过对转换信息(X)与表示各光记录介质的特征的特征信息(D)之间的关系进行近似而求出的，该转换信息(X)表示矢量信息(PC)与参数差分值(DF)之间的关系，该特征信息(D)是根据记录参数推荐值(WR)和矢量信息(PC)求出的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于对光盘进行信息记录的光记录方法和光记录装置，特别涉及在记录时使用的写策略(在记录中使用的激光器的发光控制设定值)或在记录功率的最佳控制 (OPC =Optimum Power Control)中使用的OPC用设定值等记录参数的决定方法。
技术介绍
为了对光盘进行信息记录，需要结合光盘的特性适当地调整作为在记录时使用的记录参数的写策略和OPC(记录功率的最佳控制)用的设定值。通常，在光盘中记录有由盘生产商确定的记录参数的推荐值，但是，用于决定所述推荐值的光记录装置的光拾取器与一般的光记录装置的光拾取器的规格不同的情况占绝大多数，所以在这种情况下，即使使用记录参数的推荐值也无法正常记录的情况较多。因此，一般地，光记录装置按照每个光盘的ID (识别信息)保持最佳的记录参数(写策略和OPC用设定值)并用于记录。但是，这样，为了使光记录装置针对光盘保持固有的最佳记录参数，需要按照每个光盘预先求出最佳的记录参数，例如存在如下问题在光记录装置出厂后，针对新发售的光盘，不能具有最佳的记录参数。作为其对应策略，存在如下技术读取由于试写而形成的坑(标记)部分，对读取出的坑部分的信号的偏差进行评价，反复调整写策略的修正使得所述偏差处于规定范围内 (例如参照专利文献1 5)。并且，存在如下技术读出在光盘中记录的写策略的推荐值， 根据写策略的开头脉冲宽度的推荐值，通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度(例如专利文献6)。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开2006-004601号公报(第1-14页、第1-16图)专利文献2 日本特开2006-031915号公报(第1-13页、第1-10图)专利文献3 日本特开2006-048907号公报(第1-16页、第1-19图)专利文献4 日本特开2006-164486号公报(第1-13页、第1-17图)专利文献5 日本特开2007-018582号公报(第1-11页、第1-11图)专利文献6 日本特许第3907630号公报(第1-15页、第1-11图)
技术实现思路
专利技术要解决的课题在上述现有的光记录装置中，在反复调整写策略的修正的情况下，到记录开始之前需要时间，大量消耗了有限的光盘的测试记录区域。并且，由于写策略的发光规则，需要调整的写策略的参数较多，仅变更各个参数，有时无法进行适当地调整。并且，在通过计算而求出写策略的情况下，根据在光盘中记录的写策略的推荐值的开头脉冲宽度的推荐值，通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度，存在只能够对应特定的发光规则而无法对应不同的发光规则的问题。本专利技术是为了解决上述问题而完成的，其目的在于，得到如下的光记录方法和光记录装置针对预先未判明最佳的记录参数的光盘，也能够求出可进行适当记录的记录参数，而不会在记录开始之前花费较长时间。并且，其目的在于，得到如下的光记录方法和光记录装置与写策略的发光规则或记录倍速无关，能够求出可进行适当记录的记录参数。用于解决课题的手段本专利技术的光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值、预先求出的矢量信息和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分，所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息求出的。专利技术效果根据本专利技术，在与光盘对应的最佳的记录参数不明的情况下，也能够迅速地求出最佳的记录参数。附图说明图1是示出在本专利技术的实施方式的光记录方法和装置中使用的光盘的结构的一例的图。图2是示出本专利技术的实施方式的光记录装置的框图。图3(a) (c)是示出在图2的再现特性测定部150中测定的再现信号的不对称的例子的图。图4是示出在图2的再现特性测定部150中测定的再现信号的调制度的例子的图。图5(a) (e)是示出在本专利技术的实施方式的光记录装置中、在针对光盘的记录为 EFM+(8-16)调制的情况(DVD的情况)下生成的写策略的一例的图。图6是示出本专利技术的实施方式1的光记录装置中的记录顺序的一例的流程图。图7是示出实施方式1的记录参数决定的处理(图6的步骤S14)的顺序的流程图。图8是示出实施方式1的光记录装置中的光盘500为DVD-R时的特征参数D与转换参数X之间的关系(实测结果)的图。图9是示出实施方式1的光记录装置中的光盘500为BD-R时的特征参数D与转换参数X之间的关系(实测结果)的图。图10是示出现有的记录参数的列表的图。图11是示出本专利技术的实施方式2的包含特征参数D和针对该特征参数D的记录参数的偏置量的列表的图。图12是示出本专利技术的实施方式2的记录参数决定的处理(图6的步骤S14)的顺序的流程图。图13是示出本专利技术的实施方式3的记录参数决定(图6的步骤S14)的处理的顺序的流程图。图14是示出本专利技术的实施方式4的光记录装置中的记录顺序的流程图。 具体实施例方式本专利技术的光记录方法和光记录装置针对预先记录有记录参数推荐值的光盘进行记录。通过该光盘的制造生产商，将记录参数推荐值作为适于在记录中使用的记录参数记录在光盘的规定区域、例如图1的导入区域中。并且，根据光盘的种类来决定用于决定记录参数推荐值的条件、例如光记录装置的光拾取器的规格(例如物镜的数值孔径NA或激光器的波长等)。这里，光盘的种类具有Blu-ray Disc (BD)、DVD、⑶等，还分别被分类为改写型和补记型。光盘所记录的记录参数推荐值包含写策略(脉冲宽度或边缘位置的设定值、记录功率和消去功率的比率等用于决定激光器的发光模式的记录参数的设定值)的推荐值和用于通过OPC对记录功率进行优化的推荐设定值(例如不对称值等)。进而，按照针对光盘进行记录时的记录速度或写策略的发光规则(例如呈多脉冲状发光的规则、呈非多脉冲状发光的规则等)，将记录参数推荐值记录在光盘中。所述记录参数推荐值假设在规定条件下进行记录。因此，如果记录条件不同，则优选利用与记录参数推荐值不同的记录参数进行记录。在本专利技术中，利用基于从光盘中读取出的记录参数推荐值和由在记录中使用的光记录装置的光拾取器求出的最佳记录参数之间的关系的系数，根据记录参数推荐值，决定在记录中使用的记录参数并进行记录。实施方式1以下说明的实施方式中的光记录方法进行标记边缘记录(PWM记录)。而且，根据要在光盘上记录的数据，按照写策略(在记录中使用的激光器发光波形规则)使半导体激光器发光，形成记录标记，由此进行信息记录。图2是示出本专利技术的实施方式1的光记录装置100的基本结构例的图。这里，图2 的光记录装置100示出向光盘500记录进行了 EFM+(8-16)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.05.18 JP 2009-1198181.一种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值、预先求出的矢量信息和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分， 所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息而求出的。2.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，所述转换信息是将所述矢量信息作为线性方程式的系数、将所述参数差分值作为所述线性方程式的常数时的线性方程式的解，所述特征信息是通过对所述记录参数推荐值的各参数进行基于所述矢量信息的加权而求出的、表示各光记录介质的特征的特征信息，所述近似系数是针对多个光记录介质求出的、通过对所述转换信息与所述特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数。3.—种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；特征信息计算步骤，根据在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的记录参数推荐值与预先求出的矢量信息之积，计算表示各光记录介质的特征的特征信息；差分值提取步骤，从存储单元中提取对应于在所述特征信息计算步骤中计算出的所述特征信息而预先确定并存储在所述存储单元中的、光记录介质的所述记录参数推荐值与在记录中应该使用的记录参数最佳值之间的差分值；记录参数决定步骤，通过对在所述差分值提取步骤中提取出的所述差分值加上所述记录参数推荐值，决定在记录中使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照加强参数相互间的相关性的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分。4.根据权利要求1、2或3所述的光记录方法，其特征在于，所述矢量信息是通过对多个光记录介质预先调查光记录介质的所述记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值并对所述差分值进行主成分分析而求出的主成分矢量。5.根据权利要求4所述的光记录方法，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率的变动在可容许的范围内，并且能够以低记录功率得到良好的记录性能。6.根据权利要求4所述的光记录方法，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率或由写策略规定的脉冲宽度的参数在多个光记录介质相互间为彼此接近的值。7.根据权利要求1或2所述的光记录方法，其特征在于，事先在多个光记录介质中求出转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息而求出的，所述近似系数是通过对所述特征信息与所述转换信息之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。8.—种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有所述记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述近似系数是通过对如下差分量与记录参数的推荐值之间的关系进行近似而求出的，该差分量是多个光记录介质的记录参数的推荐值与在记录中应该使用的记录参数的最佳值之间的差分量。9.根据权利要求8所述的光记录方法，其特征在于，所述近似系数是通过对所述差分量与所述记录参数的推荐值之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。10.根据权利要求1或8所述的光记录方法，其特征在于，该光记录方法还具有以下步骤记录性能判断步骤，通过使用在所述记录参数决定步骤中决定的记录参数进行试写， 确认记录性能，判断该记录性能优于预先确定的基准记录性能还是差于预先确定的基准记录性能；以及记录参数修正步骤，当在所述记录性能判断步骤中判断为差于基准记录性能的情况下，修正所述记录参数，当在所述记录性能判断步骤中判断为优于基准记录性能的情况下，在所述写入步骤中使用在该试写中使用的记录参数进行针对所述光记录介质的写入，在求出所述近似系数时，事先求出针对各个记录参数的近似精度，在所述记录参数修正步骤中，优先从所述近似...

【专利技术属性】
技术研发人员：岸上智，竹下伸夫，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：