一种线偏振光磁光效应检测方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种线偏振光经过磁光调制后偏振光稳定性、磁光调制深度、磁光调制角幅度的快速检测方法，还提供了一种能够实现上述三种检测方法的检测装置，解决了现有技术存在的技术问题。本发明专利技术的检测装置包括在入射光路上依次设置的通光孔、偏振棱镜、聚光透镜以及光电探测器和用以带动偏振棱镜水平旋转的旋转机构；所述旋转机构上设置有用以测试偏振棱镜水平旋转角度的测角码盘。本发明专利技术检测方法操作简便、避免了测试环境对检测精度的不利影响；本发明专利技术检测装置结构简明、稳定性较好，测试精度较高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种线偏振光磁光效应检测方法及其检测装置。
技术介绍
在精密测试计量
，偏振光及偏振光的磁光调制技术应用非常广泛，然而在应用过程中，对于偏光的稳定性、偏振器件的性能以及偏振光经过磁光调制后的状态不明确，从而影响了最终的测量精度。目前，应用线偏振光磁光调制技术进行精密测量时，是将经过磁光调制后的偏振光作为基准来检测目标相对于该基准的微小偏移量，或是根据偏振光经过目标后的状态变化对目标进行测量。所以，偏振器件的性能、经过磁光调制后的偏振光的性能对于测量非常关键，其稳定性直接影响到测量的精度。通过调研，现有的偏振光及偏振光磁光效应检测装置存在精度低、体积较大、受使用环境条件的制约等缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种线偏振光经过磁光调制后偏振光稳定性、磁光调制深度、磁光调制角幅度的快速检测方法，还提供了一种能够实现上述三种检测方法的检测装置，解决了
技术介绍
中存在的技术问题。本专利技术的技术解决方案是针对偏振光稳定性的检测，该线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤1)设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电探测器；2)调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振光入射方向垂直的平面内成90°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内a位置；3)水平转动偏振棱镜90°，再根据光电探测器的输出信号，水平微调偏振棱镜， 使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成0°或180°夹角，记此振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成0°或180°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内b位置，并记录此时的角度值；4)多次操作步骤2)和3)；5)根据多组所述测量角度值，统计计算得出被检线偏振光光轴的稳定度。上述步骤幻得出与b位置相对应的角度值为Xi ；步骤4)重复操作η次步骤2)和 3)；步骤幻所述统计计算是根据以下公式权利要求1.一种线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤1)设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电探测器；2)调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振光入射方向垂直的平面内成90°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内a位置；3)水平转动偏振棱镜90°，再根据光电探测器的输出信号，水平微调偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成0°或180°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内b位置，并记录此时的角度值；4)多次操作步骤2)和3)；5)根据多组所述测量角度值，统计计算得出被检线偏振光光轴的稳定度。2.根据权利要求1所述的线偏振光磁光效应检测方法，其特征在于步骤幻得出与b 位置相对应的角度值为Xi ；步骤4)重复操作η次步骤2、和幻；步骤幻所述统计计算是根据以下公式 n-l计算得到被检线偏振光光轴的稳定度S。3.一种线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤1)设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电探测器；2)调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振光入射方向垂直的平面内成45°夹角，测得此位置下光电探测器检测到的信号光强度最大值Imax和最小Imin ‘3)被检经过磁光调制线偏振光的磁光调制深度根据以下公式计算得到；π = (I -I . )/(1 +1 ■)L^ -'-max "lIhiii/ 1 ^ -'-max ^min/4)根据步骤；3)得到的磁光调制深度η的值，计算得到磁光调制的调制角幅度为θ = (arcsin η)/2。4.一种线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于包括在入射光路上依次设置的通光孔、偏振棱镜、聚光透镜以及光电探测器和用以带动偏振棱镜水平旋转的旋转机构；所述旋转机构上设置有用以测试偏振棱镜水平旋转角度的测角码盘。5.根据权利要求4所述的线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述偏振棱镜、聚光透镜和光电探测器置于一个密封的仪器罩内，所述光电探测器固定于该仪器罩内的底面上；所述旋转机构分为上、下两个部分，其中下部包括安装于检测装置的基座上作为动力输出的精密旋转轴和微调旋钮以及锁紧旋钮，上部伸入所述仪器罩内形成旋转架，所述偏振棱镜和聚光透镜依次位于该旋转架的中轴线上且以压圈方式固定。6.根据权利要求5所述的线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述偏振棱镜、聚光透镜置于一个偏振棱镜座上，偏振棱镜通过石膏进行固定，聚光透镜通过压圈进行固定， 压圈与偏振棱镜座螺纹连接；偏振棱镜座通过螺钉固定于仪器罩内的底面上。7.根据权利要求5所述线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述通光孔位于所述仪器罩顶部，通光孔位置安装经过淬火释放应力的密封玻璃，密封玻璃通过环形弹性压圈固定，所述环形弹性压圈与仪器罩通过螺纹连接且中心位于所述中轴线上。8.根据权利要求5所述线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述测角码盘分为定盘和动盘两部分，分别固定于基座和精密旋转轴上。9.根据权利要求5所述线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述光电探测器固定于信号处理电路板上，该信号处理电路板通过螺钉固定于仪器罩内的底面上，且光电探测器位于聚光透镜正下方。10.根据权利要求5所述线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于所述基座是带有 20"水准器的调平基座；所述20"水准器置于旋转机构上、下两部分之间外侧上端面，并由石膏灌封固定。全文摘要本专利技术提供了一种线偏振光经过磁光调制后偏振光稳定性、磁光调制深度、磁光调制角幅度的快速检测方法，还提供了一种能够实现上述三种检测方法的检测装置，解决了现有技术存在的技术问题。本专利技术的检测装置包括在入射光路上依次设置的通光孔、偏振棱镜、聚光透镜以及光电探测器和用以带动偏振棱镜水平旋转的旋转机构；所述旋转机构上设置有用以测试偏振棱镜水平旋转角度的测角码盘。本专利技术检测方法操作简便、避免了测试环境对检测精度的不利影响；本专利技术检测装置结构简明、稳定性较好，测试精度较高。文档编号G01M11/02GK102359865SQ20111023597公开日2012年2月22日 申请日期2011年8月17日 优先权日2011年8月17日专利技术者姚挺, 徐峰, 李鹏, 王卫峰, 陆卫国 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤：１）设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电探测器；２）调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振光入射方向垂直的平面内成９０°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内ａ位置；３）水平转动偏振棱镜９０°，再根据光电探测器的输出信号，水平微调偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成０°或１８０°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内ｂ位置，并记录此时的角度值；４）多次操作步骤２）和３）；５）根据多组所述测量角度值，统计计算得出被检线偏振光光轴的稳定度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王卫峰，李鹏，徐峰，陆卫国，姚挺，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：87