【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及玻璃，特别是一种平板有色玻璃滤光片均勻性的检测装置和方法。
技术介绍
在高功率激光及一般的激光研究中，激光具有较高的峰值功率和能量密度。在对激光参数进行诊断的过程中，需要对取样光束进行一定比例的衰减以满足测量设备的输入范围需求，不同型号的有色玻璃对不同波长的激光具有特定的透射系数，常用于对被测光束进行强度衰减；同时，特定的有色玻璃还用于隔离自然光及其他非被测光。在有色玻璃用于激光参数测量中时，特别是用于空间参数的诊断时，为了避免有色玻璃滤光片引入额外的光强调制，需要采用光学性能均勻的有色玻璃滤光片。有色玻璃滤光片的不均勻性主要包括加工过程中引入的内部应力不均勻性，导致光学性能不均勻；杂质及其他不均勻性。 因此需要对用于激光参数测量的平板有色玻璃滤光片进行均勻性检测，筛选出满足需要的样品。
技术实现思路
本专利技术所要解决的主要问题，是提供一种平板有色玻璃滤光片均勻性的检测装置和方法，以实现对平板有色玻璃滤光片均勻性的快速检测。本专利技术的技术解决方案如下一种平板有色玻璃滤光片均勻性的检测装置，包括半导体激光器，其特点在于沿所述的半导体激光器输出的激光...
【技术保护点】
１．一种平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置，包括半导体激光器（１），其特征在于：沿所述的半导体激光器（１）输出的激光方向依次是同光轴的扩束准直器（２）、样品夹持器（３）、成像透镜（５）和ＣＣＤ探测器（６），所述的ＣＣＤ探测器（６）位于所述的成像透镜（５）的焦平面，所述的ＣＣＤ探测器（６）的输出端接显示器（７），所述的样品夹持器（３）供待测的平板有色玻璃滤光片（４）夹持。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄奎喜，朱宝强，唐顺兴，欧阳小平，刘崇，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31
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