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一种平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法，装置包括半导体激光器，沿该半导体激光器输出的激光方向依次是同光轴的扩束器、样品夹持器、成像透镜和CCD探测器，所述的CCD探测器位于所述的成像透镜的焦平面，所述的CCD探测器的输出端接显示器的输...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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