【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体激光器用动态光谱测试方法及装置，特别是用于半导体激光器的老化试验，实现对器件的可靠性测试与评价。
技术介绍
为新一代信息化装备关键元件的半导体激光器，其质量和可靠性指标是保证应用系统长寿命、高可靠、高安全工作的关键因素。通过对半导体激光器可靠性的测试可以预测器件在正常工作条件下的寿命；检验器件的制作工艺；在较短时间内暴露器件的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因，淘汰早期失效产品；测定器件的极限使用条件。电老化的方法就是在一定电流下观察器件在老化期间输出功率的变化，或在一定的输出功率下观察电老化期间驱动电流的增长。目前，用于半导体激光器可靠性评估的电老化方法可分为2种，一种是短时间加速老化，用于器件筛选；另一种是高应力加速老化用于寿命评估。后一种情况时通常增加老化实验的温度，一般从25度增加到80度。半导体激光器的光谱特性是反映器件内在质量的重要信息，因而在半导体激光器老化试验中光谱特性测试是其非常重要的一部分。传统的测试方案主要采用单色仪、光谱仪和波长计来进行解调，但是这些方案的测试设备都有体积大、价格昂贵等缺点。特别是...
【技术保护点】
１．一种半导体光源动态参数的测试方法，其特征在于包括如下步骤：利用具有特定的发射光谱的半导体光源产生发射光；利用耦合元件耦合所述发射光，所述半导体光源的所述发射光被馈送到至少一个测量传感器，所述测量传感器具有特定的透射光谱，其所输出的透射光的光强由所述发射光谱和所述透射光谱的关系决定；利用探测设备测量所述透射光的光强；利用分析设备对所述探测设备的测量结果进行分析，得到所述半导体光源的状态参数。
【技术特征摘要】
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。