本发明专利技术涉及确定轴承壳体的凸起量的方法，所述方法包括如下步骤：a)在若干承载点处夹持轴承壳体(1)；b)向轴承壳体的至少一个点施加一个或多个测试力(F，x)以使轴承壳体弹性变形；c)在轴承壳体的一个或多个测量点处测量轴承壳体的变形；d)根据测量的变形确定凸起量。本发明专利技术另外涉及确定轴承壳体(1)的凸起量的装置，该装置包括：夹持装置(30)，适于在一个或更多个承载点处夹持轴承壳体(1)；一个或更多个变形设备(32)，适于向轴承壳体的至少一个点施加一个或更多个测试力(F，x)；一个或更多个测量装置(31)，当由所述变形设备向轴承壳体(1)的至少一个点施加一个或更多个测试力而使得轴承壳体弹性变形时，该测量装置能够在一个或更多个点处测量轴承壳体的变形；和确定凸起量的设备，能够根据测量的轴承壳体的变形确定轴承壳体的凸起量。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测量轴承壳体的凸起量的方法和装置。
技术介绍
图1示出了轴承壳体1，该轴承壳体1设置有滑动面11、轴承背面12和分离面10。 在附图中，在滑动面中示出了润滑槽和润滑孔。所示的轴承壳体1能够被用作例如连接杆支撑。如图2中所示，轴承壳体1通常具有展宽量d3，即横跨分离面所测量的轴承壳体1 的直径大于当轴承壳体(1)被适配在壳体座(housing receptacle)内时的轴承壳体直径 d2。这在装配时产生了抵接于壳体壁的良好托座，从而防止轴承壳体1脱出或者转动。轴承壳体1在安装状态中即没有展宽量时的半径指定为Q值。轴承壳体1也具有所谓的“凸出量”。在图3中，该凸出量标注为、。轴承壳体的周长比壳体座的周长大凸出量Sn的值。当轴承壳体1被安装时，轴承的周长通过弹性方式被缩短。由此产生的粉碎的压力保证轴承的正确落座。在图3中，轴承壳体1被压入测量凹部20。与测量凹部相关地观察，作为轴承壳体1的主要特征，凸出量、标注当轴承壳体 1通过轴承专用的施加力h被压入测量凹部20时，轴承壳体1的周长超过测量凹部20的周长的长度。D。b#注测量凹部的测试座直径。由于技术方面的原因，该主要特征不能可靠地制造，而必须根据设计规格进行测试。该凸出量的典型目标值是50 μ m至150 μ m，公差为 ΙΟμ 至 30μ ο根据图3中所示的现有技术的方法，轴承壳体1通过以限定的接近速度施加限定的插入力而被压入轴承专用的测量凹部20。在该处理中，寻求与坚固的、刚性地设计的凹部 20的形状配合。轴承壳体1的突起超过测量凹部的边缘的长度即凸出量、，通过接触或非接触装置测量。所述的方法要求该测量凹部和用于各轴承壳体类型的不同测量凹部的高的精度。 另外，摩擦影响对于测量结果能够具有不利的影响并且能够影响轴承壳体的特性。现有技术的其它方法或建议涉及周向测量，该测量是在伸展过轴承的背面或者通过使用摩擦轮沿背面行进的测量带的协助下进行的。测量带的可能的伸展或者摩擦轮的滑动能够对测量结果具有不利的影响。测量装置的磨损对于测量结果也具有不利的影响。所述的方法要求相对长的循环时间。需要经济的测量程序，该测量程序使得能够进行可再现的、可比较的并且可追踪的对于凸出量的测量，公差范围为10 μ m至30 μ m，无轴承专用的测量凹部，循环时间小于Is。DE 34 35 245 Al描述了确定轴承壳体的无负载凸出量值的方法。为此，凸出量的弹性缩短根据施加到轴承壳体的分离面的测试力来测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供确定轴承壳体的凸出量的、具有改进的效率的方法和装置。该目的通过根据权利要求1的方法和根据权利要求12的装置解决。使用根据本专利技术的方法，通过施加测试力根据轴承壳体的弹性变形来确定凸出量。为达到此目的，轴承壳体在多个承载点处被夹持。该夹持能够在离散的点处或者沿着承载部进行。在随后的步骤中，一个或更多个测试力被施加到轴承壳体的至少一个点或者至少一个区域，使得轴承壳体在径向上弹性变形。在变形期间或者在变形之后，所选择的轴承壳体的测量点在径向上的位移被测量。凸出量能够根据轴承壳体的变形来确定。由于轴承壳体在离散的点处或者在特定的区域被夹持，大体上遮盖整个外周的测量凹部能够被省略。通过这种方式，克服了上述的与测量凹部的使用相关联的缺点。对于变形的测量能够通过非接触装置和/或通过接触装置进行。该测量也能够在承载背面(外面)上和/或在滑动(内)面上进行。接着检测轴承壳体中在预定载荷下的径向形状变化。取消测量凹部降低了测量器械的成本。能够实现小于0. 75s的测量循环时间并且由此相对于上述的现有技术使测量循环时间减半。因此，在产生凸出量之后，在生产中马上能够(借助于成型，循环时间约0.8s)使用该测试步骤。测量时所需要的力比通过使用测量凹部的上述方法小2-10 个因子。测试机械能够相应地设计得较小和更为经济。测试力优选地根据时间受控的力序列来施加和/或变形的时间序列被测量以提高凸出量确定的精度。优选地，待确定的凸出量基于形状变化模型建立。然后，能够通过与形状变化模型的对比或者通过根据形状变化模型的计算来确定凸出量。形状变化模型能够例如是理论模型，通过该模型能够使用变形特性计算凸出量。 轴承壳体的实际形状变化行为除依赖于材料特性值之外，还依赖于滑动轴承的拓扑结构和其他参数，并且特别地依赖于凸出量。为此，该凸出量能够基于形状变化行为来计算。在分析模型之外，形状变化模型能够基于一系列主壳体通过经验确定、或者根据生产部件的比较测量适当地确定、或者根据所述不同模型的组合来确定。确定轴承壳体的凸出量的适当的模型必须能够主要地通过跟随给定或检测的力(在有效的静载荷或动载荷作用下)而改变的可测量的形状、充分且明确地在实际发生的参数范围内描述凸出量。分析模型优选地考虑到轴承壳体形状(直径、带厚度、宽度、孔、槽、凸轮、展宽、倾斜位置、背面瑕疵)、轴承壳体材料(背面，滑动面)和其在生产过程中的现有技术处理的影响。在考虑经验数据用于凸出量的限定性确定的情况中，根据所依据的模型，可以需要通过测量各个轴承壳体或者基于对一批轴承壳体的随机取样确定待检测轴承壳体的不只与形状变化模型相关的其它参数。该类型的测量值能够是展宽、倾斜位置、分离面的形状、背面的形状、表面粗糙度、 弹性模量、硬度、壁厚、轴承壳体宽度。优选地，一个或更多个测试力被直接施加到一个或更多个承载点或者一个或更多个承载点被移位。测试力的施加或者对于轴承壳体的位移的路径的控制能够用以使轴承壳体变形，以根据变形确定凸出量。替代地，通过可移位的安装点，能够设定轴承壳体的起始构造，测试力施加到该轴承壳体。优选地，一个或更多个承载点在轴承壳体的坐标系中在径向上移位。以此，优选地在将测试力施加到轴承壳体之前消除轴承壳体的展宽。优选地，测试力的施加涉及将测试力施加到轴承壳体的顶点以实现简单且可再现5的方法。优选地，一个或更多个测试力被施加到轴承壳体的区域上，从而确保了轴承壳体的弹性变形。在优选实施方式中，对于轴承壳体的形状变化的测量在所述轴承壳体的背面上的相对于各个的分离面近似30°的点处的两个测量点处以非接触的方式进行。由此，通过在两个测量点处求平均，能够补偿轴承壳体例如由于孔、凸轮等的原因产生的非对称构造，并且能够改进凸出量测量的精度。优选地，在施加测试力之前，在待执行的其他方法步骤中，进行基准测量，该基准测量用于在所述变形过程中确定一个或更多个测试点的位移差。这保证了测量的变形与即将被测量的轴承壳体关联，以提高确定凸起量的准确性。优选地，通过分离面处的侧向约束力抵消轴承壳体的展宽，从而能够提高凸出量测量的精度和可再现性。优选地，为此，待测量的轴承壳体在两个分离面处被夹持。对于方法的上述说明包含能够转移到用于执行凸出量确定的装置的特征。特别地，适用于执行上述方法的装置包括夹持装置，适于在一个或更多个承载点或区域处夹持轴承壳体，和一个或更多个变形装置，适于将一个或更多个测试力施加到轴承壳体的至少一个点或区域，和一个或更多个测量装置，其能够在一个或更多个测试力通过变形装置被施加到轴承壳体的至少一个点从而使得轴承壳体在径向上弹性地变形时，在一个或更多个点、区域或部分处测量轴承壳体的径向变形；和用于确定凸出量的装置，本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种确定轴承壳体（１）的凸起量的方法，所述方法包括如下步骤：ａ）在多个承载点处夹持所述轴承壳体（１）；ｂ）向所述轴承壳体（１）的至少一个点施加一个或更多个测试力（Ｆ，ｘ），使所述轴承壳体（１）径向弹性变形；ｃ）在轴承壳体（１）的一个或更多个测量点处测量轴承壳体的径向变形；ｄ）根据所测量的变形确定所述凸起量（ＳＮ）。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：安德烈·哈勒，托马斯·格鲁特波尔，
申请(专利权)人：联合莫古尔威斯巴登有限公司，
类型：发明
国别省市：DE
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