光电位置测量装置和光电位置测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及具有代码承载体（１）的光电位置测量装置，代码承载体（１）承载至少一个光学记录位置代码（２）并由来自辐射源（３１）的光学辐射照射。光学辐射的至少一部分由至少一个记录元件（３２）记录，由此可以生成取决于位置代码（２）的信号，并且因此可以记录代码承载体（１）相对于记录元件（３２）的位置，其中代码承载体能够以一定自由度相对于记录元件（３２）移动，具体地为旋转或平移。辐射源（３１）和代码承载体（１）设置并设计为使得光学辐射耦合到代码承载体（１）中，并且至少部分地在位于代码承载体（１）的延伸水平中的所述代码承载体（１）的内部中的光束路径中被引导，具体地引导到位置代码（２）。在去耦合区中发生光学辐射的去耦合，使得通过大致均质的强度分布来照射记录元件（３２）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本专利技术涉及如在权利要求1前序部分中所要求保护的光电位置测量装置，并涉及如在权利要求14前序部分中所要求保护的光电位置测量方法。在诸如大地测量和工业测量的许多应用领域中，需要确定方向、角度和长度作为位置。根据当前技术状态，角度测量技术中的发展已经导致经由机械读取操作实现全自动角度测量。已知的自动位置测量装置一般包括代码承载体和扫描装置。在角度测量装置中， 代码承载体通常设计为围绕轴相对于扫描装置旋转，在该情况下，代码承载体的角度位置构成待测量的变量。代码承载体例如可以具有用于确定位置的刻度或编码，可以将编码应用于代码承载体的表面或侧面。为了自动检测位置的目的，通过不同技术扫描能够相对于扫描装置移动的代码承载体。已知的扫描方法是电磁、电子和光电方法。下面的陈述涉及光电扫描方法和特别是具有照射装置和检测器的扫描装置。编码通常以完整的圆设置，以确定例如从0°到360°的角位置。通过编码类型和用于读取编码的扫描装置确定完整的圆的角分辨率。因而，例如，通过在多个轨道中应用代码或通过更细微的刻度来增加角分辨率，可实现的分辨率由于制造和成本的原因而受到限制。例如，一个或更多个检测器的结构是已知的，本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种光电位置测量装置，该光电位置测量装置具有：·代码承载体（１，１ａ－ｉ，１Ａ－Ｇ），所述代码承载体（１，１ａ－ｉ，１Ａ－Ｇ）具有至少一个光学可检测的位置代码（２，２′）；·辐射源（３１），所述辐射源（３１）用于发射光学辐射，具体地为ＬＥＤ或激光二极管；和·具有传感器点的至少一个检测元件（３２），所述至少一个检测元件（３２）用于接收所述光学辐射的至少一部分，具体地为线传感器或二维传感器，其结果是能够生成依赖于所述位置代码（２，２′）的信号，并且因此能够检测所述代码承载体（′），并且通过在去耦合区中去耦合而被引导到所述检测元件（３２）上，其特征在于，执行所述光学辐射的去耦合，使得按照大致均质...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：海因茨·利普纳，
申请(专利权)人：莱卡地球系统公开股份有限公司，
类型：发明
国别省市：CH