一种叠层片式压敏电阻排用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公告了一种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，夹具放置在控制台上，且与参数测试仪连接，其特征在于：夹具设有包括导电测试针的夹具PCB和夹具定位板，夹具与参数测试仪连接是夹具PCB的导电测试针的针帽端与参数测试仪连接，导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触。夹具定位板是设有机械定位探头的定位板。本实用新型专利技术装置结构简单，操作方便，且信息反馈简单直观，测试数据直接显示在PC系统显示器上，适用于测试叠层片式压敏电阻排的各项电性参数并进行判定，利于对叠层片式压敏电阻排进行分选。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试装置，特别是涉及一种叠层片式压敏电阻排用测试装置及其测试方法。
技术介绍
在同一印刷电路板(Printed Circuit Board，缩略词为PCB)线路采用多个片式压敏电阻时，常常占用过多线路面积，导致电路复杂化，带来电路设计、维护方面的隐患。而片式压敏电阻排作为一种新型压敏元件，能够在同一单体上集成多个压敏电阻并且每个压敏电阻与表层电阻层构成RC回路，不仅缩小产品体积的优势，还具有压敏电阻的防护静电放电(Electrc^tatic Discharge，缩略词为ESD)和电磁干扰 (Electromagnetidnterference，缩略词为EMI)的效果，正在应用于多功能化、微型化的通信、消费类电子产品上。片式压敏电阻排结构复杂，测试参数多，至今尚未见有叠层片式压敏电阻排用测试装置的相关报道。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种叠层片式压敏电阻排用测试装置。本技术的技术问题通过以下技术方案予以解决。这种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，所述夹具放置在所述控制台上，且与所述参数测试仪连接。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，所述夹具放置在所述控制台上，且与所述参数测试仪连接，其特征在于：所述夹具设有包括导电测试针的夹具印刷电路板ＰＣＢ和夹具定位板，所述夹具与所述参数测试仪连接是所述夹具ＰＣＢ的导电测试针的针帽端与所述参数测试仪连接，所述导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触；所述夹具定位板是设有机械定位探头的定位板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：成学军，贾广平，邵庆云，师习恩，
申请(专利权)人：深圳顺络电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94