一种基于LED的光学尺寸测量系统技术方案

一种基于LED的光学尺寸测量系统，包括信号发射装置和信号接收装置，所述信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；所述信号发射装置包括发射支架、挡光板、若干LED光源以及若干聚光棱镜组，所述信号接收装置包括接收支架、若干接收器、控制分析电路以及显示器。本实用新型专利技术结构简单、抗干扰能力强、成本低、寿命长，采用LED光源作为发光元件并结合聚光棱镜技术，取代了激光器，大幅度降低了测量系统的硬件成本。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学尺寸测量系统，具体涉及一种基于LED的光学尺寸测量系统。
技术介绍
在现有技术中，光学测量系统通常采用平行线和激光束等来对被测物体进行扫描，检测与这些物体形状有关的光的投射或阻挡情况，然后用时钟脉冲计数器测量出用平行扫描光线在该物体相对端点间扫描一次需要的时间，测量系统的结构较复杂，硬件成本过高，使用寿命较短，应用范围较狭窄。
技术实现思路
有鉴于此，本技术所要解决的技术问题在于结合光学测量技术、光学聚光技术、数字电路技术和通信技术，提供一种结构简单、抗干扰能力强、成本低、寿命长的光学测量系统，更广泛应用于各行业的生产线上，实现高速、准确的在线监控和测量，提高生产线的生产效率，提升产品品质。本技术通过以下方案解决来解决上述技术问题一种基于LED的光学尺寸测量系统，包括信号发射装置和信号接收装置，所述信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；所述信号发射装置包括发射支架、挡光板、至少三个LED光源以及聚光棱镜组， 所述挡光板设置在发射支架与信号接收装置之间，所述LED光源设置在发射支架近挡光板的一面上，所述聚光棱镜组设置在LED光源与挡光板之间，所述挡光板上设有若干可通过光线的通孔，通孔正对应聚光棱镜组；所述信号接收装置包括接收支架、若干接收器、控制分析电路以及显示器，所述接收器设置在接收支架近信号发射装置的一面上，正对应挡光板上的通孔，所述控制分析电路与接收支架相连，所述显示器与控制分析电路相连。进一步地，所述LED光源在发射支架上均勻间隔分布。进一步地，所述LED光源设置为可见光或红外光。进一步地，所述聚光棱镜组设置为将散射光汇聚成平行光束的组件。进一步地，所述挡光板的通孔设置为直径0. 01 0. 5毫米的正圆形，圆心与对应的聚光棱镜组中心线重合。进一步地，所述接收器、控制分析电路和显示器相互电性连接。本技术结构简单、抗干扰能力强、成本低、寿命长，采用LED光源作为发光元件并结合聚光棱镜技术，取代了激光器，大幅度降低了测量系统的硬件成本。同时，本技术是一种非接触式在线测量装置，具有在线高速测量功能，可用于各种板材的纠偏和尺寸测量系统。附图说明图1为本技术一种基于LED的光学尺寸测量系统的一个实施例的截面结构示意图；图2为图1的使用状态示意图。具体实施方式以下参考附图及优选实施例进一步详细描述本技术的特点。如图1和图2所示，本实施例一种基于LED的光学尺寸测量系统包括信号发射装置A和信号接收装置B，信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；信号发射装置包括发射支架10、挡光板3、至少三个LED光源1以及聚光棱镜组2，挡光板设置在发射支架与信号接收装置之间，LED光源设置在发射支架近挡光板的一面上，聚光棱镜组设置在LED光源与挡光板之间，挡光板上设有若干可通过光线的通孔4，通孔正对应聚光棱镜组；信号接收装置包括接收支架11、若干接收器5、控制分析电路6以及显示器7，接收器设置在接收支架近信号发射装置的一面上，正对应挡光板上的通孔，控制分析电路与接收支架相连，显示器与控制分析电路相连。LED光源在发射支架上均勻间隔分布，LED光源设置为可见光或红外光，具体地， 在单位面积内，发射支架上设置的LED光源的数量越多，产生的光束的数量越多，系统的测量精度越高。具体地，将聚光棱镜组设置为汇聚散射光成平行光束的组件，只允许平行的光束通过，挡住散射光，从而减少散射光的干扰。将挡光板的通孔设置为直径0. 01 0. 5毫米的正圆形，圆心与对应的聚光棱镜组中心线重合，接收器、控制分析电路和显示器相互电性连接。工作状态下，LED光源发射出光线由聚光棱镜组汇聚为平行光束，经挡光板上的通孔穿出后，光束L向信号接收装置发射，具体地，可将待检测体C置于信号发射装置和信号接收装置间的中间位置，部分光束因被待检测体遮挡住而不能发射到对应的信号接收装置，通过控制分析电路来分析信号接收装置接收到的光束数量及位置，即可换算出待检测体的长度、宽度等尺寸，并由显示器显示出具体数值。本技术结构简单、抗干扰能力强、成本低，采用LED光源作为发光元件并结合聚光棱镜技术，大幅度降低了测量系统的硬件成本，延长了使用寿命，能实现高速、准确的在线监控和测量，提高生产线的生产效率，提升产品品质，更好地满足生产线板材、瓦楞纸幅宽、简述板材、印刷纸张以及纺织布料幅宽等测量需要。以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，包括信号发射装置和信号接收装置，所述信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；所述信号发射装置包括发射支架、挡光板、至少三个LED光源以及聚光棱镜组，所述挡光板设置在发射支架与信号接收装置之间，所述LED光源设置在发射支架近挡光板的一面上，所述聚光棱镜组设置在LED光源与挡光板之间，所述挡光板上设有若干可通过光线的通孔，通孔正对应聚光棱镜组；所述信号接收装置包括接收支架、若干接收器、控制分析电路以及显示器，所述接收器设置在接收支架近信号发射装置的一面上，正对应挡光板上的通孔，所述控制分析电路与接收支架相连，所述显示器与控制分析电路相连。2.根据权利要求1所述的一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，所述LED光源在发射支架上均勻间隔分布。3.根据权利要求1所述的一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，所述LED光源设置为可见光或红外光。4.根据权利要求1所述的一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，所述聚光棱镜组设置为将散射光汇聚成平行光束的组件。5.根据权利要求1所述的一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，所述挡光板的通孔设置为直径0. 01 0. 5毫米的正圆形，圆心与对应的聚光棱镜组中心线重合。6.根据权利要求1所述的一种基于LED的光学尺寸测量系统，其特征在于，所述接收器、控制分析电路和显示器相互电性连接。专利摘要一种基于LED的光学尺寸测量系统，包括信号发射装置和信号接收装置，所述信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；所述信号发射装置包括发射支架、挡光板、若干LED光源以及若干聚光棱镜组，所述信号接收装置包括接收支架、若干接收器、控制分析电路以及显示器。本技术结构简单、抗干扰能力强、成本低、寿命长，采用LED光源作为发光元件并结合聚光棱镜技术，取代了激光器，大幅度降低了测量系统的硬件成本。文档编号G01B11/00GK202066478SQ20112017188公开日2011年12月7日 申请日期2011年5月26日 优先权日2011年5月26日专利技术者涂刚峰 申请人:涂刚峰本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种基于ＬＥＤ的光学尺寸测量系统，其特征在于，包括信号发射装置和信号接收装置，所述信号发射装置和信号接收装置之间形成平行间隔；所述信号发射装置包括发射支架、挡光板、至少三个ＬＥＤ光源以及聚光棱镜组，所述挡光板设置在发射支架与信号接收装置之间，所述ＬＥＤ光源设置在发射支架近挡光板的一面上，所述聚光棱镜组设置在ＬＥＤ光源与挡光板之间，所述挡光板上设有若干可通过光线的通孔，通孔正对应聚光棱镜组；所述信号接收装置包括接收支架、若干接收器、控制分析电路以及显示器，所述接收器设置在接收支架近信号发射装置的一面上，正对应挡光板上的通孔，所述控制分析电路与接收支架相连，所述显示器与控制分析电路相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：涂刚峰，
申请(专利权)人：涂刚峰，
类型：实用新型
国别省市：44