组织材质测定装置及组织材质测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种组织材质测定装置及组织材质测定方法，通过除去被测材料的表面附着的氧化膜，来确实地实施无损结晶粒径测量。为此在测定时，首先，向从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置，从表面除去装置照射激光，除去轧制产品的另一侧表面的氧化膜。除去了轧制产品的另一侧表面的氧化膜后，从超声波振荡器对轧制产品的一侧表面照射激光，使得在轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡。然后，通过从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光，并利用超声波检测器接收来自轧制产品的另一侧表面的反射光，从而检测在轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡，根据超声波检测器的检测结果，算出轧制产品的结晶粒径。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通过测量材料内产生的超声波振荡来评价该材料的，特别涉及采用超声波振荡测量的金属材料的组织材质测定。
技术介绍
钢铁材料的组织材质中具有被称为机械性质的强度和延展性，这些机械性质一般通过拉伸试验等各种试验来测量。另外，由于这些钢铁材料的机械性质与结晶粒径等金属组织有关，因此也可以通过掌握结晶粒径等金属组织来计算出上述机械性质。但是，在以往的上述各种试验和结晶粒径测量中，需要有试片切制、研磨、显微镜观察等多个工序，而各个工序中需要花费大量的工夫和时间。因此，迫切希望预先无损地测量结晶粒径，最近提出了使用超声波振荡的方法作为一种无损地进行结晶粒径测量的方法。另外，作为无损地进行结晶粒径测量的已有技术，提出了如下方案即从Nd-YAG 激光器等超声波振荡器对被测材料的一侧表面照射脉冲激光，使被测材料的另一侧表面发生振荡位移，同时利用零差干涉仪等超声波检测器检测在上述被测材料的另一侧表面产生的振荡位移(例如参照专利文献1)。另外，图10是表示以往的组织材质测定装置的构成图，表示上述已有技术。专利文献1 日本专利第3184368号公报
技术实现思路
专利文献1记载的内容中并没有设定各种本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种组织材质测定系统，其特征在于，包括：组织材质测定装置（２７），设在轧制线上，非接触地测定经过所述轧制线的轧制产品的组织材质信息；组织材质信息采集装置（２８），采集由所述组织材质测定装置（２７）测定的组织材质信息；工艺流程数据采集装置（３１），采集所述轧制线的工艺流程数据；组织材质信息预测装置（３２），基于由所述工艺流程数据采集装置（３１）采集的工艺流程数据，根据预定的组织材质预测模型，算出所述轧制产品的组织材质信息；以及组织材质信息比较装置（３３），对由所述组织材质信息采集装置（２８）采集的组织材质信息、与由所述组织材质信息预测装置（３２）算出的组织材质信息进行比较。

【技术特征摘要】
2006.06.20 JP PCT/JP2006/3122711.一种组织材质测定系统，其特征在于，包括组织材质测定装置07)，设在轧制线上，非接触地测定经过所述轧制线的轧制产品的组织材质信息；组织材质信息采集装置( )，采集由所述组织材质测定装置(XT)测定的组织材质信息；工艺流程数据采集装置(31)，采集所述轧制线的工艺流程数据； 组织材质信息预测装置(32)，基于由所述工艺流程数据采集装置(31)采集的工艺流程数据，根据预定的组织材质预测模型，算出所述轧制产品的组织材质信息；以及组织材质信息比较装置(33)，对由所述组织材质信息采集装置08)采集的组织材质信息、与由所述组织材质信息预测装置(32)算出的组织材质信息进行比较。2.如权利要求1所述的组织材质测定系统，其特征在于，所述组织材质信息预测装置(32)基于所述组织材质信息比较装置(33)的比较结果， 对所述组织材质预测模型进行调整。3.如权利要求1或2所述的组织材质测定系统，其特征在于，还包括第二组织材质信息比较装置( )，对由所述组织材质信息采集装置08)采集的组织材质信息、与所述轧制产品的组织材质信息的实测值进行比较。4.如权利要求3所述的组织材质测定系统，其特征在于，所述组织材质测定装置(XT)根据预定...

【专利技术属性】
技术研发人员：小原一浩，佐野光彦，今成宏幸，告野昌史，北乡和寿，
申请(专利权)人：东芝三菱电机产业系统株式会社，
类型：发明
国别省市：JP