一种光学成像器件结构制造技术

技术编号:6867145 阅读:209 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种光学成像器件结构,该结构是由多个结构完全相同的成像器件构成的成像阵列,该多个成像器件被分为若干组,每一组中的成像器件具有相同的数目和相同的排列结构,且每组成像器件均包括一个参考单元和至少一个成像单元,该参考单元和成像单元是结构完全相同的成像器件,每组成像器件中的参考单元和成像单元相距近,工艺偏差小,在执行复位、成像、读取操作时受到的共模干扰相同。本发明专利技术通过略微增加光学传感器内部成像器件的面积,避免了工艺失配、复位、成像和读取操作引入的共模噪声和非线性影响,获得了更加接近实际的光学信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学传感器
,尤其涉及一种光学传感器内部成像器件结构。
技术介绍
光学传感器技术已经广泛应用于现代科技、国防和工农业等领域。其主要采用感光元件将探测到的光波信号转换成相应的电学信号,以供后继信号处理系统进行识别、处理。图1(a)所示为光学传感器内部单个成像器件结构示意图。每个成像器件包括控制栅极(Control Gate)CG、浮动栅极(Floating Gate)TO、源极S、漏极D与P型掺杂衬底 B,而衬底Β和浮动栅极re,以及浮动栅极re和控制栅极CG之间都采用氧化层隔离。图1(b)所示为第一种对单个成像器件进行成像操作的示意图。当成像器件受到光波辐射时,其衬底中将产生光电子,而光电子的数目与光辐射强度成正比。若在光波辐射成像器件前,将成像器件的源极S、漏极D以及衬底B接到参考电势Vref,将成像器件的控制栅极CG接相对于参考电势为VP的高频脉冲,成像器件衬底将进入深耗尽状态,在纵向电场的作用下,部分光电子会发生FN隧穿,到达浮动栅极re中,而发生隧穿的电子数量和光电子的数量成比例,也就和光波辐射强度成比例。根据以上原理就能将光波信号转换为电学信号存储在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学成像器件结构,其特征在于,该结构是由多个结构完全相同的成像器件构成的成像阵列,该多个成像器件被分为若干组,每一组中的成像器件具有相同的数目和相同的排列结构,且每组成像器件均包括一个参考单元和至少一个成像单元,该参考单元和成像单元是结构完全相同的成像器件,每组成像器件中的参考单元和成像单元相距近,工艺偏差小,在执行复位、成像、读取操作时受到的共模干扰相同。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冀永辉丁川刘明王琴龙世兵闫锋
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:11

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