一种冲击测试装置，其包括支撑件、一端设置于该支撑件上的悬臂及设置于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端的固定组件，该固定组件用于固定样品。本发明专利技术还提供一种使用该冲击测试装置的冲击测试方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
为保证产品搬运过程及使用过程中的抗摔性能及承受冲击的性能，产品在出厂前需进行冲击试验。即通过有限次的冲击测试，对样品受冲击过程中冲击强度及冲击时间进行记录，并对冲击瞬间产品受到的冲击产生的冲击波形曲线进行分析，以便分析产品的失效原因。另外，该冲击产生的冲击波形曲线还能给研发过程提供更好的测试数据，对改善产品的抗冲击性能起到关键作用。随着电子行业的发展，越来越多的产品往轻薄短小的方向发展，产品的重量随之越来越轻，且性能要求越来越严格。然而，因产品的轻薄短小化，利用一般测试机台对产品进行冲击试验时，产品受到冲击时产生冲击波的持续时间仅为几毫秒。在冲击试验中，冲击瞬间的冲击强度可通过增大机台高度得以有效提高，然冲击作用的持续时间主要取决于测试机台的缓冲材料的材料性能，且因特定材料的缓冲特性会局限于一定范围内，故无法通过改善材料性能来显著延长冲击作用的持续时间。
技术实现思路
鉴于上述情况，有必要提供一种便于提高冲击测试性能的冲击测试装置及采用该冲击测试装置的冲击测试方法。一种冲击测试装置，其包括支撑件、一端设置于该支撑件上的悬臂及设置于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端的固定组件，该固定组件用于固定样品。一种冲击测试方法，包括以下步骤提供一种冲击测试装置，其包括支撑件、设置于该支撑件上的悬臂及设置于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端的固定组件；将样品通过固定组件固定于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端并于该样品上固定传感器；使该冲击测试装置及固定于其上的样品受到冲击，并记录传感器测量到的样品受到冲击瞬间的振动曲线。使用该对样品进行冲击测试时，通过悬臂的缓冲延迟作用，可使传递至样品的冲击的持续时间延长，便于提高进行冲击测试的机台的测试性能。附图说明图1为本专利技术实施方式的冲击测试装置及样品的组装图。图2为图1中冲击测试装置及样品的零件分解图。图3为本专利技术的应用冲击测试装置的冲击测试方法的流程图。图4为本专利技术的应用冲击测试装置测试所得的曲线图。主要元件符号说明3冲击测试装置100支撑件10悬臂30固定组件50自由端31固接部33固持件51调节件53固定件55连接孔511螺杆531螺母533固定孔551样品200固定架本体201连接臂20具体实施例方式下面将结合附图及具体实施方式对本专利技术的作进一步详细说明。该冲击测试装置可用于测试硬盘固定架、光驱等，以下以测试硬盘固定架为例进行说明。请参阅图1与图2，一种冲击测试装置100包括支撑件10、设置于该支撑件10上的悬臂30及设置于该悬臂30上的固定组件50。支撑件10为螺杆，其一端固定于冲击试验台上或一基座上。当然，该支撑件10也可为一个座体结构，而将悬臂30的一端固定于座体结构的支撑件10上。悬臂30具有自由端31及多个固接部33。本实施方式中，悬臂30为杆状结构，其固接部33为开设于悬臂30上的螺纹孔。当然，固接部33也可为从悬臂30上凸伸形成的凸柱，悬臂30通过凸柱结构的固接部33固定于座体结构的支撑件10上。且悬臂30也可为板状结构。固定组件50包括固持件51、调节件53及固定件55。本实施方式中，固持件51为杆状结构，其上开设多个连接孔511。调节件53数目为两个，每一调节件53包括螺杆531 及与螺杆531相配合的螺母533。固定件55与固持件51的结构基本相同，其上开设有多个与固持件51上的连接孔511对应的固定孔551。可以理解，固持件51及固定件55也可为板状结构；调节件53也可为一个、三个、四个等其它数目。组装时，悬臂30通过固接部33套设于支撑件10上并通过螺母或销钉等卡固结构 (图未示)相对支撑件10固定。固定组件50的固定件55固定于悬臂30的一侧并邻近悬臂30的自由端31，调节件53的螺杆531穿过固定件55上的固定孔551并与该固定件55 锁紧。从悬臂30的另一侧将固持件51套设于调节件53的螺杆531上，并将螺母533从固持件51远离固定件55的一侧套至螺杆531上。可以理解，固定组件50也可为固定于悬臂 30上并邻近悬臂30的自由端31的夹子。样品200为硬盘固定架，其包括固定架本体201及连接臂203。请同时参阅图3及图4，当对样品200进行冲击测试时，包括以下步骤S301 提供前述的冲击测试装置100。S302 将样品200通过固定组件50固定于悬臂30上邻近悬臂30的自由端31处并于样品200上固定传感器(图未示)。将样品200的连接臂203插入固持件51与悬臂 30之间，通过调节件53的螺母533使固持件51与悬臂30将样品200的连接臂203夹紧。S303 使该冲击测试装置100及固定于其上的样品200—同从设定高度跌落，以便受到预定的冲击，并记录传感器测量到的样品200受到冲击瞬间的振动曲线。冲击测试过程中，将该冲击测试装置100连同固定于其上的样品200放置于冲击测试机台(图未示) 上并沿设定高度落下。在落下瞬间，支撑件10受到冲击，该冲击经悬臂30传递至样品200， 进而使样品200也受到一定冲击。进行冲击测试前，其所设定的高度为使冲击测试装置100 的支撑件10受到冲击瞬间的冲击强度为25g，因受冲击而产生的冲击波持续时间为30毫秒(ms)，其中g为重力加速度常量9. 8米每平方秒(m/s2)。图4中的虚线波形为支撑件10 受到冲击所产生的冲击波形，而实线波形则为样品200受到冲击所产生的冲击波形。因环境及设备等因素的影响，实际冲击试验过程中支撑件10受到的冲击强度为25. 06g，持续时间为30. 50ms,即图4中A、B 二点之间的波段的持续时间。传递至样品200的冲击强度为 21. 75g，持续时间为54ms,即图4中C、D之间波段的持续时间，持续时间延长77%。因仅C、 D之间的波段为冲击瞬间主要产生的波形，故之后的振荡波形不予考虑。该冲击测试中，因样品200固定于冲击测试装置100的悬臂30上邻近自由端31 的部位，使冲击从支撑件10传递至样品200时发生一定延迟，且冲击波的持续时间拉长，进而有效地延长了样品200受到冲击后所产生的冲击波形的持续时间，提高了进行冲击测试的机台的测试性能，且为后续研发等过程提供可靠的分析数据。该冲击测试装置100中悬臂30上设置多个固接部33，通过支撑件10与悬臂30上不同的固接部33相配合，以调节传递至固定组件50处的大小，进而调节样品200所受到的冲击的持续时间。该调节结构简单，且便于操作。固定组件50中通过螺母533与螺杆531的不同部位相螺合，可夹持不同尺寸的样品200。通过螺杆531穿过固定件55上不同的固定孔551及固持件51上不同的连接孔511以调节对样品200的夹持力。 另外，本领域技术人员还可在本专利技术精神内做其它变化，当然，这些依据本专利技术精神所做的变化，都应包含在本专利技术所要求保护的范围内。权利要求1.一种冲击测试装置，其包括支撑件，其特征在于该冲击测试装置还包括一端设置于该支撑件上的悬臂及设置于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端的固定组件，该固定组件用于固定样品。2.如权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于该固定组件包括固持件及调节件， 该固持件与该悬臂之间的距离通过该调节件进行调节。3.如权利要求2所述的冲击测试装置，其特征在于该调节件的本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种冲击测试装置，其包括支撑件，其特征在于：该冲击测试装置还包括一端设置于该支撑件上的悬臂及设置于该悬臂上并邻近该悬臂的自由端的固定组件，该固定组件用于固定样品。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋宗勋，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94
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