一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄、第一塞片和第二塞片，特点是第一塞片和第二塞片固定设置在手柄的同一端上，第二塞片固定叠加在第一塞片上；优点是由于第一塞片和第二塞片固定设置在手柄的同一端上，在用本塞规来检测衔铁超行程时，只要先将第一塞片超出第二塞片的部分插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程中的下限值，然后再进一步插入塞片，使第一塞片和第二塞片同时插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程的上限值即可，避免了传统塞规需要旋转180℃后再检测的麻烦，提高了检测工序的工作效率，同时使用起来也比较方便。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种继电器的检测工具，尤其是涉及一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规。
技术介绍
为保证电磁继电器的使用效果，一般需要对电磁继电器的一些参数进行检测，而触点超行程就是其中重要的一项参数指标。IEC 61810-7 :2006标准对触点超行程的定义是从动触点与静触点接触起到衔铁完全吸合，动静触点共同移动的距离。为了保证电磁继电器实现可靠的功能，电磁继电器在设计时都设计了超行程，超行程不够会造成触点的接触不良，超行程过大或过小，都会直接影响电磁继电器的可靠性。因此，检测电磁继电器的触点超行程是否符合要求就成为电磁继电器制造与应用中非常重要的一项参数指标，而触点超行程主要靠衔铁超行程来保证。目前通常是采用塞规来检测衔铁超行程，具体方法是先将产品放到夹具上，对电磁继电器的线圈施加激励电压，检查触点的通断情况，如果触点通断情况正常，再将塞规插到衔铁与铁芯之间，再看触点的通断情况，以此来判断电磁继电器的衔铁超行程是否符合设计要求。但是用目前的塞规来检测衔铁超行程时，先用塞规的一端检测衔铁超行程其中的一个限值，然后需要将塞规旋转180°C后用另一端检测衔铁超行程的另一个限值，使用比较麻烦，也降低了检测工序的工作效率。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种可提高检测工序的工作效率的用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规。本技术解决上述技术问题所采用的技术方案为一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄、第一塞片和第二塞片，所述的第一塞片和所述的第二塞片固定设置在所述的手柄的同一端上，所述的第二塞片固定叠加在所述的第一塞片上。所述的第一塞片的长度大于所述的第二塞片的长度。所述的第一塞片和所述的第二塞片的至少一个中设置有向边缘外凸出的台阶，用于在检测衔铁超行程中的下限值时定位，以方便检测。所述的第一塞片的宽度大于所述的第二塞片的宽度。所述的第一塞片的长度大于所述的第二塞片的长度。与现有技术相比，本技术的优点是由于第一塞片和第二塞片固定设置在手柄的同一端上，在用本塞规来检测衔铁超行程时，只要先将第一塞片超出第二塞片的部分插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程中的下限值，然后再进一步插入塞片，使第一塞片和第二塞片同时插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程的上限值即可，避免了传统塞规需要旋转180°C后再检测的麻烦，提高了检测工序的工作效率，同时使用起来也比较方便。附图说明图1为本技术实施例一的主视图；图2为图1的俯视图；图3为本技术实施例一的第一塞片的结构示意图；图4为本技术实施例一的第二塞片的结构示意图；图5为本技术实施例二的结构示意图；图6为本技术实施例二的第一塞片的结构示意图；图7为本技术实施例二的第二塞片的结构示意图；图8为本技术实施例三的结构示意图；图9为本技术实施例三的第一塞片的结构示意图；图10为本技术实施例三的第二塞片的结构示意图。具体实施方式以下结合附图实施例对本技术作进一步详细描述。实施例一如图所示，一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄3、 第一塞片1和第二塞片2，第一塞片1的长度大于第二塞片2的长度且两者同时固定设置在手柄3的同一端上，第二塞片2固定叠加在第一塞片1上，第一塞片1和第二塞片2上同时设置有向边缘外凸出的且相互重合的台阶4。实施例二 如图所示，一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄3、 第一塞片1和第二塞片2，第一塞片1的长度大于第二塞片2的长度且两者同时固定设置在手柄3的同一端上，第二塞片2固定叠加在第一塞片1上。实施例三如图所示，一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄3、 第一塞片1和第二塞片2，第一塞片1和第二塞片2同时固定设置在手柄3的同一端上，第二塞片2固定叠加在第一塞片1上，第一塞片1的宽度大于第二塞片2的宽度，且第一塞片 1的长度大于第二塞片2的长度。权利要求1.一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄、第一塞片和第二塞片，其特征在于所述的第一塞片和所述的第二塞片固定设置在所述的手柄的同一端上，所述的第二塞片固定叠加在所述的第一塞片上。2.如权利要求1所述的一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，其特征在于所述的第一塞片的长度大于所述的第二塞片的长度。3.如权利要求2所述的一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，其特征在于所述的第一塞片和所述的第二塞片的至少一个中设置有向边缘外凸出的台阶。4.如权利要求1所述的一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，其特征在于所述的第一塞片的宽度大于所述的第二塞片的宽度。5.如权利要求4所述的一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，其特征在于所述的第一塞片的长度大于所述的第二塞片的长度。专利摘要本技术公开了一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄、第一塞片和第二塞片，特点是第一塞片和第二塞片固定设置在手柄的同一端上，第二塞片固定叠加在第一塞片上；优点是由于第一塞片和第二塞片固定设置在手柄的同一端上，在用本塞规来检测衔铁超行程时，只要先将第一塞片超出第二塞片的部分插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程中的下限值，然后再进一步插入塞片，使第一塞片和第二塞片同时插到衔铁与铁芯之间，检测衔铁超行程的上限值即可，避免了传统塞规需要旋转180℃后再检测的麻烦，提高了检测工序的工作效率，同时使用起来也比较方便。文档编号G01B3/26GK202041140SQ20112008852公开日2011年11月16日 申请日期2011年3月30日 优先权日2011年3月30日专利技术者杨晓厦, 王水君 申请人:宁波福特继电器有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于检测电磁继电器衔铁超行程的塞规，包括手柄、第一塞片和第二塞片，其特征在于所述的第一塞片和所述的第二塞片固定设置在所述的手柄的同一端上，所述的第二塞片固定叠加在所述的第一塞片上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓厦，王水君，
申请(专利权)人：宁波福特继电器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：97