显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法技术方案

本发明专利技术公开一种显示器及其接合阻抗的检测系统，包括显示面板、至少一电路板、至少一驱动芯片以及测试板。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导线电性连接。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。测试板与电路板电性连接。特别是，测试板提供测试信号，且测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片的测试接点之后，测试信号在比较器中与参考信号比较，再由判断逻辑电路判断所述比较器的比较结果。本发明专利技术亦公开一种显示器的检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
一般来说，显示器除了显示面板之外，还包括了电路板以及驱动芯片以驱动显示 面板的影像显示。通常显示器在制作完成之后，都会进行一系列的检测程序以确认显示器 的显示质量是否符合标准。目前，对于显示面板与电路板之间的接合阻抗以及显示面板与驱动芯片之间的接 合阻抗的检测方式，是使用自动光学检测机台来进行。但是，自动光学检测机台仅能判断出 显示面板与电路板之间以及显示面板与驱动芯片之间的压合导电颗粒数量以及相对位置 是否正常。换言之，自动光学检测机台无法检测出显示面板与电路板之间以及显示面板与 驱动芯片之间实际的接合阻抗值是多少。另一种接合阻抗的检测方式是另外提供电压给显示面板上的两相邻的导线上以 判断是否有短路现象，进而确认是否有压合异常的情形。对于此种检测方法，若有压合缺陷 时通常会直接反应在点亮的显示面板上(例如有闪烁或过度耗电流等等)，但是并非所有 的压合缺陷都可以都能通过此种方法检测出来，因而经常造成遗漏筛选出不良品的情形。 而且上述方法也较为复杂且费时。
技术实现思路
本专利技术提供一种，其可以精确且快 速地检测出接合阻抗是否正常。本专利技术提出一种显示器的接合阻抗的检测系统，包括显示面板、至少一电路板、至 少一驱动芯片以及测试板。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显 示面板的测试导线以及连接导线电性连接。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接 点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电 性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。测试板与电路板电性连接。特别 是，测试板提供测试信号，且测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片的测试接点 之后，测试信号在比较器中与参考信号比较，再由判断逻辑电路判断所述比较器的比较结果。本专利技术另提出一种显示器的检测方法，此方法包括提供显示器，其包括显示面板、 与显示面板电性连接的至少一电路板及至少一驱动芯片以及与电路板电性连接的测试板， 且上述的显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。接着进行接合阻抗的测试程 序，所述程序包括由测试板提供测试信号，其中测试信号经电路板与测试导线而传递至驱 动芯片。将测试信号与参考信号进行比较。倘若测试信号大于参考信号时，则经连接导线 其中之一输出第一信号。倘若测试信号小于参考信号时，则经连接导线其中之一输出第二 信号。本专利技术再提出一种显示器，包括显示面板、至少一电路板以及至少一驱动芯片。显 示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导 线。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及 测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其 与比较器电性连接。基于上述，本专利技术在驱动芯片上设置测试接点并且设置对应的比较器以及判断逻 辑电路，通过比较器以及判断逻辑电路的输出信号来判断接合阻抗的良莠。因此本专利技术的 检测系统及检测方法相较于传统方法具有更精确判断接合阻抗良莠以及更快速完成检测 的优点。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图 作详细说明如下。附图说明 更详细而言，倘若判断逻辑电路308判断比较器306中的测试信号(电压值Vin) 大于参考信号(Vref)时，则判断逻辑电路308将所述比较结果则经连接导线110其中之一 输出第一信号(例如输出1)，其表示测试结果为正常。根据本实施例，上述的第一信号更输 出至测试板400。之后，便可通过与测试板400电性连接的微处理器(MCU)而快速的判读整 体的接合阻抗为正常。相反地，倘若判断逻辑电路308判断比较器306中的测试信号(电压值Vin)小于 参考信号(Vref)时，表示测试信号除了历经驱动芯片300与显示面板100之间的接合阻 抗(R3)、测试导线112的阻抗(R2)以及电路板200与显示面板100之间的接合阻抗(Rl) 之外，还历经了额外的阻抗(Rx)，所述额外的阻抗(Rx)可能是由驱动芯片300与显示面板 100之间的异常接合或/及电路板200与显示面板100之间的异常接合所计算出来的值。 因此，此时判断逻辑电路308将所述比较结果则经由连接导线110其中之一输出第二信号 (例如输出0)，其表示测试结果为异常。之后，便可通过与测试板400电性连接的微处理器 (MCU)而快速的判读整体的接合阻抗为异常。图4是根据本专利技术另一实施例的显示器的接合阻抗的检测系统的示意图。图4的 实施例与图1实施例相似，因此与图1相同的组件以相同符号表示，且不再重复赘述。图4 的实施例与图1的实施例不同之处在于本实施例在驱动芯片300除了设置有多个连接接点 302之外，还设置了三个测试接点304，所述三个测试接点304是分别设置在驱动芯片300 的左侧位置、中间位置以及右侧位置。而对应上述三个测试接点304下方的显示面板100 中也设置了三个测试导线112(测试接垫112b)。特别是，上述三个测试接点304与比较器 306电性连接。本专利技术可依照测试需求在驱动芯片300设置一或多个测试接点304，并且在 显示面板100中设置对应的一或多个测试导线112(测试接垫112b)，其设置位置可以依照 需求调整，并不需要特别限制。当在进行接合检测时，可以分别由测试板400对上述三个测试接点304输出测试 信号(电压值Vx)。之后，测试信号(Vin)在比较器306中会与参考信号Vref进行比较，之 后再由判断逻辑电路308判断上述比较器306的比较结果。本实施例在驱动芯片300的左侧位置、中间位置以及右侧位置设置三个测试接点 304，可以更进一步的检测出驱动芯片300与显示面板100之间的接合阻抗在不同位置是否 有异常。特别是，对于使用越大尺寸的驱动芯片300的显示器，此种设计对于测接合阻抗的 精确度越有帮助。另外，图4的实施例是以在驱动芯片300的左侧位置、中间位置以及右侧位置设置 三个测试接点304为例来说明，但本专利技术不限于此。根据其它实施例，亦可以在驱动芯片 300的左侧位置以及右侧位置设置二个测试接点304 ；或者是在驱动芯片300设置三个以上 的测试接点。再者，倘若在驱动芯片300设置多个测试接点304，则除了可设置一组共享的比较 器306与判断逻辑电路308之外，也可以对应每一个测试接点即设计一组比较器306与判 断逻辑电路308。图5是根据本专利技术一实施例的显示器的检测方法的流程图。请参照图5，在本实施 例中，显示器的检测方法包括先提供显示器(SlO)。所述显示器可以是液晶显示器、有机电 致发光显示器、电泳显示器、等离子显示器或是其它平面显示器。接着，进行点亮测试(步骤SU)。所述点亮测试是将显示器全点亮，以检视显示器 的整体画面是否有异常的点亮画面或缺陷。倘若在点亮测试(步骤SU)中发现有异常，则 此显示器则会被判定为不良品(步骤Si； )。上述不良品将视不良严重程度而作报废或者是重工。倘若在点亮测试(步骤S12)结果为正常，则将接着进行接合阻抗测试(步骤 S14)。在本实施例中，接合阻抗测试(步骤S14)可采用如图1所述的接合阻抗的检测系统 或者是采用如图4所示的接合阻抗的检测系统。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，包括：一显示面板，其具有至少一测试导线以及多条连接导线；至少一电路板，其与该显示面板的该测试导线以及这些连接导线电性连接；至少一驱动芯片，其包括：多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与该显示面板的这些连接导线以及该测试导线电性连接；至少一比较器，其与该测试接点电性连接；至少一判断逻辑电路，其与该比较器电性连接；以及一测试板，其与该电路板电性连接，其中该测试板提供一测试信号，该测试信号经该电路板与该测试导线而传递至该驱动芯片的该测试接点之后，该测试信号在该比较器中与一参考信号比较，再由该判断逻辑电路判断该比较器的一比较结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志明，林能毅，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71