记录条件的调整方法以及光盘装置制造方法及图纸

技术编号:6043449 阅读:244 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种记录条件的调整方法以及光盘装置。在约束长度为5以上的大容量光盘系统中,在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定,计算欧几里德距离时,对应PRML方式的约束长度的增大,电路规模按指数增大。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i,考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此,来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列,分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果,就可以削减评价累计电路的规模。

Recording condition adjusting method and optical disk device

The present invention provides a method for adjusting recording conditions and an optical disk device. In the constraint length of large capacity optical disc system more than 5, in the evaluation of the quality of the two signal regeneration value to judge the consistency of the evaluation of bit bit column and the specified column, calculating Euclidean distance, increasing the constraint length corresponding to the PRML mode, the circuit scale according to the number. The continuous number of the 2T contained in the set of evaluated bit columns is set to I, taking into consideration the main bit column of the evaluated bit column (5+2i), and the sub bit columns on both sides. The decision processing of whether the two valued bit column contains the specified evaluation bit column is summed up as the consistency judgment of the bit column. Thereby, the scale of the circuit is prevented from increasing. At the same time, the size of the accumulated circuit can be reduced by calculating the Euclidean distance of each of the main bit columns to separate the cumulative reproduction signal and the target signal corresponding to the evaluation bit column.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在记录介质上形成物理性质与其他部分不同的记录标记,向记录信息的光盘介质记录信息的记录条件的调整方法以及使用该方法的光盘装置。
技术介绍
作为光盘介质,具有CD-R/RW、DVD-RAN、DVD士R/RW、BD等多种类型,还包含具有两层数据层的介质也广泛地普及。作为对应的光盘装置,与⑶-R/RW、DVD-RAN、DVD士R/RW的记录/再生相对应的、所谓的DVD超级多功能驱动器(Super Multi Drive)已经普及。今后,考虑到与BD对应的高性能驱动器的普及,希望有更大容量的光盘面市。随着光盘的高速化以及高密度化,需要基于PRML(Partial ResponseMaximum Likelihood)再生方式的再生信号的二值化技术。作为PRML方式之一,具有对应再生信号使目标信号电平相适应地进行变化的自适应PRML或补偿PRML方式。根据非专利文献1 (电子信息通信学会论文志CJ90-C,PP. 519(2007)),表示了通过使用这样的PRML方式,来补偿再生信号的非对称性以及记录时的热干扰,由此在BD对应的装置中,可以实现相当于35GB 容量的高密度化。还表示了对应所使用的PRML方式的约束长度(表示等级的比特长度), 约束长度越长,高密度条件下的再生性能越高。在具备这样的PRML方式的光盘装置中,为了得到最佳的二值化结果,安装有使再生信号和PRML的目标信号的RMS成为最小的自动均衡器。一般,作为抽头系数可变的FIR(Finite Impulse Response)滤波器安装自动均衡器。当增加光盘的记录密度时,与光点的大小相比记录标记的大小变小,得到的再生信号的振幅也减小。光点的分辨率由波长λ和物镜的数值孔径NA决定,当最短游程的记录标记的长度成为λ/4ΝΑ以下时,该重复信号的振幅成为零。这是一般作为光学截止而被知晓的现象,在BD中λ /4ΝΑ 199nm。当在BD中使轨道间距恒定时,在想要实现大约31GB 以上的容量时,作为最短游程的2T的重复信号的振幅成为零。为了在这样的高密度条件下得到良好的再生性能,需要使用PRML方式。在记录型光盘中,使用强度调制为脉冲状的激光(以下称为记录脉冲)改变记录膜的晶体状态等,由此来记录希望的信息。作为记录膜使用相变材料或有机色素、某种合金或氧化物等,一般被人们广泛所知。在CD、DVD以及BD中使用的标记沿符号方式中,根据前后沿位置决定编码信息。在记录脉冲中,主要决定记录标记前沿的形成条件的第一脉冲、和主要决定记录标记后沿的形成条件的最后脉冲的位置以及宽度,对于良好地保持所记录的信息的品质,是重要的。因此,在记录型光盘中,一般使用对应记录标记的长度、以及先前或者后续的间隔的长度,自适应地改变第一脉冲和最后脉冲的位置或宽度的自适应性记录脉冲。在上述的高密度条件下,因为形成的记录标记细微化,所以与目前相比需要高精度地决定记录脉冲的照射条件(以下称为记录条件)。另一方面,光盘装置的光点的形状由于光源的波长、波面像差、聚焦条件、光盘的倾斜等而发生变化。此外,由于环境温度或老化,半导体激光器的阻抗或量子效率发生变化,所以记录脉冲的形状也变化。如此,一般把与针对每个个体、每个环境变动的光点的形状和记录脉冲的形状相对应地,用于始终得到最佳的记录条件的调整技术称为试写。随着记录密度的提高,基于试写的记录条件调整技术的重要度在不断提高。可以将记录条件的调整技术大致分为两个方法。一个是以比特错误率或字节错误率为指标的方法,另一个是使用抖动等统计性指标的方法。前者是关注对于所记录的数据以较小的概率产生的事项的方法,后者是关注所记录的数据的平均品质的方法。例如,当考虑可写型光盘时,在一边改变记录条件一边在多个部位记录再生数据时,关于前者的方法, 即使在最佳的记录条件下当在记录的部位出现了指纹时,比特错误率或字节错误率变大, 所以不能选择该方法。所谓最佳的记录条件应该使通过该最佳记录条件记录的数据的平均品质最佳,所以在像光盘那样不能避免介质缺陷、指纹、灰尘等的影响的存储系统中,可以说使用统计性指标的方法具有优势。作为对应PRML方式,统计性地评价所记录的数据的方法,具有Jpn. J. App 1. Phys. Vol. 43, pp. 4850 (2004)(非专利文献 2)、特开 2003-141823 号公报(专利文献 1)、 特开2005-346897号公报(专利文献2)、特开2005-196964号公报(专利文献3),特开 2004-253114号公报(专利文献4)以及特开2003-151219号公报(专利文献5)等中记载的技术。在专利文献1中公开了使用与最似然的状态迁移列对应的似然性Pa、和与第二似然的状态迁移列对应的似然性Pb,通过IPa-PbI的分布评价再生信号的品质的技术。在非专利文献2中,公开了以下的技术把根据再生信号得到的二值化比特列(对应于最似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离(对应于Pa)、以及关注的沿进行1比特位移后的二值化比特列(对应于第二似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离的差(对应于Pb)的绝对值,减去两个目标信号之间的欧几里德距离的值定义为 MLSE (Maxmum Likelihood Sequence Error),调整记录条件以便对于每个记录图形MLSE的分布的平均值成为零。在专利文献2中公开了以下的技术关注沿位移,使用在再生信号的沿部向左右位移的错误图形中包含虚拟的IT游程的图形,并且根据沿位移的方向求出带有符号的序列误差的差,由此来求出沿位移量,调整记录条件使其接近于零。将评价指标被称为 V-SEAT (Virtual state based Sequence Error for AdaptiveTarget)。在专利文献3以及专利文献4中,通过使用预先收纳了正确图形和对应的错误图形的组合的表,计算再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差,求出根据其平均值和标准偏差求出的推定比特错误率SbER (Simulatedbit Error Rate)。专利文献5公开了以下的技术根据再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差,分别求出关注的沿向左侧移动时的错误概率以及向右侧移动时的错误概率, 调整记录条件以使其变得相等。因此,可以使用规定的再生信号、与该再生信号的信号波形图形对应的第一图形、以及除了该第一图形之外使用与再生信号的信号波形图形对应的任意的图形(第二或第三图形)。首先,求出再生信号和第一图形之间的距离Eo、与再生信号和任意的图形之间的距离Ee之间的距离差D = Ee-Eo。然后,关于多个再生信号的样本,求出距离差D的分布。然后,根据求出的距离差D的平均M和求出的距离差D的分布的标准偏差σ之比,决定再生信号的品质评价参数(Μ/ο)。然后,根据由品质评价参数表示的评价值指标(Mgn),判断再生信号的品质。专利文献1特开2003-141823号公报 专利文献2特开2005-346897号公报专利文献3特开2005-196964号公报专利文献4特开2004-253114号公报专利文献5特开2003-151219号公报非专利文献1電子情報通信学会論文誌CVol. 本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种记录条件的调整方法,其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录,使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法,其特征在于,作为所述自适应均衡方式,抽头系数Cn是在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数,所述记录条件的调整方法具有以下的步骤:通过所述PRML方式对从所述光盘得到的再生信号波形进行二值化,得到第1二值化比特列;从所述第1二值化比特列中,作为使关注的沿向左右位移了1T后的比特列生成第2以及第3二值化比特列;生成与所述第1至第3二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形;计算第1值和第2值,第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差,第2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差;使用所述第1值和所述第2值的差分值计算所述关注的沿的位移评价值;以及使用所述位移评价值调整所述记录条件。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:峰邑浩行黑川贵弘
申请(专利权)人:日立民用电子株式会社
类型:发明
国别省市:JP

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