计算机(10)以发送信号(S22a)为基准,对使用校正用接收天线(60a)分别接收各散射体天线(50-n)单独放射的各电波时的各接收信号(S60a)的振幅和相位分别进行测定,根据分别测定的振幅来决定目标振幅并且根据分别测定的相位来决定目标相位。各衰减器(14a-n)的基准衰减量控制电压(VAa-n)被设定为用于分别使各测定的振幅与同一目标振幅一致的各衰减量控制电压,各移相器(13a-n)的基准移相量控制电压(VPa-n)被设定为用于分别使各测定的相位与同一目标相位一致的移相量控制电压。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于评价无线通信装置的天线性能的天线评价装置和使用了该天线 评价装置的天线评价方法。
技术介绍
以往,提出了在具有规定半径的圆周上等间隔地设置用于使散射体模型化的多个 发送天线(以下称为散射体天线),并在该散射体天线的各设置位置的中心附近生成空间 复用波的天线评价装置(例如,参照专利文件1和非专利文件1 4)。在这种天线评价装 置中,信号发生器所发生的发送信号被分配成数量与散射体天线相同的发送信号,分配后 的各发送信号分别经由移相器和衰减器从对应的散射体天线放射出去。此时,通过调整移 相器的各移相量和衰减器的各衰减量,在散射体天线的各设置位置的中心能够生成瑞利衰 落环境等规定的复用波传播状态。因此,在散射体天线的各设置位置的中心设置评价用接 收天线,根据该接收天线所接收的接收信号,能够评价衰落环境下的接收天线的性能。专利文件1日本特开2005-227213号公报专利文件2日本特许第3816499号公报非专利文件1坂田勉B力、「空間7工一夕> 夕'工S 二 l· 一夕(二 J易端末T > r f 実効性能評価」、松下歹夕二力 > 夕Y — f >、第52卷、第5号、70頁 75頁、2006年10月。非专利文件2坂田勉a力、「空間7工一夕 > 夕'工S 二 >一夕t二 J易MIMO y^ ^ >容量測定」、電子情報通信学会2007年y寸4工〒4大会講演输文集、 B-l-9,2007 年 9 月。非专利文件3:坂田勉B力、「角度7“ ”卜,A力、'設定可能&端末MIMO 7 ^r 少測定用空間多重波生成装置、電子情報通信学会技術研究報告、第108卷、第5号、13頁 18頁、2008年4月」。非专利文件4坂田勉B力、「多重波生成装置(二J 3複数夕,^夕一伝搬環境 下(二杉tt ^端末MIMO 7 ^rf測定用空間多重波生成装置伝送特性評 価」、電子情報通信学会技術研究報告、第108卷、第4 号、121頁 126頁、2009年4月。图32是用于说明以往技术所涉及的邻界校正法的框图。在图32中,信号源901 发生发送信号并从发送天线902向接收天线903发送,接收机904使用接收天线903接收 所发送的发送信号。使用邻界校正法进行校正时,校正用测定器907使用配置在发送天线 902附近的校正用元件、即探测器905来测定发送天线902附近的电磁场,计算来自发送天 线902的放射功率。信号源901根据所算出的放射功率来进行调整,使其放射规定放射功 率的电波。在将以往技术所涉及的邻界校正法应用于上述天线评价装置中的情况下,具有以 下课题。在上述天线评价装置中,改变分配后的各发送信号的相位和振幅,使得在散射体天 线的各设置位置的中心附近生成规定的复用波传播状态。因此,为了精度更好地生成衰落6环境,在从发生发送信号的信号源到连接有接收天线的接收机的整个系统中,有必要预先 进行接收信号的振幅和相位的校正。然而,当使用邻界校正法时,只能校正来自散射体天线 的放射功率,需要另外进行接收机侧的校正。另外,需要在多个散射体天线的附近依次配置 探测器905,或者在散射体天线的附近分别配置与散射体天线数量相同的探测器905,为了 校正,需要较多的时间或者多个探测器。另外,在上述天线评价装置中,需要对分配后的各 发送信号的相位准确地进行控制,使得在散射体天线的设置位置的中心附近生成规定的复 用波传播状态。然而,在以往技术所涉及的邻界校正法中,由于只使用探测器905所接收到 的电波的功率,所以无法校正从各散射体天线放射的电波的相位。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决以上问题点,其提供一种与以往技术相比能够容易且准 确地进行校正,以提高天线的评价精度的天线评价装置和使用了该天线评价装置的天线评 价方法。第1专利技术所涉及的天线评价装置具备散射体天线组,其包含设置在相互不同的 规定位置上的N多个散射体天线;信号发生单元,其发生规定的发送信号;发送单元,其将 所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分 配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发 送信号对应的所述各散射体天线放射出去;接收单元,其使用所述各位置的实质上配置在 中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接 收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及控制单元,其根据 所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,所述天线评价装置 的特征在于,所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波, 并执行如下校正根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替 所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅 一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发 送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,根据与实现规定的复用波传播状态时的 各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标 相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所 述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振 幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发 送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由 此来评价所述评价用接收天线的性能。在所述天线评价装置中,具备控制单元,该控制单元使用在校正时设置在所述各 位置的实质上的中心附近并相互隔开半波长的第1和第2校正用接收天线和在评价时代替 所述第1校正用接收天线而设置的第1评价用接收天线、代替所述第2校正用接收天线而 设置的第2评价用接收天线,来评价所述第1和第2评价用接收天线的性能,所述天线评 价装置的特征在于,其还具备振幅调整单元,其插入到所述第1评价用接收天线或所述第 1校正用接收天线与所述接收单元之间,使所述接收信号的振幅变化并输出给所述接收单 元;振幅相位调整单元,其使用所述第2评价用接收天线或所述第2校正用接收天线来接收其他接收信号,使其振幅和相位变化并输出;以及其他接收单元,其接收来自所述振幅相位 调整单元的其他接收信号,将所述发送信号作为基准来测定所述其他接收信号的振幅和相 位;所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,根据所述 各散射体天线单独放射的电波,控制所述接收单元和所述其他接收单元,使得对使用所述 第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正用接收天线分别测定 的其他接收信号的振幅的平均值进行测定,并控制所述振幅调整单元和所述振幅相位调整 单元,使得使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅和使用所述第2校正 用接收天线分别测定的其他接收信号的振幅的平均值相互一致,然后,控制所述接收单元 和所述其他接收单元,使得对使用所述第1校正用接收天线分别测定的接收信号的相位和 使用所述第2校正用接收天线分别测定的其他接收信号的相位的平均值进行测定,并本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种天线评价装置,其具备:散射体天线组,其包含设置在相互不同的规定位置上的N多个散射体天线;信号发生单元,其发生规定的发送信号;发送单元,其将所述发送信号分配成N多个发送信号,分别按照规定的振幅变化量和规定的移相量使该分配后的各发送信号的振幅和相位变化,并将所述各变化后的发送信号作为电波从与该各发送信号对应的所述各散射体天线放射出去;接收单元,其使用所述各位置的实质上配置在中心的评价用接收天线,将所述各散射体天线所放射的电波的复用波作为接收信号来接收,并将所述发送信号作为基准来测定所述接收信号的振幅和相位;以及控制单元,其根据所述测定的接收信号的振幅和相位对评价用接收天线的性能进行评价,所述天线评价装置的特征在于,所述控制单元,控制所述发送单元,使得从所述各散射体天线单独放射电波,并执行如下校正:根据所述各散射体天线单独放射的电波来控制所述发送单元,使得代替所述评价用接收天线而使用校正用接收天线分别测定的接收信号的振幅与同一目标振幅一致并且使分别测定的接收信号的相位与同一目标相位一致,并将所述各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量保存在存储装置中,根据与实现规定的复用波传播状态时的各散射体天线的发送信号的振幅和相位对应的、与所输入的目标振幅的振幅差值和与目标相位的相位差值,在所述保存的各散射体天线的发送单元的振幅变化量和移相量上加上所述振幅差值和所述相位差值,由此来运算在所述发送单元中应当设定的各散射体天线的振幅变化量和移相量,并在所述发送单元中进行设定,当从所述各散射体天线同时发送了发送信号时,由接收单元使用所述评价用接收天线来接收并测定接收信号的振幅和相位,由此来评价所述评价用接收天线的性能。...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:坂田勉,山本温,天利悟,
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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